【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种基于Ag(银)拉曼增强效应对准自由态SiC衬底外延石墨稀的表征方法,尤其涉及基于大直径SiC(0001)面外延生长石墨烯的表征方法,属于微电子材料
技术介绍
石墨烯是由碳原子以sp2轨道杂化形成的六角形蜂巢晶格的原子级二维晶体材料,具有几十倍于商用硅片的高载流子迁移率,并且受温度和掺杂效应的影响很小,表现出优良的电子传输特性。石墨烯晶体在超高频率电子器件方面有着重要的应用价值。然而,石墨烯电子器件性能的提升受到石墨烯品质的严重制约,制备出高质量、低成本的石墨烯材料是当前实现大规模石墨烯应用的前提条件。SiC衬底外延石墨烯是指SiC晶片在高温环境下,由于硅(Si)元素的饱和蒸汽压低于C元素,Si原子优先升华,衬底表面剩余的游离态C原子发生sp2重构,从而形成石墨烯。目前SiC衬底外延石墨烯主要工艺在SiC(0001)硅面上进行,此工艺制备的石墨烯材料质量较好并且工艺可控。但因生长机理的限制,Si面上制备的石墨烯第一层碳原子与SiC衬底之间存在很强的相互作用,被称作缓冲层。缓冲层与SiC衬底之间超强的共价键作用会破坏石墨烯π能带所表现的导 ...
【技术保护点】
一种基于SiC外延石墨烯的Ag颗粒拉曼增强效应的表征方法,其特征在于,包括:首先将Ag颗粒均匀喷涂在准自由态石墨烯晶片上,然后用显微拉曼光谱进行测试,得到Si‑H键结合情况。
【技术特征摘要】
1.一种基于SiC外延石墨烯的Ag颗粒拉曼增强效应的表征方法,其特征在于,包括:首先将Ag颗粒均匀喷涂在准自由态石墨烯晶片上,然后用显微拉曼光谱进行测试,得到Si-H键结合情况。2.根据权利要求1所述的一种基于SiC外延石墨烯的Ag颗粒拉曼增强效应的表征方法,其特征在于,所述Ag颗粒的形状为球状、立方体状、柱状,球状Ag颗粒的直径为50-2500nm,柱状Ag颗粒的长度3-9μm,立方体状Ag颗粒的宽度为0.5-3μm。3.根据权利要求1所述的一种基于SiC外延石墨烯的Ag颗粒拉曼增强效应的表征方法,其特征在于,所述Ag颗粒在所述准自由态石墨烯晶片的分布密度为5-20个/100μm2。4.根据权利要求1所述的一种基于SiC外延石墨烯的Ag颗粒拉曼增强效应的表征方法,其特征在于,将Ag颗粒均匀喷涂在准自由态石墨烯晶片后,用N2吹掉多余的Ag颗粒。5.根据权利要求1所述的一种基于SiC外延石墨烯的Ag颗粒拉曼增强效应的表征方法,其特征在于,所述准自由态石墨烯晶片通过以下制备方法制得:SiC衬底原位生长的石墨烯晶片通入H2钝化,去除缓冲层,得到所述准自由态石墨烯晶片。6.根据权利要求5所述的一种基于SiC外延石墨烯的Ag颗粒拉曼增强效应的表征方法,其特征在于,通入H2的温度为600-1500℃,时间为1-5h,压力为80...
【专利技术属性】
技术研发人员:陈秀芳,孙丽,徐现刚,赵显,
申请(专利权)人:山东大学,
类型:发明
国别省市:山东;37
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