【技术实现步骤摘要】
X荧光测厚仪的控制系统
本专利技术属于光学仪器
,涉及一种X荧光测厚仪的控制系统。
技术介绍
目前,X荧光测厚仪作为一种镀层厚度、成分分析的检测仪器已经开始运用在电子器件生产厂家和包装盒包装组件生产厂家的生产检测环节中。而传统的X荧光测厚仪的控制系统采用总控制面板集成各个控制模块以及电路对整个X荧光测厚仪的各个组件进行控制,总控制面板电路较多发热量大,容易烧坏,寿命短,更换维修不便,所以我公司开发了一款组合式的X荧光测厚仪的控制系统,安全系数高,印制电路板寿命长。将准直器的控制电路和伺服控制电路分出总控制面板,在高压包上方设计高压包指示电路和门控制电路,保证高压包工作时,门电路控制箱门关闭,保证人员安全。
技术实现思路
针对上述情况,本技术提供一种X荧光测厚仪的控制系统,将准直器的控制电路和伺服控制电路分出总控制面板,在高压包上方设计高压包指示电路和门控制电路,保证高压包工作时,门电路控制箱门关闭,保证人员安全,探测器和摄像头均采用专门的电源电路控制,安全高效。为了实现上述目的,本技术的技术方案如下:X荧光测厚仪的控制系统,包括摄像头、探测器、总控制面板,LED照明、定位机构、计算机、光管、高压包、五位联体准直器、电动样品台、触摸屏、高压包电源、AC/DC电源、显示屏,其特征在于,还包括高压指示电路、门控制电路、ROHS检测模块,伺服控制板和切换UT板,所述高压包通过RS232串口线与总控制面板连接,高压包通过I/O接口与高压指示电路连接,高压指示电路与门控制电路连接,所述高压包的高压端与高压包电源连接,高压包的低压端连接至AC/DC电源 ...
【技术保护点】
X荧光测厚仪的控制系统,包括摄像头、探测器、总控制面板,LED照明、定位机构、计算机、光管、高压包、五位联体准直器、电动样品台、触摸屏、高压包电源、AC/DC电源、显示屏,其特征在于,还包括高压指示电路、门控制电路、ROHS检测模块,伺服控制板和切换UT板,所述高压包通过RS232串口线与总控制面板连接,高压包通过I/O接口与高压指示电路连接,高压指示电路与门控制电路连接,所述高压包的高压端与高压包电源连接,高压包的低压端连接至AC/DC电源,所述五位联体准直器通过切换UT板与总控制面板连接,所述电动样品台通过伺服控制板与总控制面板连接,所述摄像头、探测器、LED照明、定位机构的电源端均与AC/DC电源连接,所述摄像头、探测器、LED照明、定位机构还分别与总控制面板连接,所述总控制面板通过RS232串口线与触摸屏连接,总控制面板还与计算机电连接,计算机与显示屏连接。
【技术特征摘要】
1.X荧光测厚仪的控制系统,包括摄像头、探测器、总控制面板,LED照明、定位机构、计算机、光管、高压包、五位联体准直器、电动样品台、触摸屏、高压包电源、AC/DC电源、显示屏,其特征在于,还包括高压指示电路、门控制电路、ROHS检测模块,伺服控制板和切换UT板,所述高压包通过RS232串口线与总控制面板连接,高压包通过I/O接口与高压指示电路连接,高压指示电路与门控制电路连接,所述高压包的高压端与高压包电源连接,高压包的低压端连接至AC/DC电源,所述五位联体准直器通过切换UT板与总控制面板连接,...
【专利技术属性】
技术研发人员:宋涵华,
申请(专利权)人:上海优特化工有限公司,
类型:新型
国别省市:上海;31
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