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一种表面等离子体共振显微成像装置及方法制造方法及图纸

技术编号:14458204 阅读:267 留言:0更新日期:2017-01-19 15:20
本发明专利技术提出了一种面等离子体共振显微成像装置,其中,光源、物镜、CCD相机组成SPR显微成像光路,通过在物镜与相机中间设置PS分光镜,通过PS分光镜将光分成S光和P光,并在CCD相机上分开成像;还可以使用移动平台控制待测样品的移动可以降低背景噪音的干扰,可以较大程度的改善基线的平稳程度,从而可以获得清晰的纳米粒子信号。这两种方法可以改善SPR成像过程中光源波动和机械的整体噪声导致信噪比较低的问题,以及由于光学元件瑕疵,光的干涉等光路问题导致成像背景不均匀从而对实验观察和测量纳米粒子变化造成影响的问题。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于仪器设备领域,具体涉及一种SPR显微成像装置及方法。
技术介绍
表面等离子体共振(SurfacePlasmonResonance,SPR)是指金属表面存在的自由振动电子在一定条件下被光激发,吸收光的能量发生共振的物理光学过程。当光线从光密介质照射到光疏介质,在入射角大于某个特定的角度(临界角)时,会发生全反射(TotalInternalReflected,TIRF)现象,如图1所示。入射光和介质表面法线构成入射面,入射光波的电场可分解成两个相互正交的偏振光分量,一个为在入射面内的横磁波,将其称为TM波或p偏振波;另一个为垂直于入射面,与界面平行的横电波,将其称为TE波或s偏振波。入射光一部分发生反射形成反射光,另一部分则穿透金属表面形成折射波,沿着垂直于界面的方向按指数衰减,又称为消失波(Evanescentwave)。消失波在光疏介质中其有效穿透深度一般为100~200nm。其衰减的物理原因是因为导体内存在自由电子,在电磁波的作用下导体内出现诱导电流,产生焦耳热,消耗了电磁波的能量,因而振幅减弱。波的衰减方向总是与界面垂直,与入射波的方向无关,但是穿透深度与入射波的本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种表面等离子体共振显微成像装置,其中,光源、物镜、CCD相机组成表面等离子共振显微成像光路,其特征在于,在物镜与相机中间设置有PS分光镜,通过PS分光镜将光分成S光和P光,并在CCD相机上分开成像;还包括移动平台,用于控制待测样品的移动。

【技术特征摘要】
1.一种表面等离子体共振显微成像装置,其中,光源、物镜、CCD相机组成表面等离子共振显微成像光路,其特征在于,在物镜与相机中间设置有PS分光镜,通过PS分光镜将光分成S光和P光,并在CCD相机上分开成像;还包括移动平台,用于控制待测样品的移动。2.根据权利要求1所述的表面等离子体共振显微成像装置,其特征在于,所述移动平台为压电陶瓷平移台或电动移动平台。3.一种表面等离子体共振显微成像方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)在现有的SPR显微成像装置的显微镜和CCD相机之间安装PS分光镜,调整PS分光镜使得P光成像和S光成像分别在CCD芯片的两端,调整PS分光镜的偏振片的位置使得P光和S光成像的亮度大致相等,然后分别记录实验过程中P光成像与S光成像。由于SPR现象仅发生在P光,故实验信号发生在P光,而光源和机械等引起的噪声在P光和S光处同时存在,将选定区域的P光的信号减去S光处...

【专利技术属性】
技术研发人员:王伟王咏婕李萌
申请(专利权)人:南京大学
类型:发明
国别省市:江苏;32

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