触控板及其触控感测单元的感应量的补偿方法技术

本发明专利技术公开了一种触控板及其触控感测单元的感应量的补偿方法，触控板包括多个触控感测单元、多个抗扰斑块、感测器及处理器。每一个抗扰斑块设置在形成于两个相邻的触控感测单元之间的间隙区。感测器用以检测触控板的各触控感测单元的基本电容及所述基本电容的变化量。处理器依据固件的多个参数，将各触控感测单元的基本电容的变化量转换为各触控感测单元的感应量。当转换而得的各触控感测单元的感应量基本上呈非线性关系时，处理器调整上述多个参数中的至少一个参数，并依据调整后的固件的多个参数，再将各触控感测单元的基本电容的变化量转换为各触控感测单元的感应量，以使转换而得的各触控感测单元的感应量基本上呈线性关系。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种触控板及其触控感测单元的感应量的补偿方法，特别是涉及一种具有多个抗扰斑块的触控板及其触控感测单元的感应量的补偿方法。
技术介绍
触控板由于体积小、成本低、消耗功率低及使用寿命长，因此被广泛地应用在各类电子产品上，例如计算机、行动电话等等，以作为输入装置，而使用者仅需以手指或触控笔的导电性物件在面板上滑动或接触，使游标产生相对移动或绝对坐标移动，即可完成包括文字书写、卷动视窗及虚拟按键等各种输入。现有技术中的触控板的触控感测单元大多为对称型结构，例如图1所示的触控板10具有方形结构，触控板10的触控感测单元X0至X7及Y0至Y5形成线迹(trace)并具有相同的形状及面积，因此触控感测单元的基本电容在触控板上的分布是对称的，触控感测单元在触控板上造成感应量也是对称且线性相等的，如图2所示。然而，随着应用不同，触控板的形状及结构也随着不同，产生了非对称型触控板，非对称型触控板是指包括触控感测单元的外型、厚度、面积以及与接地层的距离等至少其一为非对称者。触控感测单元的基本电容正比于触控感测单元的面积，且反比于触控感测单元与接地层之间的距离，其关系可以下式表示：C＝ε*(A/d)(1)其中，C表示触控感测单元的基本电容，ε表示介电系数，A代表触控感测单元的面积，d代表触控感测单元与接地层之间的距离。倘若手指或触控笔在触控板上造成的感应量以S表示，则感应量S正比于(△C/C)。其中，△C为手指或触控笔在触控板上造成的触控感测单元的基本电容的变化量。因此，触控感测单元的面积及触控感测单元与接地层的距离均会影响其基本电容的大小。以图3具有圆形结构的触控板20为例，触控板20的触控感测单元X0至X5的长度不相同，使得触控感测单元X0至X5的面积不相等，同样地，触控感测单元Y0至Y6的面积也不相等，依据上述式(1)，当这些触控感测单元与接地层的距离相等时，面积愈大者，其基本电容愈大，导致触控感测单元的基本电容在触控板20上的分布为非对称。由公式2可知，当手指或触控笔在触控板20上操作时，由于各触控感测单元的基本电容不同，因此在不同位置产生的感应量不同，如图4所示，此种感应量不对称且不线性相等的现象导致手指或触控笔操作时产生动作误判，且导致当计算手指或触控笔的位置时产生位置的偏移量。此外，以一种现有技术中的触控板的触控感测结构来说，触控板包含一基板及多个触控感测元件，触控感测元件设置于基板上用以感测使用者的触控而产生电信号，电信号经过处理后即可得到使用者的触控坐标。然而，由于触控感测元件之间仅隔10μm～30μm之间的间隙，因此当制造过程中有粒子掉落或是刮伤产生时，左右或上下相邻的触控感测元件很容易形成短路，而造成触控功能失效以及良率下降。因此，如何提供一种抗扰触控感测结构，能够解决上述短路的问题，进而提升触控效能、产品良率及准确度，实为当前重要课题之一。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种触控板及其触控感测单元的感应量的补偿方法，用以克服上述短路的缺陷，并且提升触控效能、产品良率及准确度。本专利技术的技术方案是提供一种触控板的触控感测单元的感应量的补偿方法。上述补偿方法包括下列步骤：提供触控板；将多个触控感测单元共平面地设置于触控板上；在上述多个触控感测单元中的每两个相邻的触控感测单元之间形成一间隙区；将至少一抗扰斑块设置于间隙区内；检测触控板的各触控感测单元的基本电容及所述基本电容的变化量；执行一固件，以依据固件的多个参数，将各触控感测单元的基本电容的变化量转换为各触控感测单元的感应量；以及当转换而得的各触控感测单元的感应量基本上呈非线性关系时，调整上述多个参数中的至少一个参数，并依据调整后的固件的多个参数，再将各触控感测单元的基本电容的变化量转换为各触控感测单元的感应量，以使转换而得的各触控感测单元的感应量基本上呈线性关系。本专利技术还提供一种触控板。触控板包括多个触控感测单元、多个抗扰斑块、感测器及处理器。多个触控感测单元共平面地设置于触控板上。每一个抗扰斑块设置在形成于两个相邻的触控感测单元之间的间隙区。感测器耦接于多个触控感测单元，用以检测触控板的各触控感测单元的基本电容及所述基本电容的变化量。处理器耦接于感测器，用以执行固件，以依据固件的多个参数，将各触控感测单元的基本电容的变化量转换为各触控感测单元的感应量。其中处理器用以当转换而得的各触控感测单元的感应量基本上呈非线性关系时，调整上述多个参数中的至少一个参数，并依据调整后的固件的多个参数，再将各触控感测单元的基本电容的变化量转换为各触控感测单元的感应量，以使转换而得的各触控感测单元的感应量基本上呈线性关系。通过本专利技术提供的触控板及其触控感测单元的感应量的补偿方法，能够克服当制造过程中有粒子掉落或是刮伤产生时，左右或上下相邻的触控感测元件很容易形成短路，而造成触控功能失效以及良率下降。附图说明图1显示一种现有技术中的方形触控板的示意图。图2显示手指或触控笔在图1的方形触控板感应器上造成的感应量。图3显示一种现有技术中的圆形触控板感应器的示意图。图4显示手指或触控笔在图3的圆形触控板感应器上造成的感应量。图5是本专利技术一实施例触控板的功能方块图。图6为本专利技术一实施例的触控板的剖面示意图。图7为本实施例的触控板的另一态样的示意图。图8为本专利技术一实施例的触控板的俯视示意图。图9为本专利技术另一实施例的触控板的俯视示意图。图10为本专利技术另一实施例的触控板的俯视示意图。图11为本专利技术一实施例触控板的触控感测单元的感应量的补偿方法的流程图。其中，附图标记说明如下：10、20、100、100a、100b、100c触控板11基板130、130b、130c抗扰斑块14间隙区15、15a接地单元16间隙区111表面120、120a、120b、120c触控感测单元121触控感测元件130抗扰斑块140感测器150处理器160固件162参数170内存172感应量C1至CN基本电容ΔC1至ΔCN变化量S110至S170步骤X0至X7、Y0至Y6触控感测单元具体实施方式以下将参照附图，说明本专利技术各实施例的触控板，其中相同的元件将以相同的附图标记加以说明。请参考图5及图6，图5是本专利技术一实施例触控板100的功能方块图，而图6为本专利技术一实施例的触控板100的剖面示意图。触控板100包括多个触控感测单元120、多个抗扰斑块130、感测器140及处理器150本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触控板的触控感测单元的感应量的补偿方法，其特征在于，包括下列步骤：提供该触控板；将多个触控感测单元共平面地设置于该触控板上；在所述触控感测单元中的每两个相邻的触控感测单元之间形成一间隙区；将至少一抗扰斑块设置于该间隙区内；检测该触控板的各触控感测单元的基本电容及所述基本电容的变化量；执行一固件，以依据该固件的多个参数，将各触控感测单元的基本电容的变化量转换为各触控感测单元的感应量；以及当转换而得的各触控感测单元的感应量基本上呈非线性关系时，调整所述参数中的至少一个参数，并依据调整后的该固件的多个参数，再将各触控感测单元的基本电容的变化量转换为各触控感测单元的感应量，以使转换而得的各触控感测单元的感应量基本上呈线性关系。

【技术特征摘要】
1.一种触控板的触控感测单元的感应量的补偿方法，其特征在于，包括下列步
骤：
提供该触控板；
将多个触控感测单元共平面地设置于该触控板上；
在所述触控感测单元中的每两个相邻的触控感测单元之间形成一间隙区；
将至少一抗扰斑块设置于该间隙区内；
检测该触控板的各触控感测单元的基本电容及所述基本电容的变化量；
执行一固件，以依据该固件的多个参数，将各触控感测单元的基本电容的变化量
转换为各触控感测单元的感应量；以及
当转换而得的各触控感测单元的感应量基本上呈非线性关系时，调整所述参数中
的至少一个参数，并依据调整后的该固件的多个参数，再将各触控感测单元的基本电
容的变化量转换为各触控感测单元的感应量，以使转换而得的各触控感测单元的感应
量基本上呈线性关系。
2.如权利要求1所述的补偿方法，其特征在于，该至少一个参数包括施加于所述
触控感测单元的电压的电压值，而调整该固件的所述参数中的至少一个参数包括使调
整后的该电压的电压值大于一预设电压值。
3.如权利要求1所述的补偿方法，其特征在于，该至少一个参数包括施加于所述
触控感测单元的电压的电压值，而该电压经调整后的电压值介于0.1伏特至0.5伏特之
间。
4.如权利要求1所述的补偿方法，其特征在于，调整该固件的所述参数中的至少
一个参数包括调整对所述触控感测单元充放电的频率。
5.如权利要求1所述的补偿方法，其特征在于，该至少一个参数包括施加于所述
触控感测单元的电流的电流值，而调整该固件的所述参数中的至少一个参数包括使调
整后的该电流的电流...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔡昆华，林侑正，
申请(专利权)人：南京瀚宇彩欣科技有限责任公司，瀚宇彩晶股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32