材料射频性能测试装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供了一种材料射频性能测试装置，包括双端网络分析仪、屏蔽盒、第一天线和第二天线，所述第一天线和所述第二天线间隔设置且分别固定于所述屏蔽盒的两端，所述双端网络分析仪分别与所述第一天线和所述第二天线电连接，所述屏蔽盒呈内部中空状。与相关技术相比，本实用新型专利技术提供的材料射频性能测试装置可预先测试赛钢及塑料等类似材料的射频性能且测试准确度高，测试效率高。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及射频测试领域，尤其涉及一种赛钢或塑胶的材料射频性能测试装置。
技术介绍
由于赛钢及塑胶材料具有较低的摩擦系数和良好几何稳定性，目前一些射频（RadioFrequency，RF）产品所使用的治具均用到赛钢或塑胶材料，如托盘、支架、衬垫、衬套、衬板等，以及一些RF产品中所使用的零件，如齿轮、轴承等。然而，由于赛钢以及塑胶材料对于RF产品性能的影响在使用之前没有相关的检测手段，即使检测也仅仅是在RF产品的样品实际工作中进行检查记录，如果发现赛钢以及塑胶材料确实对RF产品性能产生影响，也只能通过改变材料的形状，大小，位置等，减小材料对于RF产品的影响。上述方法不仅仅需要耗费较多的人力物力，且无法根本上解决这类问题。因此，有必要提供一种新的材料射频性能测试装置解决上述问题。
技术实现思路
本技术需要解决的技术问题是提供一种可预先测试赛钢及塑料等类似材料的射频性能且测试准确度高、测试效率高的材料射频性能测试装置。为解决上述技术问题，本技术提供了一种材料射频性能测试装置，包括双端网络分析仪、屏蔽盒、第一天线和第二天线，所述第一天线和所述第二天线间隔设置且分别固定于所述屏蔽盒的两端，所述双端网络分析仪分别与所述第一天线和所述第二天线电连接，所述屏蔽盒呈内部中空状。优选的，所述第一天线和所述第二天线分别固定于所述屏蔽盒的相对两端。优选的，所述屏蔽盒包括底端和与所述底端相对设置的顶端，所述屏蔽盒的横截面积从所述底端向所述顶端方向逐渐减小，所述第一天线和所述第二天线分别固定于所述底端和所述顶端。优选的，所述屏蔽盒为金字塔形。优选的，所述材料射频性能测试装置还包括设置于所述屏蔽盒内侧的测试治具，所述测试治具用于旋转待测材料。优选的，所述测试治具为内部中空结构，所述第一天线沿平行于所述底端的方向贯穿所述测试治具设置。与相关技术相比，本技术的材料射频性能测试装置通过在所述双端网络分析仪两端口分别接入所述第一天线和所述第二天线，通过所述双端网络分析仪设定待测材料工作频段及信号功率等参数后由所述第一天线输入，并由所述第二天线输出，从而模拟射频产品的基本工作环境，通过所述双端网络分析仪分析空测和放入待测材料测试两种状态的S21参数的改变状况，从而实现判断出所述待测材料的射频性能及对射频产品的影响状况，且所述材料射频性能测试装置的外界影响因素小，使得其测试准确率高。附图说明图1为本技术材料射频性能测试装置的结构示意（已放置待测材料）。具体实施方式下面将结合附图和实施方式对本技术作进一步说明。请参阅图1，为本技术材料射频性能测试装置的结构示意图（已放置待测材料）。本技术提供了一种材料射频性能测试装置10，包括双端网络分析仪1、屏蔽盒2、第一天线3、第二天线4和测试治具5。所述第一天线3和所述第二天线4间隔设置且分别固定于所述屏蔽盒2的两端，所述双端网络分析仪1分别与所述第一天线3和所述第二天线4电连接。更优的，所述第一天线3和所述第二天线4分别固定于所述屏蔽盒2的相对两端。所述双端网络分析仪1用于产生基本测试参数，如射频产品工作频段及信号功率等参数。所述屏蔽盒2呈内部中空状，所述屏蔽盒2包括底端21和与所述底端21相对设置的顶端22，所述屏蔽盒2的横截面积从所述底端21向所述顶端22方向逐渐减小。所述第一天线3和所述第二天线4分别固定于所述底端21和所述顶端22。本实施方式中，具体的，所述屏蔽盒2为金字塔形。所述测试治具5设置于所述屏蔽盒2的内侧，所述测试治具5用于承载待测材料6。本实施方式中，所述待测材料6为赛钢或塑料或类似材料。更优的，所述测试治具5为内部中空结构，所述第一天线3沿平行于所述底端21的方向贯穿所述测试治具5设置。所述双端网络分析仪1产生基本测试参数后，如射频产品工作频段及信号功率等参数，将所述基本测试参数由所述第一天线3打入，并由所述第二天线4接收后返回至所述双端网络分析仪1记录，形成模拟射频产品的基本工作环境，运用射频电路S21参数原理，通过所述双端网络分析仪1读取所述第一天线3和所述第二天线4的S21参数。再将待测材料6放置于所述测试治具5上后，重复上述测试步骤，即将同样的基本测试参数再次打入所述第一天线3，由所述第二天线4接收后返回至所述双端网络分析仪1，观察对所述双端网络分析仪1检测的S21参数的改变状况，从而判断所述待测材料6对射频产品性能的影响状况。与相关技术相比，本技术的材料射频性能测试装置通过在所述双端网络分析仪两端口分别接入所述第一天线和所述第二天线，通过所述双端网络分析仪设定待测材料工作频段及信号功率等参数后由所述第一天线输入，并由所述第二天线输出，从而模拟射频产品的基本工作环境，通过所述双端网络分析仪分析空测和放入待测材料测试两种状态的S21参数的改变状况，从而实现判断出所述待测材料的射频性能及对射频产品的影响状况，且所述材料射频性能测试装置的外界影响因素小，使得其测试准确率高且测试效率高，减节省人力物力。以上所述仅为本技术的实施例，并非因此限制本技术的专利范围，凡是利用本技术说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其它相关的
，均同理包括在本技术的专利保护范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种材料射频性能测试装置，其特征在于，包括双端网络分析仪、屏蔽盒、第一天线和第二天线，所述第一天线和所述第二天线间隔设置且分别固定于所述屏蔽盒的两端，所述双端网络分析仪分别与所述第一天线和所述第二天线电连接，所述屏蔽盒呈内部中空状。

【技术特征摘要】
1.一种材料射频性能测试装置，其特征在于，包括双端网络分析仪、屏蔽盒、第一天线和第二天线，所述第一天线和所述第二天线间隔设置且分别固定于所述屏蔽盒的两端，所述双端网络分析仪分别与所述第一天线和所述第二天线电连接，所述屏蔽盒呈内部中空状。2.根据权利要求1所述的材料射频性能测试装置，其特征在于，所述第一天线和所述第二天线分别固定于所述屏蔽盒的相对两端。3.根据权利要求2所述的材料射频性能测试装置，其特征在于，所述屏蔽盒包括底端和与所述底端相对设置的顶端，所述屏蔽盒的...

【专利技术属性】
技术研发人员：熊圆，张冠超，鲁代金，
申请(专利权)人：深圳市联合东创科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44