用于实施在斑点上的分析方法的对照标记物技术

本发明专利技术涉及对照标记物用于实施在斑点上的分析方法的用途，尤其是在多重分析的情况下。本发明专利技术因此涉及含有所述对照标记物的固体支持体、它们的制备方法和它们在分析方法中的用途。本发明专利技术使得可以在分析方法结束时校验斑点的存在、位置和/或完整性，并因此确保所得的结果，同时保证得到的结果的确是来自存在的、完好的且局域化的斑点的结果。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】专利
本专利技术涉及对照标记物用于实施在斑点上的分析方法的用途，尤其是在多重分析的情况下。本专利技术因此涉及含有所述对照标记物的固体支持体、它们的制备方法和它们在分析方法中的用途。本专利技术使得可以在分析方法结束时校验斑点的存在、位置和/或完整性，并因此确保所得的结果，同时保证得到的结果的确是来自存在的、完好的且局域化的斑点的结果。专利技术背景多重分析方法允许同时检测在同一样品中的若干种被分析物的潜在存在。典型地使用包含斑点的固体支持体，例如在每个孔里包含斑点的微量培养板(microplate)，来实施多重分析方法，所述斑点各自意在检测被分析物或充当对照。对于本领域技术人员清楚的是，一个与斑点技术有关的风险是，在用于固体支持体(尤其是微量培养板)的制备方法期间或者在使用所述固体支持体实施分析方法期间没有沉积物，若干斑点消失或劣化。用于沉积样品或试剂的装置可能的确偶然地与一个或若干个斑点接触，从而改变它们的表面，例如通过形成在一个或若干个斑点中的条痕，或者通过拔出一个以上斑点的全部或部分。例如，在Bastarache等的论文(多重免疫化验平台的精确性和可重现性：确认报告(AccuracyandReproducibilityofamultiplexImmunoassayplatform：avalidationstudy)，J.ImmunolMethods，Mar31，2011，367(1-2)33-39)中，存在在测试结束时在光信号上观察到的缺陷，如斑点不规则、导致一个斑点被相邻的斑点污染的丛毛(comas)的存在、以及在斑点的理论位置没有预期的信号。而且，当在分析方法结束时导致阴性结果时，此结果必须是由于在样品中没有待检测的被分析物造成的结果，而不是由于相应的被分析物的检测斑点不存在或劣化造成的结果。分析方法的确保是至关重要的，尤其是对于它们在人类的诊断中的用途，例如校验用于输血目的的血液样品没有病毒或细菌污染。用于斑点分析的固体支持体的制造由以下过程组成：在固体支持体的表面上沉积包含待检测的被分析物的捕捉配体的溶液，从而形成斑点。接下来在固体支持体的制造结束时校验固体支持体的品质，从而仅仅保留具有完好的且良好形成的斑点的固体支持体。因此，文献US2006/0063197描述了在意在形成DNA微阵列的斑点的沉积溶液中荧光团的使用。荧光团用于在用于DNA微阵列的制备方法结束时校验各个斑点的品质。此外，在ELISA试验的实施期间，在添加底物之前，仅仅在斑点处检测到弱的参与荧光信号。文献WO2012/142397研究了在包含DNA微阵列的微流体设备中的通量问题，并且描述了包含阵列仓的DNA微阵列组装体，所述阵列仓具有在第一端处的用于样品的入口、DNA微阵列和在连接到废物仓的第二端处的用于样品的出口，对于阵列仓的第一端横断的面积比在第二端的横断面积宽。此文献也描述了用于校验DNA微阵列的制造品质的方法，包括测量由在斑点处的内部品质对照荧光团发射的荧光并且将关于阵列的每个斑点的信息以条码、记忆装置或通过射频识别来编码，此信息因此被与DNA微阵列相关联地编码。此外，在多重分析方法的实施期间，可以在理论读取栅格(readinggrid)处检测对应于待检测的被分析物的信号。通常，在多重分析方法结束时，从在充当阳性对照的斑点处检测的信号，限定此理论读取栅格。然而，根据读取尺度，在固体支持体制造期间斑点的定位中和/或在用于检测信号的装置中的固体支持体的定位中相对于理论读取栅格的任何移位都导致斑点的实际位置相对于理论读取栅格的移位，并且因此影响被分析物的检测灵敏度。因此，对于确保，尤其是通过使得可以在分析方法结束时校验斑点的存在、位置和/或完整性，和/或通过使得可以优化被分析物的检测(例如通过改善被分析物的检测灵敏度)来确保在斑点上的分析方法结束时获得的结果的方案，仍然存在需要。专利技术详述本专利技术基于发现对照标记物，所述对照标记物可以与样品中的待检测的被分析物的特异性捕捉配体同时沉积形成在固体支持体上的斑点，这些对照标记物能够在使用所述固体支持体实施的分析方法结束时产生信号，很小地干扰或根本不干扰被分析物的检测。根据本专利技术的对照标记物因此使得可以在分析方法结束时校验斑点的存在、位置和/或完整性。这些对照标记物在此被认定为“耐受性对照标记物”。表述“分析方法”和“用于检测至少一种被分析物的方法”在此是同义的。术语“产生”、“产物”或“制备”用于任何形式的信号，并且尤其是任何形式的电磁辐射，不管它涉及放射性的信号、光发射或是吸光度。当检测的信号是荧光发光信号时，“产生的信号”尤其是“发射的信号”，且“产生信号”和“信号的产生”则分别意指“发射信号”和“信号的发射”。在本申请中，“至少一种被分析物的检测”(或“检测至少一种被分析物”)意指一种或多种所述被分析物的存在的检测(或检测其存在)，和/或一种或多种所述被分析物的量的检测(或对其量化)。在本专利技术的意义内，“分析方法结束”意指在已经在以下物质的存在下安放斑点之后，待分析的样品、配体或用于检测被分析物的配体、如果可用的话与被分析物的检测配体偶联的检测标记物的至少一种(第一)报道物、和如果可用的话与所述第一报道物偶联的检测标记物的至少一种(第二)报道物。出人意料地，专利技术人已经因此显示了耐受性对照标记物，其可以被固定在固体支持体上，不干扰分析方法本身，并且在实施了分析方法的不同步骤之后保持完全可检测(尤其是因为它们保持至少部分地被固定在固体支持体上)。当在分析方法结束时由耐受性对照标记物产生的信号使得可以限定满足斑点的品质判据(尤其是存在、位置和/或完整性)的斑点时，则可以在此斑点检测对应于被分析物的信号。尤其是，根据本专利技术的耐受性对照标记物可以用于以下分析方法中：其中通过由化学发光(优选经由过氧物酶与鲁米诺底物和/或鲁米诺的类似物(例如异鲁米诺)和/或它们的衍生物之一的反应)发射的信号，检测至少一种被分析物的存在。根据本专利技术的耐受性对照标记物具有以下优点：使得可以在分析方法结束时，且不仅在所述固体支持体的制备方法结束时，对固体支持体的斑点进行对照。因此，本专利技术使得可以向使用者保证结果。尤其是，本专利技术使得可以保证阴性结果的确是由于在样品中没有被分析物造成的结果，而不是例如由于没有斑点或斑点的读取中的移位造成的结果。换言之，本专利技术使得可以消除与斑点的缺陷(即，不符合品质判据的斑点)有关的和/或与分析方法结束时斑点的读取缺陷有关的假阴性结果(也称作“假阴性”)，所述假阴性结果在传统使用的多重分析方法(其中例如基于由阳性对照斑点发射的信号理论地调节读取栅格)中不可检测。本专利技术也使得可以保证阳性结果的确是由于在样品中存在被分析物造成的结果。例如，对应于在斑点的理论位置(由理论读取栅格限定，例如，基于由对照斑点发射的信号受到调节)上的被分析物的标记物，可能检测到信号，而在那个位置没有斑点；这样的假阳性结果(也称作“假阳性”)则会在传统分析方法的实施期间发生；通过在固体支持体的斑点中使用根据本专利技术的耐受性对照标记物，在斑点的理论位置将检测不到对应于所述耐受性对照标记物的信号，并且分析方法将导致没有造成结果，即使是在那个位置检测到了对应于被分析物的标记物的信号。本专利技术的另一个本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于检测在至少一个样品中的至少一种被分析物的方法，所述方法包括以下步骤：a)在固体支持体的区划的一个或多个斑点的存在下安放待分析的样品，所述斑点或所述多个斑点的至少一个包含至少一种耐受性对照标记物以及被分析物的至少一种捕捉配体，b)在所述区划的一个或多个斑点的存在下安放被分析物的至少一种检测配体，被分析物的所述检测配体与直接或间接检测标记物偶联，c)当被分析物的至少一种检测配体与间接检测标记物偶联时，在所述区划的一个或多个斑点的存在下安放所述间接检测标记物的报道物，d)当在步骤c)中使用的所述报道物与间接检测标记物偶联时，在所述区划的一个或多个斑点的存在下安放与在步骤c)中使用的所述报道物偶联的所述间接检测标记物的报道物，e)检测由在所述区划中的至少一种耐受性对照标记物产生的至少一种信号，f)由在步骤e)检测到至少一种信号的位置限定至少一个读取栅格，g)任选地，检测由被分析物的检测配体的至少一种检测标记物产生的信号，以及h)任选地，在步骤f)中限定的所述读取栅格上读取在步骤g)中检测的信号。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】2014.04.09 FR 14531691.一种用于检测在至少一个样品中的至少一种被分析物的方法，所述方法包括以下步骤：a)在固体支持体的区划的一个或多个斑点的存在下安放待分析的样品，所述斑点或所述多个斑点的至少一个包含至少一种耐受性对照标记物以及被分析物的至少一种捕捉配体，b)在所述区划的一个或多个斑点的存在下安放被分析物的至少一种检测配体，被分析物的所述检测配体与直接或间接检测标记物偶联，c)当被分析物的至少一种检测配体与间接检测标记物偶联时，在所述区划的一个或多个斑点的存在下安放所述间接检测标记物的报道物，d)当在步骤c)中使用的所述报道物与间接检测标记物偶联时，在所述区划的一个或多个斑点的存在下安放与在步骤c)中使用的所述报道物偶联的所述间接检测标记物的报道物，e)检测由在所述区划中的至少一种耐受性对照标记物产生的至少一种信号，f)由在步骤e)检测到至少一种信号的位置限定至少一个读取栅格，g)任选地，检测由被分析物的检测配体的至少一种检测标记物产生的信号，以及h)任选地，在步骤f)中限定的所述读取栅格上读取在步骤g)中检测的信号。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述由被分析物的检测配体的至少一种检测标记物产生的信号是发光信号。3.根据权利要求1或2所述的方法，其特征在于，所述耐受性对照标记物或多种所述耐受性对照标记物中的一种是荧光团。4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述耐受性对照标记物或多种所述耐受性对照标记物中的一种是荧光团，所述荧光团的激发光谱与由被分析物的所述一种或多种检测配体的检测标记物发射的信号或对应于被分析物的所述一种或多种检测配体的检测标记物的信号的发射光谱不交叠，并且所述荧光团的发射光谱与被分析物的所述一种或多种检测配体的检测标记物的发射光谱或对应于被分析物的所述一种或多种检测配体的检测标记物的发射光谱不交叠，或部分交叠。5.根据权利要求1至4中的一项所述的方法，其特征在于：-由被分析物的检测配体的至少一种检测标记物产生的信号是由化学发光化合物发射的光，所述化学发光化合物是通过过氧物酶与鲁米诺、鲁米诺的类似物、和/或鲁米诺或鲁米诺的类似物的衍生物的反应获得的，并且-由一种或多种所述耐受性对照标记物产生的信号是在375至550nm的波长之外发射的光。6.一种用于选择耐受性对照标记物的方法，所述方法包括以下步骤：a)在固体支持体的表面上沉积待测试的标记物，以形成至少一个斑点，b)任选地，将所述固体支持体的所述表面饱和，c)任选地，将所述固体支持体的所述表面干燥，d)进行以下步骤中的至少一个：(i)进行一个或多个洗涤步骤，(ii)在至少一种检测配体的存在下安放一个或多个斑点，(iii)在至少...

【专利技术属性】
技术研发人员：阿涅丝·罗瑟林·克洛德·普泽，樊尚·杜里，洛朗·埃玛纽埃尔·富尼耶，克里斯托夫·勒内·罗歇·韦德里纳，
申请(专利权)人：伯乐创新公司，
类型：发明
国别省市：法国;FR