【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及数字处理
,尤其涉及一种测试数据的字典编码方法。
技术介绍
随着集成电路设计规模的增大,测试数据量呈指数级增长,这导致了传统外部自动测试设备(ATE)面临着存储空间不足、IO带宽有限以及测试时间过长等严峻的问题,测试成本越来越高。测试数据压缩时解决上述问题的有效方法之一,通过压缩可以减少数据传输时间以及降低对ATE存储容量的要求。测试数据中通常包含大量的无关位(X-bit),这些无关位可以被任意赋值为0或1而不会影响故障覆盖率。因此采用适当的编码算法并结合相应的无关位填充策略,能够实现数据的压缩以及提高压缩率。编码方法主要包括游程编码,字典编码以及统计编码三类。在2003年L.Li等人发表的文章《Testdatacompressionusingdictionarieswithselectiveentriesandfix-lengthindices》中提出了对字典编码方法进行了数学建模,将字典词条的选取问题建模为寻找一个无向图的最大完全子图问题。2012年刘杰等人发表的文章《采用字典词条衍生模式的测试数据压缩》在此基础上,将已生成的字典词条通过取反,循环移位等方式来产生衍生词条,以增加一定的外围电路的复杂度为代价,提高了数据压缩率。L.Li等人提出了对字典编码方法进行数学建模,仅在扫描切片与字典词条相容的情况下才能实现压缩,针对于不与字典词条相容的扫描切片,其编码 ...
【技术保护点】
一种测试数据的字典编码方法,其特征在于,包括以下步骤:生成字典词条;针对各字典词条进行反向相容性分析,确定与所述字典词条反向相容的扫描切片;按照设定的规则对各扫描切片进行编码。
【技术特征摘要】
1.一种测试数据的字典编码方法,其特征在于,包括以下步骤:
生成字典词条;
针对各字典词条进行反向相容性分析,确定与所述字典词条反向相容的
扫描切片;
按照设定的规则对各扫描切片进行编码。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述生成字典词条步骤包
括:
以各扫描切片为顶点,建立一个无向图G,任何两个扫描切片如果是相容
的,则他们所对应的顶点之间有一条边;通过启发式算法,得到m个最大完
全子图,所述m为预设的字典词条的个数;
对每个最大完全字图生成其对应的字典词条。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述针对各字典词条进行
反向相容性分析,确定与所述字典词条反向相容的扫描切片步骤包括:
根据所述字典词条,得到反向字典词条;
以各反向字典词条为顶点建立一个图Gd;
设包含在m个最大完全子图中的顶点构成点集C,从图G中删除点集C及
所有与点集C相连的边,得到图G1;
在图Gd和图G1之间进行连线构成边,找出图Gd中边数最多的顶点V1,从
Gd中删除顶点V1,以所有与V1相连的图G1中的顶点构成第一图,使用启发式
算法,找出第一图的最大完全子图C1;
从图G1中删除子图C1中所有的点及与其相连的边,判断删除顶点V1后的
图Gd或删除子图C1后的图G1是否为空;
如果删除子图C1中所有的点及与其相连的边后的图G1为空,或如果删除
顶点Vd后的图G1为空,结束分析流程,确定与所述字典词条反向相容的扫描
\t切片为子图C1。
4.根据权利要求3所述的方法,其特征在于,如果删除子图C1中所有的
点及与其相连的边后的图G1不为空,或如果删除顶点Vd后的图G1不为空,则
继续从图Gd中选出下一个边数最多的顶点V2,从Gd中删除顶点V2,以所有与
V2相连的图G1中的顶点构成第二图,使用启发式算法,找出第二图的最大完
全子图C2;所述子图C2与字典词条反向相容;
从删除子图C1中所有的点及与其相连的边后的图G1中删除子图C2中所有
的点及与其相连的边,判断删除顶点V1和V2后的图G...
【专利技术属性】
技术研发人员:吴殿丞,王东辉,洪缨,
申请(专利权)人:中国科学院声学研究所,
类型:发明
国别省市:北京;11
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