光源设备、光源设备的控制方法、以及显示设备技术

本发明专利技术涉及一种光源设备、光源设备的控制方法、以及显示设备。根据本发明专利技术的光源设备包括：光源基板，其上配置有一个或多个发光单元；光学片材，用于反射来自所述发光单元的光；以及检测单元，用于检测所述光学片材所反射的反射光，其中，所述检测单元被配置在一个发光单元点亮时的由于所述光学片材的挠曲所引起的检测值的变化量的绝对值为预定值以下的位置处。

【技术实现步骤摘要】
本申请是申请日为2013年8月26日、申请号为201310376555.1、专利技术名称为“光源设备、光源设备的控制方法、以及显示设备”的申请的分案申请。
本专利技术涉及一种光源设备、该光源设备的控制方法、以及显示设备。
技术介绍
一些彩色图像显示设备包括具有彩色滤波器的彩色液晶面板、以及向该彩色液晶面板的背面照射白色光的光源设备(背光设备)。传统上，作为光源设备的光源，主要使用诸如冷阴极荧光灯(CCFL)等的荧光灯。然而，近来，发光二极管(LED)由于在电力消耗、产品寿命、颜色再现性和环境影响方面优良而已开始用于光源设备的光源。使用LED作为光源的光源设备(LED背光设备)通常具有多个LED。日本特开2001-142409公开了包括各自具有一个或多个LED的多个发光单元的LED背光设备。日本特开2001-142409还公开了针对各发光单元来控制亮度。通过使向彩色图像显示设备的画面中的显示暗图像的区域照射光的发光单元的发光亮度下降，电力消耗减少并且图像的对比度提高。将与图像的特性相对应的针对各发光单元的这种亮度控制称为“局部调光控制”。光源设备的一个问题是从发光单元发出的光的发光亮度的变化。例如，发光亮度因依赖于温度变化的光源的发光特性的变化、或者因光源的老化而改变。在具有多个发光单元的发光设备的情况下，由于多个发光单元之间的温度值和老化程度的偏差，因而在这些发光单元中产生发光亮度的偏差(亮度不均匀)。作为用于减少发光亮度的这些变化和亮度不均匀的技术，已知有使用光学传感器来调整发光单元的发光亮度的技术。具体地，配置用于检测从光源设备发出的光中的、被该光源设备的光学片材(光学构件)反射并且返回至发光单元侧的反射光的光学传感器，并且基于该光学传感器的检测值来调整发光单元的发光亮度。在具有多个发光单元的发光设备中，使各发光单元顺次变为ON(点亮)，针对各发光单元利用光学传感器来检测反射光，并且调整发光亮度。日本特开2011-27941公开了该技术。
技术实现思路
然而，在一个发光单元变为ON时的光学片材的发光侧表面上的亮度分布在该光学片材弯曲的情况下发生改变。在现有技术中，没有考虑到该变化，因而光学传感器的检测值由于光学片材的挠曲而大幅波动。结果，在使用现有技术的情况下，无法非常精确地调整发光单元的发光亮度。本专利技术提供如下一种光源设备、该光源设备的控制方法、以及显示设备，其中该光源设备、该光源设备的控制方法、以及显示设备使得能够获取到不会因光学片材的挠曲而大幅波动的检测值作为来自光学片材的反射光的检测值，并且能够非常精确地调整发光单元的发光亮度。本专利技术的第一方面提供一种光源设备，包括：光源基板，其上配置有一个或多个发光单元；光学片材，用于反射来自所述发光单元的光；以及检测单元，用于检测所述光学片材反射后的反射光，其中，所述检测单元配置在一个发光单元点亮时的由于所述光学片材的挠曲所引起的检测值的变化量的绝对值为预定值以下的位置处。本专利技术的第二方面提供一种显示设备，包括：所述光源设备；以及液晶面板，用于从所述液晶面板的背面侧接收来自所述光源设备的光。本专利技术的第三方面提供一种光源设备，包括：光源基板，其上配置有一个或多个发光单元；光学片材，用于反射来自所述发光单元的光；以及检测单元，用于检测所述光学片材反射后的反射光，其中，所述检测单元被配置成与所述光学片材的表面上的、一个发光单元点亮时的由于所述光学片材的挠曲所引起的该表面上的亮度的变化量的绝对值为预定值以下的位置相对。本专利技术的第四方面提供一种光源设备的控制方法，所述光源设备具有：光源基板，其上配置有多个发光单元；光学片材，用于反射来自所述发光单元的光；以及多个检测单元，用于检测所述光学片材反射后的反射光，所述控制方法包括以下步骤：点亮步骤，用于根据预定顺序使多个所述发光单元逐一点亮；以及检测步骤，用于通过使用多个所述检测单元中的配置在所述点亮步骤中一个发光单元点亮时的由于所述光学片材的挠曲所引起的检测值的变化量的绝对值为预定值以下的位置处的检测单元，来检测所述光学片材反射后的反射光。根据本实施例，可以获取到不会因光学片材的挠曲而大幅波动的检测值作为来自光学片材的反射光的检测值，并且可以非常精确地调整发光单元的发光亮度。通过以下参考附图对典型实施例的说明，本专利技术的其它特征将变得明显。附图说明图1A和图1B是示出根据实施例1的光源设备的示例的图；图2A和图2B是示出根据实施例1的光源设备的示例的图；图3是示出根据实施例1的光源设备的示例的框图；图4示出根据实施例1的对应表的示例；图5A和图5B是示出根据实施例1的发光单元和调整用光学传感器的位置关系的示例的图；图6(A)和(B)是示出根据实施例1的光源设备的结构和由于挠曲所引起的亮度的变化的图；图7是示出发光单元的发光亮度分布的示例的图；图8是示出光学片材的挠曲的示例的图；图9是示出由于光学片材的挠曲所引起的亮度的变化量和Rd之间的关系的示例的图；图10A和图10B是示出来自发光单元的光的指向性和过零点之间的关系的示例的图；图11示出根据实施例1的对应表的示例；图12A～图12C是示出根据实施例1的发光单元和调整用光学传感器之间的位置关系的示例的图；图13A～图13C是示出根据实施例1的光源基板的示例的图；图14A～图14C是示出根据实施例2的发光单元的示例的图；图15是示出由于光学片材的挠曲所引起的亮度的变化量和Rd之间的关系的示例的图；图16A和图16B是示出根据实施例2的发光单元和调整用光学传感器的示例的图；图17是示出根据实施例2的发光单元和调整用光学传感器之间的位置关系的示例的图；图18A和图18B是示出根据实施例2的发光单元和调整用光学传感器之间的位置关系的示例的图；图19A～图19C是示出根据实施例3的光源设备的示例的图；图20示出根据实施例3的对应表的示例；图21A～图21C是示出根据实施例3的发光单元和调整用光学传感器之间的位置关系的示例的图；图22是示出根据实施例3的发光单元和调整用光学传感器之间的位置关系的示例的图；图23是示出由于光学片材的挠曲所引起的亮度的变化量和Rd之间的关系的示例的图；图24A～图24C是示出根据实施例3的误差的示例的图；图25示出根据实施例3的对应表的示例；图26A和图26B是示出根据实施例3的误差的示例的图；图27是示出根据实施例3的光源设备的示例的图；图28示出根据实施例3的对应表的示例；图29示出根据实施例3的对应表的示例；图30是示出根据实施例3的发光单元和调整用光学传感器之间的位置关系的示例的图；图31A～图31C是示出根据实施例3的光源设备的示例的图；图32示出根据实施例3的对应表的示例；图33A～图33C是示出根据实施例3的发光单元和调整用光学传感器之间的位置关系的示例的图；图34是示出根据实施例3的发光单元和调整用光学传感器之间的位置关系的示例的图；以及图35是示出由于光学片材的挠曲所引起的亮度的变化量和Rd之间的关系的示例的图。具体实施方式实施例1现在将说明根据本专利技术的实施例1的光源设备及其控制方法。本实施例示出光源设备是彩色图像显示设备所使用的背光设备的情况，但光源设备不限于显示设备所使用的背光设备。光源设备可以是诸如路灯和室内照明等的照明设备。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种光源设备，包括：光源基板，其上配置有多个发光单元；光学片材，用于透过并反射来自所述多个发光单元中的各发光单元的光；以及多个检测单元，各自用于检测对象发光单元点亮时所述光学片材反射后的反射光，所述光源设备的特征在于还包括：调整单元，用于基于从所述多个检测单元中所选择的检测单元的检测值，来调整所述对象发光单元的发光亮度，其中，所述调整单元选择位于靠近如下位置的检测单元，其中在该位置，所述对象发光单元点亮时的由于所述光学片材的挠曲所引起的所述光学片材的表面上的亮度的变化量大致为零。

【技术特征摘要】
2012.08.24 JP 2012-1855381.一种光源设备，包括：光源基板，其上配置有多个发光单元；光学片材，用于透过并反射来自所述多个发光单元中的各发光单元的光；以及多个检测单元，各自用于检测对象发光单元点亮时所述光学片材反射后的反射光，所述光源设备的特征在于还包括：调整单元，用于基于从所述多个检测单元中所选择的检测单元的检测值，来调整所述对象发光单元的发光亮度，其中，所述调整单元选择位于靠近如下位置的检测单元，其中在该位置，所述对象发光单元点亮时的由于所述光学片材的挠曲所引起的所述光学片材的表面上的亮度的变化量大致为零。2.一种光源设备，包括：光源基板，其上配置有多个发光单元；光学片材，用于透过并反射来自所述多个发光单元中的各发光单元的光；以及多个检测单元，各自用于检测对象发光单元点亮时所述光学片材反射后的反射光，所述光源设备的特征在于还包括：调整单元，用于基于从所述多个检测单元中所选择的检测单元的检测值，来调整所述对象发光单元的发光亮度，其中，所述调整单元考虑到所述光学片材的挠曲来选择除离所述对象发光单元最近的检测单元以外的检测单元。3.根据权利要求1或2所述的光源设备，其中，所述调整单元选择位于如下位置的检测单元，其中该位置相对于所述对象发光单元的发光中心远离了所述对象发光单元和所述光学片材之间的距离的2.75～5.37倍的距离。4.根据权利要求1或2所述的光源设备，其中，所述调整单元不选择位于如下位置的检测单元，其中该位置相对于所述对象发光单元的发光中心远离了所述对象发光单元和所述光学片材之间的距离的小于2.75倍或大于5.37倍的距离。5.根据权利要求1或2所述的光源设备，其中，所述调整单元选择位于如下位置的检测单元，其中该位置相对于所述对象发光单元的发光中心远离了所述对象发光单元和所述光学片材之间的距离的大致4倍的距离。6.根据权利要求3所述的光源设备，其中，位于相对于所述对象发光单元的发光中心远离了所述对象发光单元和所述光学片材之间的距离的2.75～5.37倍的距离的位置处的检测单元并非是离所述对象发光单元最近的检测单元。7.根据权利要求2所述的光源设备，其中，从所述对象发光单元的发光中心到离所述对象发光单元最近的检测单元的距离短于所述对象发光单元和所述光学片材之间的距离的2.75倍的距离。8.根据权利要求1或2所述的光源设备，其中，所述多个发光单元包括发出指向性相互不同的各种光的两个以上的发光单元，以及发出指向性较高的光的发光单元的发光中心和调整发出指向性较高的光的发光单元的发光亮度所使用的检测单元之间的距离短于发出指向性较...

【专利技术属性】
技术研发人员：栗田昌尚，
申请(专利权)人：佳能株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP