一种电镀导体镀层测厚仪制造技术

本实用新型专利技术提供了一种电镀导体镀层厚度测厚仪，包括激光发生器，所述激光发生器的激光出口对面间隔一定距离设置有反射器，反射器朝向激光发生器的一侧具有反射面，反射面的下方设置有两个光感应器，两个光感应器之间留有空隙，两个光感应器通过分别与中央处理器通讯相连；光感应器下方设置有基台，基台上两个光感应器的下方分别搁置有导体基材和带镀层的导体。该测厚仪采用光学的办法，能够准确的测量镀层厚度，并且结构简单，故障率低，使用成本低。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种导线的制备装置，尤其涉及一种镀层测厚仪。
技术介绍
在导线的制备过程中，需要对导线的镀层厚度进行测定，判定该导线的镀层是否达标。由于镀层的厚度非常薄，用传统的厚度测量方法行不通，现有技术中采用X射线进行镀层厚度测量，这种机器由于需要产生X射线，因此结构复杂，一旦出现故障需要专业的厂家人员来维修，使用成本比较高。
技术实现思路
为了解决
技术介绍
中存在的问题，本技术提供了一种电镀导体镀层厚度测厚仪，该测厚仪采用光学的办法，能够准确的测量镀层厚度，并且结构简单，故障率低，使用成本低。为达到上述目的，本技术采用如下技术方案：一种电镀导体镀层测厚仪，包括激光发生器，其特征在于，所述激光发生器的激光出口对面间隔一定距离设置有反射器，反射器朝向激光发生器的一侧具有反射面，反射面的下方设置有两个光感应器，两个光感应器之间留有空隙，两个光感应器通过分别与中央处理器通讯相连；光感应器下方设置有基台，基台上两个光感应器的下方分别搁置有导体基材和带镀层的导体。所述反射面与水平方向成45°角。本技术的有益效果是：该测厚仪采用光学的办法，能够准确的测量镀层厚度，并且结构简单，故障率低，使用成本低。附图说本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电镀导体镀层测厚仪，包括激光发生器，其特征在于，所述激光发生器的激光出口对面间隔一定距离设置有反射器，反射器朝向激光发生器的一侧具有反射面，反射面的下方设置有两个光感应器，两个光感应器之间留有空隙，两个光感应器通过分别与中央处理器通讯相连；光感应器下方设置有基台，基台上两个光感应器的下方分别搁置有导体基材和带镀层的导体。

【技术特征摘要】
1.一种电镀导体镀层测厚仪，包括激光发生器，其特征在于，所述激光发生器的激光出口对面间隔一定距离设置有反射器，反射器朝向激光发生器的一侧具有反射面，反射面的下方设置有两个光感应器，两个光感应器之间留有空隙，两个...

【专利技术属性】
技术研发人员：何如森，王权宏，
申请(专利权)人：常州恒丰特导股份有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32