触控显示模组及触控显示模组的电性能检测装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术公开一种触控显示模组及触控显示模组的电性能检测装置；其中，触控显示模组包括触控显示本体及辅助测试电路；所述触控显示本体包括呈一定规则排列的N个电容板极，所述辅助测试电路包括N个开关单元及M个测试引出针脚；每一所述开关单元具有输入端、输出端及受控端，所述测试引出针脚包括控制针脚和测试针脚；所述开关单元的输入端与所述电容板极一一对应连接，所述控制针脚与所述开关单元的受控端、所述测试针脚与所述开关单元的输出端交织连接。本实用新型专利技术技术方案能准确检测出触控显示模组的电性能是否正常。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及电子测量仪器及设备
，特别涉及一种触控显示模组及触控显示模组的电性能检测装置。
技术介绍
电容式触控显示屏已经成为智能电子设备不可或缺的部分。现有的电容式触控显示屏由触控显示模组、控制芯片及其它部件组装而成。在生产过程中，存在将不合格的触控显示模组与合格的控制芯片及其它部件组装在一起，导致成型的触控显示屏不合格的情况。这样，与不合格的触控显示模组组装在于一起的合格的控制芯片及其它部件就报废了。因此，在触控显示模组与控制芯片及其它部件组装在一起之前，需要对触控显示模组的性能进行检测，以减少因触控显示模组不合格而造成的资源浪费。
技术实现思路
本技术的主要目的是提供一种触控显示模组，旨在方便检测该触控显示模组的电性能。为实现上述目的，本技术提出的触控显示模组包括触控显示本体及辅助测试电路；所述触控显示本体包括呈一定规则排列的N个电容板极，所述辅助测试电路包括N个开关单元及M个测试引出针脚；每一所述开关单元具有输入端、输出端及受控端，所述测试引出针脚包括控制针脚和测试针脚；所述开关单元的输入端与所述电容板极一一对应连接，所述控制针脚与所述开关单元的受控端、所述测试针脚与所述开关单元的输出端交织连接。优选地，所述电容板极呈I行J列矩阵排列。优选地，I行J列所述电容板极位于一个平面上。优选地，I行J列所述电容板极位于一个曲面上。对应地，本技术还提出一种触控显示模组的电性能检测装置，用于检测如上所述的触控显示模组的电性能，该触控显示模组的电性能检测装置包括控制模块、信号源模块、测试模块及处理模块；所述控制模块，用于向所述控制针脚输出测试选通信号，从而选出控制端与选中的控制针脚连接的开关单元，以及用于向所述测试针脚输出测试信号，从而选出输出端与选中的测试针脚连接的开关单元；所述信号源模块，用于生成测试功能所需要的，对控制端与选中的控制针脚连接，并且输出端与选中的测试针脚连接的开关单元输出测试信号；所述测试模块，用于对控制端与选中的控制针脚连接，并且输出端与选中的测试针脚连接的开关单元输出的反馈信号进行测试，并输出相应的电参数；所述处理模块，用于根据所述电参数判断触控显示模组的电性能是否正常。优选地，所述测试模块包括电容测试单元和电阻测试单元；所述电容测试单元，用于对控制端与选中的控制针脚连接，并且输出端与选中的测试针脚连接的开关单元输出的反馈信号进行测试，并根据反馈信号的电容分量输出相应的电容值；所述电阻测试单元，用于对控制端与选中的控制针脚连接，并且输出端与选中的测试针脚连接的开关单元输出的反馈信号进行测试，并根据反馈信号的电阻分量输出相应的电阻值。优选地，所述处理模块包括判定单元及循环单元；所述判定单元，用于根据所述电参数判断与被选中的开关单元连接的电容板极的电性能是否正常；所述循环单元，用于在所述电参数判断与被选中的开关单元连接的电容板极的电性能正常时，判断所有电容板极的电性能是否检测完毕，直到判定单元判定与任意一个开关单元连接的电容板极的电参数正常。本技术技术方案通过采用将辅助测试电路分为N个开关单元和M个测试引出针脚，并且使开关单元的输入端与触控显示本体中的电容板极一一对应连接，控制针脚与开关单元的受控端、测试针脚与开关单元的输出端交织连接。这样，通过向控制针脚及测试针脚输入对应的信号，就可以选出任意一个开关单元，从而选中与选出的开关单元连接的电容板极，进而完成对单个电容板极的电性能的测试。此外，通过向空中针脚及测试针脚输入对应的控制信号，也可以选出任意两个开关单元，从而选中与选出的开关单元连接的两个相邻的电容板极，进而完成对电容板极之间的电性能的测试。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。图1(1)为本技术触控显示模组第一实施例中触控显示本体的结构示意图；图1(2)为本技术触控显示模组第一实施例中辅助测试电路的结构示意图；图2(1)为本技术触控显示模组第二实施例中触控显示本体的结构示意图；图2(2)为本技术触控显示模组第二实施例中辅助测试电路的一种结构示意图；图2(3)为本技术触控显示模组第二实施例中辅助测试电路的另一种结构示意图；图3(1)为本技术触控显示模组第三实施例中触控显示本体的结构示意图；图3(2)为本技术触控显示模组第三实施例中辅助测试电路的结构示意图；图4为本技术触控显示模组的电性能检测装置一实施例的功能模块示意图；图5为图4中测试模块一实施例的功能模块示意图；图6为图4中处理模块一实施例的功能模块示意图本技术目的的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图做进一步说明。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。需要说明，本技术实施例中所有方向性指示(诸如上、下、左、右、前、后……)仅用于解释在某一特定姿态(如附图所示)下各部件之间的相对位置关系、运动情况等，如果该特定姿态发生改变时，则该方向性指示也相应地随之改变。另外，在本技术中涉及“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本技术要求的保护范围之内。本技术提出一种触控显示模组，包括触控显示本体100及辅助测试电路200，触控显示本体100包括呈一定规则排列的N个电容板极10，辅助测试电路200包括N个开关单元20及M个测试引出针脚；每一开关单元20具有输入端、输出端及受控端，测试引出针脚包括控制针脚K和测试针脚P；开关单元20的输入端与电容板极10一一对应连接，控制针脚K与开关单元20的受控端、测试针脚P与开关单元20的输出端交织连接。其中，M和N均为正整数。参照图1(1)和图1(2)，在一实施例中，触控显示本体100包括呈4行6列矩阵排列的24个电容板极10，辅助测试电路200包括24个开关单元20、6个控制针脚K和8个测试针脚P。为便于描述，本实施例将触控显示本体100置于平面直角坐标系中，每一电容板极10都有一与之对应的坐标。图1(1)和图1(2)中，开关单元的输入端与电容板极的对应连接关系如下表1所示：表1图1(1)和图1(2)中，开关单元20的受控端与控制针脚K的对应连接关系如下表2所示：表2图1(1)和图1(2)中，开关单元20的输出端与测试针脚Q的对应连接关系如下表3所示：表3参照图2(1)、图2(2)和图2(3)，在一实施例本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触控显示模组，其特征在于，包括触控显示本体及辅助测试电路；所述触控显示本体包括呈一定规则排列的N个电容板极，所述辅助测试电路包括N个开关单元及M个测试引出针脚；每一所述开关单元具有输入端、输出端及受控端，所述测试引出针脚包括控制针脚和测试针脚；所述开关单元的输入端与所述电容板极一一对应连接，所述控制针脚与所述开关单元的受控端、所述测试针脚与所述开关单元的输出端交织连接。

【技术特征摘要】
1.一种触控显示模组，其特征在于，包括触控显示本体及辅助测试电路；所述触控显示本体包括呈一定规则排列的N个电容板极，所述辅助测试电路包括N个开关单元及M个测试引出针脚；每一所述开关单元具有输入端、输出端及受控端，所述测试引出针脚包括控制针脚和测试针脚；所述开关单元的输入端与所述电容板极一一对应连接，所述控制针脚与所述开关单元的受控端、所述测试针脚与所述开关单元的输出端交织连接。2.如权利要求1所述的触控显示模组，其特征在于，所述电容板极呈I行J列矩阵排列。3.如权利要求2所述的触控显示模组，其特征在于，I行J列所述电容板极位于一个平面上。4.如权利要求2所述的触控显示模组，其特征在于，I行J列所述电容板极位于一个曲面上。5.一种触控显示模组的电性能检测装置，用于检测如权利要求1至4任意一项所述的触控显示模组的电性能，其特征在于，包括控制模块、信号源模块、测试模块及处理模块；所述控制模块，用于向所述控制针脚输出测试选通信号，从而选出控制端与选中的控制针脚连接的开关单元，以及用于向所述测试针脚输出测试信号，从而选出输出端与选中的测试针脚连接的开关单元；所述信号源模块，用于生成测试功能所需要的，对控制端与选中的控制针脚连接，并且...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐大鹏，张滨，
申请(专利权)人：深圳精智达技术股份有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44