连续衍射分光与探测装置及顺序式X射线荧光光谱仪制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种连续衍射分光与探测装置及顺序式X射线荧光光谱仪，该连续衍射分光与探测装置是由两条轨道和相应的支臂组成等角等距虚拟的罗兰圆装置，结构简单，维护方便，且可实现弯曲晶体条件下的连续不间断衍射分光与探测；顺序式X射线荧光光谱仪采用等角等距虚拟的罗兰圆装置来实现入射狭缝、弯曲晶体和X射线探测器狭缝在运动时始终满足罗兰圆条件和布拉格衍射条件，以实现弯曲晶体衍射，并且可连续衍射分光与探测，从而实现连续不间断波长的顺序式分析。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及X射线荧光光谱仪
，特别公开一种连续衍射分光与探测装置及顺序式X射线荧光光谱仪。
技术介绍
X射线荧光光谱分析是利用初级X射线光子或其他微观粒子激发待测物质中的原子，使之产生荧光(次级X射线)而进行物质成分分析和化学态研究的方法。X射线荧光光谱仪主要由激发、色散、探测、记录及数据处理等单元组成。激发单元的作用是产生初级X射线。它由高压发生器和X光管组成。色散单元的作用是分出想要波长的X射线。它由样品室、狭缝、测角仪、分析晶体等部分组成。通过测角器以1:2速度转动分析晶体和探测器，可在不同的布拉格角位置上测得不同波长的X射线而作元素的定性分析。探测器的作用是将X射线光子光信号转化为电信号，常用的有盖格计数管、正比计数管、闪烁计数管、半导体探测器等。记录单元由放大器、脉冲幅度分析器、显示部分组成。通过定标器的脉冲分析信号可以直接输入计算机，进行联机处理而得到被测元素的含量。在X射线光谱分析技术中，存在波长色散与能量色散两种分析...

【技术保护点】
一种连续衍射分光与探测装置，其特征在于：包括：第一轨道，用于弯曲晶体在其上顺序移动，其起点位置为X射线入射狭缝；第二轨道，用于X射线探测器狭缝在其上顺序移动，其起点位置和弯曲晶体在第一轨道上耦合；固定杆，用于固定弯曲晶体，其起点位置设有弯曲晶体，另一端与第一支臂、第二支臂耦合；第一支臂，连接于第一轨道的起点位置与固定杆的端点位置；以及第二支臂，连接于第二轨道的X射线探测器狭缝位置与固定杆的端点位置；第一支臂、第二支臂和固定杆于固定杆的端点位置三者耦合，第一支臂、第二支臂和固定杆的长度相同，均为弯曲晶体的曲率半径；随着弯曲晶体在第一轨道上顺序移动，相对应的，X射线探测器狭缝在第二轨道上顺序移动，...

【技术特征摘要】
1.一种连续衍射分光与探测装置，其特征在于：包括：
第一轨道，用于弯曲晶体在其上顺序移动，其起点位置为X射
线入射狭缝；
第二轨道，用于X射线探测器狭缝在其上顺序移动，其起点位
置和弯曲晶体在第一轨道上耦合；
固定杆，用于固定弯曲晶体，其起点位置设有弯曲晶体，另一
端与第一支臂、第二支臂耦合；
第一支臂，连接于第一轨道的起点位置与固定杆的端点位置；
以及
第二支臂，连接于第二轨道的X射线探测器狭缝位置与固定杆
的端点位置；
第一支臂、第二支臂和固定杆于固定杆的端点位置三者耦合，
第一支臂、第二支臂和固定杆的长度相同，均为弯曲晶体的曲
率半径；
随着弯曲晶体在第一轨道上顺序移动，相对应的，X射线探测
器狭缝在第二轨道上顺序移动，并且第一支臂与固定杆间的夹
角、第二支臂与固定杆间的夹角始终保持相等。
2.根据权利要求1所述的连续衍射分光与探测装置，其特征在于：
第一轨道上设有用于带动弯曲晶体顺序移动的第一滑块，第一
滑块由第一电机驱动；第二轨道上设有用于带动X射线探测器
狭缝顺序移动的第二滑块，第二滑块由第二电机驱动。
3.根据权利要求2所述的连续衍射分光与探测装置，其特征在于：

\t所述电机为丝杆电机。
4.根据权利要求1所述的连续衍射分光与探测装置，其特征在于：
第一轨道上设有用于带动弯曲晶体顺序移动的第一滑块，第一
滑块由第一电机驱动；
第一滑块上设有第三支臂，其固定点位于第一滑块上，第三支
臂的另一端可移动地连接于固定杆上，第三支臂在第一滑块上
的固定点至弯曲晶体的距离与第三支臂的长度相等；
第二...

【专利技术属性】
技术研发人员：范真，
申请(专利权)人：深圳市禾苗分析仪器有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44