一种带编号结构的测试板制造技术

一种带编号结构的测试板，涉及芯片测试技术领域，其结构包括至少一个测试插座，测试插座具有接地管脚，至少一个测试插座具有高电平管脚和编号管脚，编号管脚与高电平管脚电连接或者与接地管脚电连接以供外部识别本测试板的编号，可利用软件识别作为编号的管脚的电平情况，再通过软件将该电平情况转换为数字编号，就可直接读取该测试板的编号，因此，本实用新型专利技术的测试板提供编号管脚给外部识别本测试板的编号，进而节省识别测试板的时间。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及芯片测试
，特别是涉及一种带编号结构的测试板。
技术介绍
随着集成电路制造技术的进步，人们已经能制造出电路结构复杂的、集成度很高、功能各异的集成电路。但是这些高集成度，多功能的集成电路仅是通过数目有限的引脚和外部电路连接，这就给判断集成电路好坏带来不少困难。任何一块集成电路都是为完成一定的电特性功能而设计的单片模块，集成电路的测试就是运用各种方法，检测那些在制造过程中由于物理缺陷而引起的不符合要求的样品。可是由于实际的制作过程所带来的以及材料本身或多或少都有的缺陷，因而无论怎样完美的工程都会产生不良的个体，因而测试也就成为集成电路制造中不可缺少的工程之一。测试系统包括测试板、测试机和测试程序等。现有的测试板都没有加编号，在集成电路测试的过程中看不到测试板的编号，如果需要了解用的是哪块测试板的话，就必须暂停测试，取下测试板，这样的话就会耽误测试，浪费时间。
技术实现思路
本技术的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种带编号结构的测试板，该带编号结构的测试板可提供编号管脚给外部识别本测试板的编号，进而节省识别测试板的时间。本技术的目的通过以下技术方案实现：提供一种带编号结构的测试板，包括至少一个测试插座，测试插座具有接地管脚，其特征在于：至少一个测试插座具有高电平管脚和编号管脚，编号管脚与高电平管脚电连接或者与接地管脚电连接以供外部识别本测试板的编号。所述测试插座设置有两个，每个测试插座有一个编号管脚。所述测试插座设置有两个，每个测试插座有两个编号管脚。>所述测试插座设置有三个，每个测试插座有一个编号管脚。所述测试插座设置有三个，每个测试插座有两个编号管脚。所述测试插座设置有三个，每个测试插座有三个编号管脚。所述测试插座设置有四个，每个测试插座有一个编号管脚。所述测试插座设置有四个，每个测试插座有两个编号管脚。本技术的有益效果：本技术的带编号结构的测试板，包括至少一个测试插座，测试插座具有接地管脚，至少一个测试插座具有高电平管脚和编号管脚，编号管脚与高电平管脚电连接或者与接地管脚电连接以供外部识别本测试板的编号，因此，本技术的带编号结构的测试板，可提供编号管脚给外部识别本测试板的编号，进而节省识别测试板的时间。附图说明利用附图对技术作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本技术的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。图1是本技术的一种带编号为46的测试板的局部结构示意图。图2是实施例1的测试插座SL0T7的结构示意图。图3是实施例1的测试插座SL0T4的结构示意图。图4是实施例1的测试插座SL0T3的结构示意图。图5是实施例1的测试插座SL0T1的结构示意图。图中包括有测试板1。具体实施方式结合以下实施例对本技术作进一步描述。实施例1。本实施例的一种带编号结构的测试板，如图2至图5所示，包括四个测试插座SL0T7、SL0T4、SL0T3和SL0T1，每个测试插座有两个编号管脚。四个测试插座SL0T7、SL0T4、SL0T3和SL0T的编号管脚均为第14管脚和第16管脚，15管脚为高电平管脚。该测试板1的编号为46号，要达到编号为46，需对测试板1的管脚进行如下焊接：如图1所示，将测试插座SL0T7的第16管脚与测试插座SL0T7的第48管脚焊接在一起（即接地），测试插座SL0T4的第16管脚与测试插座SL0T4的第48管脚焊接在一起（即接地），测试插座SL0T3的第16管脚与测试插座SL0T3的第15管脚焊接在一起(即接高电平)，测试插座SL0T1的第16管脚与测试插座SL0T1的第48管脚焊接在一起（即接地），测试插座SL0T7的第14管脚与测试插座SL0T7第15管脚焊接在一起（即接高电平），测试插座SL0T4的第14管脚与测试插座SL0T4的第15管脚焊接在一起（即接高电平），测试插座SL0T3的第14管脚与测试插座SL0T3第15管脚焊接在一起（即接高电平），测试插座SL0T1的第14管脚与测试插座SL0T1的第46管脚焊接在一起（即接地）。以上的带编号结构的测试板1，可提供编号管脚给外部识别本测试板的编号，可利用软件识别作为编号的管脚的电平情况，再通过软件将该电平情况转换为数字编号，就可直接读取该测试板1的编号，因此，本实施例的带编号结构的测试板可提供编号管脚给外部识别本测试板的编号，可在软件的辅助下可节省识别测试板1的时间。使用四个测试插座可以实现更多的编号，只需要修改编号管脚与高电平管脚或者低电平管脚的焊接关系即可。本实施例对编号管脚的识别方法如下：分别识别四个测试插座的两个编号的管脚的电平情况，将识别到的高电平和低电平分别转换为不同的二进制数字，将转换的二进制数字依序排列形成八位二进制数字串，再将该八位二进制数字串转换为十进制数字。在实施例1的四个测试插座上，在程序上将四个插座SL0T7、SL0T4、SL0T3、SL0T1的第15管脚均置1。四个插座SL0T7、SL0T4、SL0T3、SL0T1的第14管脚和第16管脚是编号管脚。四个插座SL0T7、SL0T4、SL0T3、SL0T1的编号管脚的电平如下：测试插座SL0T7的第16管脚接地，为低电平，测试插座SL0T4的第16管脚接地，为低电平，测试插座SL0T3的第16管脚跟测试插座SL0T3第15管脚相接，为高电平，测试插座SL0T1的第16管脚接地，为低电平，将测试插座SL0T7的第14管脚接测试插座SL0T7第15管脚，为高电平，测试插座SL0T4的第14管脚接测试插座SL0T4第15管脚，为高电平，测试插座SL0T3的第14管脚跟测试插座SL0T3第15管脚相接，为高电平，测试插座SL0T1的第14管脚接地，为低电平。分别识别四个测试插座的两个编号的管脚的电平情况。将识别到的高电平和低电平分别转换为不同的二进制数字：将高电平转换为二进制数字1，将低电平转换为二进制数字0。则可得到测试插座SL0T7的第16管脚对应二进制0，测试插座SL0T4的第16管脚对应二进制0，测试插座SL0T3的第16管脚对应二进制1，测试插座SL0T1的第16管脚对应二进制0，测试插座SL0T7的第14管脚对应二进制1，测试插座SL0T4的第14管脚对应二进制1，测试插座SL0T3的第14管脚对应二进制1，测试插座SL0T1的第14管脚对应二进制0。将转换的二进制数字依序排列形成八位二进制数字串：按照测试插座SL0T7的第16管脚、测试插座SL0T4的第16管脚、测试插座SL0T3的第16管脚、测试插座SL0T1的第16管脚、测试插座SL0T7的第14管脚、测试插座SL0T4的第14管脚、，测试插座SL0T3的第14管脚、测试插座SL0T1的第14管脚的顺序对以上的二进制数字进行依序排列，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种带编号结构的测试板，包括至少一个测试插座，测试插座具有接地管脚，其特征在于：至少一个测试插座具有高电平管脚和编号管脚，编号管脚与高电平管脚电连接或者与接地管脚电连接以供外部识别本测试板的编号。

【技术特征摘要】
1.一种带编号结构的测试板，包括至少一个测试插座，测试插座具有接地管脚，其特征在于：至少一个测试插座具有高电平管脚和编号管脚，编号管脚与高电平管脚电连接或者与接地管脚电连接以供外部识别本测试板的编号。
2.如权利要求1所述的一种带编号结构的测试板，其特征在于：所述测试插座设置有两个，每个测试插座有一个编号管脚。
3.如权利要求1所述的一种带编号结构的测试板，其特征在于：所述测试插座设置有两个，每个测试插座有两个编号管脚。
4.如权利要求1所述的一种带编号结构的测试板，其特征在于：所述测试插座设置有...

【专利技术属性】
技术研发人员：陈木梁，
申请(专利权)人：广东利扬芯片测试股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44