信息处理方法及存储设备技术

本发明专利技术实施例公开了一种信息处理方法及存储设备，所述信息处理方法包括：对第一校验矩阵进行重排，得到第二校验矩阵；其中，所述第二校验矩阵分解形成的子矩阵包括T；所述T由所述第二校验矩阵中第1行到第m‑g行的最后m‑g列的元素构成；所述T的逆矩阵满足预设稀疏条件；其中，所述m为输入信息的校验位的位数；其中，所述m及g均为不小于2的整数；所述g小于所述m；利用所述第二校验矩阵对所述输入信息中的信息位进行编码校验，得到所述校验位。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及信息
，尤其涉及一种信息处理方法及存储设备。
技术介绍
低密度奇偶校验码(LowDensityParityCheck，LDPC)是一种常见的编码校验方式，在进行编码校验的过程中，将利用校验矩阵来进行信息校验，以进行纠错。但是研究发现，目前的LDPC校验方法通常存在着计算量大或复杂度高等导致计算效率低的问题。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术实施例期望提供一种信息处理方法及存储设备，至少部分解决计算效率低的问题。为达到上述目的，本专利技术的技术方案是这样实现的：本专利技术实施例第一方面提供一种信息处理方法，包括：对第一校验矩阵进行重排，得到第二校验矩阵；其中，所述第二校验矩阵分解形成的子矩阵包括T；所述T由所述第二校验矩阵中第1行到第m-g行的最后m-g列的元素构成；所述T的逆矩阵满足预设稀疏条件；其中，所述m为输入信息的校验位的位数；其中，所述m及g均为不小于2的整数；所述g小于所述m；利用所述第二校验矩阵对所述输入信息中的信息位进行编码校验，得到所述校验位。基于上述方案，所述第二校验矩阵分解形成的子矩阵还包括D；所述D满足第一预设循环条件；所述D由所述第二校验矩本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种信息处理方法，其特征在于，包括：对第一校验矩阵进行重排，得到第二校验矩阵；其中，所述第二校验矩阵分解形成的子矩阵包括T；所述T由所述第二校验矩阵中第1行到第m‑g行的最后m‑g列的元素构成；所述T的逆矩阵满足预设稀疏条件；其中，所述m为输入信息的校验位的位数；其中，所述m及g均为不小于2的整数；所述g小于所述m；利用所述第二校验矩阵对所述输入信息中的信息位进行编码校验，得到所述校验位。

【技术特征摘要】
1.一种信息处理方法，其特征在于，包括：对第一校验矩阵进行重排，得到第二校验矩阵；其中，所述第二校验矩阵分解形成的子矩阵包括T；所述T由所述第二校验矩阵中第1行到第m-g行的最后m-g列的元素构成；所述T的逆矩阵满足预设稀疏条件；其中，所述m为输入信息的校验位的位数；其中，所述m及g均为不小于2的整数；所述g小于所述m；利用所述第二校验矩阵对所述输入信息中的信息位进行编码校验，得到所述校验位。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述第二校验矩阵分解形成的子矩阵还包括D；所述D满足第一预设循环条件；所述D由所述第二校验矩阵中第m-g+1行至第m行中第n-m+1列至第n-m+g列的元素构成；所述n-m为所述输入信息中信息位的位数。3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述第二校验矩阵分解形成的子矩阵还包括B及E；所述E由所述第二校验矩阵中第m-g+1行到第m行的最后m-g列的元素构成；所述B由所述第二校验矩阵中第1行至第m-g行中第m+1列至第n-m+1列至第n-m+g列的元素构成；φ＝-ET-1B+D；其中，所述φ的逆矩阵满足第二预设循环条件。4.根据权利要求1、2或3所述的方法，其特征在于，所述利用所述第二校验矩阵对所述输入信息中的信息位进行编码校验，得到所述校验位，包括：利用p1T＝-φ-1(-ET-1A+C)sT，计算组成向量p1的校验位；利用p2T＝-T-1(AsT+Bp1T)，计算组成向量p2的校验位；其中，所述φ＝-ET-1B+D；所述E、所述A、所述B及所述C均为所述第
\t二校验矩阵分解形成的子矩阵；所述A由所述第二校验矩阵中第1行到第m-g行的第1列至第n-m列的元素构成；所述B由所述第二校验矩阵中第1行到第m-g行的第n-m+1列至第n-m+g列的元素构成；所述C由所述第二校验矩阵中第m-g+1行到第m行的第1列至第n-m列的元素构成；所述D由所述第二校验矩阵中第m-g+1行至第m行中第n-m+1列至第n-m+g列的元素构成；所述s为所述输入信息中的信息位组成的向量。5.一种存储设备，其特征在于，包括存...

【专利技术属性】
技术研发人员：李宗旺，罗骏，黄勤，王展，李立华，
申请(专利权)人：联想北京有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11