一种基于正射影像的结构面充填物细观地质编录方法技术

技术编号:14642633 阅读:79 留言:0更新日期:2017-02-15 22:43
本发明专利技术是一种利用高分辨率的正射影像进行结构面充填物细观地质编录的方法。传统米格纸手工编录方法是现场通过肉眼识别,对结构面进行绘制编录图,但对于结构面内充填物进行描绘时,现场很难进行肉眼识别,且在米格纸上绘制充填物精度过低。本发明专利技术通过现场拍照获取高分辨率正射影像,影像中包含结构面及顺结构面走向和垂直结构面走向的尺寸标记,内业处理中,借助AutoCAD对影像进行处理,利用尺寸标记,构建与现场1:1图形,而后对高分辨率影像通过放大照片的方式进行结构面充填物高精度解译与地质编录。本发明专利技术突破了传统手工编录无法精细化绘制结构面充填物的难题,获取的编录资料更为直观、可靠。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及地质编录技术,尤其涉及一种基于正射影像的结构面充填物细观地质编录方法
技术介绍
岩体中结构面的存在,使工程岩体失去其连续性和完整性,是影响工程稳定的重要因素。而其对工程岩体稳定性的影响主要受控于结构面的规模和工程地质性状,这就要求在工程地质勘察中对结构面进行地质编录,以查明结构面的空间展布特征、充填物厚度及物质组成等基本要素。传统的结构面地质编录是利用米格纸手工进行高精度的大比例尺编录,编录比例一般为1:50~1:10,但对于结构面而言,其充填物厚度有限,往往只有cm级,甚至mm级,传统编录存在以下缺陷:由于结构面充填物厚度有限,肉眼识别难度高,现场手工无法对其进行精细绘制,编录精度难以保证;编录展示图对结构面充填物的绘制多以概化后的形式反应,不够直观;现场编录工作量大,效率低。目前在结构面地质编录方面的探索,除放大编录比例尺外,在其它方面未取得有效的办法。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题在于针对现有技术中的缺陷,提供一种基于正射影像的结构面充填物细观地质编录方法。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是:一种基于正射影像的结构面充填物细观地质编录方法,包括以下步骤:A、结构面编录现场工作:步骤一,根据地质编录需求,确定结构面现场编录的范围;步骤二,利用厘米级精度的皮尺(卷尺等),在岩壁(面)上顺所要编录的结构面延伸方向布置尺寸标记,标记应尽量靠近结构面,距离控制在30cm以内,并每隔3m至5m做一个尺寸记号;步骤三,利用毫米级精度的直尺(钢卷尺等),垂直所要编录的结构面布置尺寸标记,根据结构面的长度,间隔每3m至5m布置一个标记;步骤四,利用高清数码相机或无人机对所要编录的结构面进行正摄拍照,拍照应尽量垂直编录面,且范围包括顺结构面及垂直结构面的尺寸标记;若需要分段拍摄,需保证相邻照片有15%至30%的重合部分;步骤五,绘制结构面编录草图,并对结构面充填物厚度及物质组成进行描述记录;B、结构面正射影像地质解译,包含以下步骤:步骤六,对现场拍摄的结构面正摄照片进行拼接;步骤七,照片完成拼接后,利用正摄照片中结构面的尺寸标记,借助AutoCAD软件将照片缩放至1:1的比例;步骤八,借助高分辨率的正摄影像,在AutoCAD软件中以描图的形式,对结构面的平面形态及充填物进行地质解译,形成解译编录展示图;C、将结构面正摄影像地质解译成果与现场结构面草图、充填物厚度及物质组成描述进行对比修正,形成最终地质编录成果。本专利技术产生的有益效果是:1)提高了结构面的编录精度,尤其是对其宽度及充填物的物质组成;2)将编录展示图和正摄影像相结合,结构面宽度及充填物物质组成直观明了;3)降低了结构面编录现场工作强度,提高了工作效率。附图说明下面将结合附图及实施例对本专利技术作进一步说明。图1是本专利技术实施例的方法流程图;图2是本专利技术实施例的结构面示意图。图中:1为所要编录结构面,2为顺结构面延伸方向布置发尺寸标记,3为尺寸记号,4为正射影像结构面充填物细观地质编录展示图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合实施例,对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术,并不用于限定本专利技术。如图1所示,一种基于正射影像的结构面充填物细观地质编录的方法,包括以下步骤:A、结构面编录现场工作,结构面示意图如图2所示:步骤一,根据地质编录需求,确定结构面现场编录的范围;步骤二,利用厘米级精度的皮尺,在岩壁面上顺所要编录的结构面延伸方向布置尺寸标记,标记应尽量靠近结构面,距离控制在30cm以内,并每隔3m至5m做一个尺寸记号;步骤三,利用毫米级精度的直尺,垂直所要编录的结构面布置尺寸标记,根据结构面的长度,间隔每3m至5m布置一个标记;步骤四,利用高清数码相机或无人机对所要编录的结构面进行正摄拍照,拍照应尽量垂直编录面,且范围包括顺结构面及垂直结构面的尺寸标记;若需要分段拍摄,需保证相邻照片至少有15%的重合部分;步骤五,绘制结构面编录草图,并对结构面充填物厚度及物质组成进行描述记录;B、结构面正射影像地质解译,包含以下步骤:步骤六,对现场拍摄的结构面正摄照片进行拼接;步骤七,照片完成拼接后,利用正摄照片中结构面的尺寸标记,借助AutoCAD软件将照片缩放至1:1的比例;步骤八,借助高分辨率的正摄影像,在AutoCAD软件中以描图的形式,对结构面的平面形态及充填物进行地质解译,形成解译编录展示图;C、将结构面正摄影像地质解译成果与现场结构面草图、充填物厚度及物质组成描述进行对比修正,形成最终地质编录成果。一个具体实例:某水电站拱肩槽边坡在开挖施工阶段揭露了ZTf1溶蚀结构面,我们选取该结构面在高程987.65m坝顶平台的出露部分,利用正射影像的结构面地质编录方法对其进行了编录。具体步骤如下:ZTf1结构面编录现场工作:利用厘米级精度的皮尺,顺ZTf1结构面布置尺寸标记,标记尽量靠近结构面;利用毫米级精度的钢卷尺,垂直ZTf1结构面布置尺寸标记;利用无人机对ZTf1结构面进行正摄拍照,拍照范围包括所有尺寸标记在内;现场绘制ZTf1结构面编录草图,并对结构面充填物厚度及物质组成进行描述记录。ZTf1结构面正射影像地质解译:利用正摄照片中结构面的尺寸标记,借助AutoCAD软件将照片缩放至1:1的比例;借助高分辨率的正摄影像,在AutoCAD软件中以描图的形式,对结构面的平面形态及充填物进行地质解译,形成解译编录展示图。将ZTf1结构面正摄影像地质解译成果与现场结构面草图、充填物厚度及物质组成描述进行对比修正,形成最终地质编录成果,如图1。应当理解的是,对本领域普通技术人员来说,可以根据上述说明加以改进或变换,而所有这些改进和变换都应属于本专利技术所附权利要求的保护范围。本文档来自技高网...
一种基于正射影像的结构面充填物细观地质编录方法

【技术保护点】
一种基于正射影像的结构面充填物细观地质编录的方法,其特征在于,包括以下步骤:A、结构面编录现场工作:步骤一,根据地质编录需求,确定结构面现场编录的范围;步骤二,利用厘米级精度的皮尺,在岩壁面上顺所要编录的结构面延伸方向布置尺寸标记,标记应尽量靠近结构面,距离控制在30cm以内,并每隔3m至5m做一个尺寸记号;步骤三,利用毫米级精度的直尺,垂直所要编录的结构面布置尺寸标记,根据结构面的长度,间隔每3m至5m布置一个标记;步骤四,利用高清数码相机或无人机对所要编录的结构面进行正摄拍照,拍照应尽量垂直编录面,且范围包括顺结构面及垂直结构面的尺寸标记;若需要分段拍摄,需保证相邻照片至少有15%的重合部分;步骤五,绘制结构面编录草图,并对结构面充填物厚度及物质组成进行描述记录;B、结构面正射影像地质解译,包含以下步骤:步骤六,对现场拍摄的结构面正摄照片进行拼接;步骤七,照片完成拼接后,利用正摄照片中结构面的尺寸标记,借助AutoCAD软件将照片缩放至1:1的比例;步骤八,借助高分辨率的正摄影像,在AutoCAD软件中以描图的形式,对结构面的平面形态及充填物进行地质解译,形成解译编录展示图;C、将结构面正摄影像地质解译成果与现场结构面草图、充填物厚度及物质组成描述进行对比修正,形成最终地质编录成果。...

【技术特征摘要】
1.一种基于正射影像的结构面充填物细观地质编录的方法,其特征在于,包括以下步骤:A、结构面编录现场工作:步骤一,根据地质编录需求,确定结构面现场编录的范围;步骤二,利用厘米级精度的皮尺,在岩壁面上顺所要编录的结构面延伸方向布置尺寸标记,标记应尽量靠近结构面,距离控制在30cm以内,并每隔3m至5m做一个尺寸记号;步骤三,利用毫米级精度的直尺,垂直所要编录的结构面布置尺寸标记,根据结构面的长度,间隔每3m至5m布置一个标记;步骤四,利用高清数码相机或无人机对所要编录的结构面进行正摄拍照,拍照应尽量垂直编录面,且范围包括顺结构面及垂直结构面的尺寸标记;...

【专利技术属性】
技术研发人员:王吉亮郝文忠魏雨军许琦黄孝泉周炳强徐磊杨静刘伟强喻久康丁海涛谢天琦
申请(专利权)人:长江三峡勘测研究院有限公司武汉
类型:发明
国别省市:湖北;42

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