一种用于验证LED灯珠防硫化工艺的硫化试验方法技术

本发明专利技术公开了一种用于验证LED灯珠防硫化工艺的硫化试验方法，经过硫化试验后LED灯珠的各项参数的测试数据偏差均超出了误差允许范围；另外，将硫化处理后的LED灯珠样品放到显微镜下观察，发现其底部已明显变黑。本发明专利技术通过该试验方法对经过防硫化工艺处理的LED灯珠进行硫化处理，用以验证防硫化工艺的有效性和可靠性，经过该方法验证得出结论，防硫化工艺没有效果，不能达到防硫化的作用；同时通过该方法的验证，实现了对防硫化工艺真实性和有效性的确认。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于LED灯条生产
，特别是涉及一种用于验证LED灯珠防硫化工艺的硫化试验方法。
技术介绍
进入工业时代以后，人类大量使用含硫量高的煤、石油、天然气等化石燃料，导致空气中含硫量急剧升高，含硫的气体会通过其多孔性结构的硅胶或支架缝隙进入LED内部，与光源镀银层发生硫化反应，其化学反应方程式为2Ag+S＝Ag2S。LED光源出现硫化反应后，产品功能区会黑化，光通量会逐渐下降，色温出现明显漂移；硫化后的硫化银随温度升高导电率增加，在使用过程中，极易出现漏电现象；更严重的状况是银层完全被腐蚀，铜层暴露。由于金线二焊点附着在银层表面，当支架功能区银层被完全硫化腐蚀后，金球出现脱落。另外，LED灯具里面有五十多种原物料，这些物料里面也可能含有硫元素。在密闭、高温的环境中，这些硫元素可能会挥发成气体并腐蚀LED光源，从而出现死灯。为了防止LED灯珠内腐蚀，LED灯珠增加了防硫工艺，然而为了验证这些工艺是否能够真的有防硫功能，所以急需一种试验来验证这些工艺。所以硫化试验是必不可少的环节。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种用于验证LED灯珠防硫化工艺的硫化试验方法，通过该方法的应用，解决了现有的LED防硫化工艺的效果的可靠性以及缺少验证的问题。为解决上述技术问题，本专利技术是通过以下技术方案实现的：本专利技术为一种用于验证LED灯珠防硫化工艺的硫化试验方法，该方法包括以下具体步骤：步骤一，用显微镜选取经过防硫化工艺处理的LED灯珠样品20颗，而且该LED灯珠样品支架侧面底部无裂纹、无胶裂、胶与碗杯无剥离的LED灯珠样品，将样品放入烤箱内除湿2小时，烘烤温度为120℃；步骤二，用远方积分球测试系统测试经步骤一处理的LED灯珠样品的初始光电参数，并记录初始光电参数数据，其中初始光电参数数据包括初始光通量值、初始X坐标值、初始Y坐标值、初始电压值和初始电流值，远方积分球测试系统用于实现LED灯珠的瞬态光学特性测量、稳态光学特性测量以及电参数的测量；步骤三，取纯度≧99.5％的硫粉13g，将其均匀平铺于1000ml烧杯底部；步骤四，将LED灯珠样品正面朝上并通过双面高温胶带贴在PCB板上面，然后将PCB板放置在高度为3cm高的钢网支架上，之后将PCB板连同钢网支架一起放到烧杯内，使LED灯珠样品表面与硫粉表面相对水平，则两者之间距离为3cm；步骤五，将烧杯口密封后，再将烧杯放到烤箱内烘烤，烘烤温度为75℃，24小时后取出；步骤六，将经过步骤五处理过的LED灯珠样品在显微镜下进行外观检验，如果LED灯珠底部无明显发黑，则外观合格；如果LED灯珠底部明显发黑，则外观不合格；步骤七，用远方积分球测试系统测试LED灯珠样品的试验后光电参数，并记录试验后光电参数数据，其中试验后光电参数数据包括试验后光通量值、试验后X坐标值、试验后Y坐标值、试验后电压值和试验后电流值；步骤八，将试验后光电参数数据与初始光电参数数据进行对比分析，若数据偏差在误差范围内，则合格；若数据偏差超出误差范围，则不合格；其中，误差范围为光通量偏差＜20％、X坐标偏差＜0.01、Y坐标偏差＜0.01。本专利技术具有以下有益效果：本专利技术通过该试验方法对经过防硫化工艺处理的LED灯珠进行硫化处理，用以验证防硫化工艺的有效性和可靠性，经过该方法验证得出结论，防硫化工艺没有效果，不能达到防硫化的作用；同时通过该方法的验证，实现了对防硫化工艺真实性和有效性的确认。当然，实施本专利技术的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本专利技术的一种用于验证LED灯珠防硫化工艺的硫化试验方法的试验参考图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1所示，本专利技术为一种用于验证LED灯珠防硫化工艺的硫化试验方法，该方法包括以下具体步骤：步骤一，用显微镜选取经过防硫化工艺处理的LED灯珠样品20颗，而且该LED灯珠样品支架侧面底部无裂纹、无胶裂、胶与碗杯无剥离的LED灯珠样品，将样品放入烤箱内除湿2小时，烘烤温度为120℃；步骤二，用远方积分球测试系统测试经步骤一处理的LED灯珠样品的初始光电参数，并记录初始光电参数数据，其中初始光电参数数据包括初始光通量值、初始X坐标值、初始Y坐标值、初始电压值和初始电流值，远方积分球测试系统用于实现LED灯珠的瞬态光学特性测量、稳态光学特性测量以及电参数的测量；步骤三，取纯度≧99.5％的硫粉13g，将其均匀平铺于1000ml烧杯底部；步骤四，将LED灯珠样品正面朝上并通过双面高温胶带贴在PCB板上面，然后将PCB板放置在高度为3cm高的钢网支架上，之后将PCB板连同钢网支架一起放到烧杯内，使LED灯珠样品表面与硫粉表面相对水平，则两者之间距离为3cm；步骤五，将烧杯口密封后，再将烧杯放到烤箱内烘烤，烘烤温度为75℃，24小时后取出；步骤六，将经过步骤五处理过的LED灯珠样品在显微镜下进行外观检验，如果LED灯珠底部无明显发黑，则外观合格；如果LED灯珠底部明显发黑，则外观不合格；步骤七，用远方积分球测试系统测试LED灯珠样品的试验后光电参数，并记录试验后光电参数数据，其中试验后光电参数数据包括试验后光通量值、试验后X坐标值、试验后Y坐标值、试验后电压值和试验后电流值；步骤八，将试验后光电参数数据与初始光电参数数据进行对比分析，若数据偏差在误差范围内，则合格；若数据偏差超出误差范围，则不合格；其中，误差范围为光通量偏差＜20％、X坐标偏差＜0.01、Y坐标偏差＜0.01。本实施例的一个硫化试验报告如下：其中，上述LED硫化试验报告中：ΔX＝|试验后X值-初始X值|，ΔY＝|试验后Y值-初始Y值|，根据对上表中各项数据分析对比可知，经过硫化试验后LED灯珠的各项参数的测试数据偏差均超出了误差允许范围；另外，将硫化处理后的LED灯珠样品放到显微镜下观察，发现其底部已明显变黑。综上所述，得出试验结论：经过防硫化工艺处理的LED灯珠并不能起到防硫化的作用。在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“示例”、“具体示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本专利技术的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。最后需要说明的是，以上公开的本专利技术优选实施例只是用于帮助阐述本专利技术。优选实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该专利技术仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本专利技术的原理和实际应用，从而使所属
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【技术保护点】
一种用于验证LED灯珠防硫化工艺的硫化试验方法，其特征在于：该方法包括以下具体步骤：步骤一，用显微镜选取经过防硫化工艺处理的LED灯珠样品20颗，而且该LED灯珠样品支架侧面底部无裂纹、无胶裂、胶与碗杯无剥离的LED灯珠样品，将样品放入烤箱内除湿2小时，烘烤温度为120℃；步骤二，用远方积分球测试系统测试经步骤一处理的LED灯珠样品的初始光电参数，并记录初始光电参数数据，其中初始光电参数数据包括初始光通量值、初始X坐标值、初始Y坐标值、初始电压值和初始电流值，远方积分球测试系统用于实现LED灯珠的瞬态光学特性测量、稳态光学特性测量以及电参数的测量；步骤三，取纯度≧99.5％的硫粉13g，将其均匀平铺于1000ml烧杯底部；步骤四，将LED灯珠样品正面朝上并通过双面高温胶带贴在PCB板上面，然后将PCB板放置在高度为3cm高的钢网支架上，之后将PCB板连同钢网支架一起放到烧杯内，使LED灯珠样品表面与硫粉表面相对水平，则两者之间距离为3cm；步骤五，将烧杯口密封后，再将烧杯放到烤箱内烘烤，烘烤温度为75℃，24小时后取出；步骤六，将经过步骤五处理过的LED灯珠样品在显微镜下进行外观检验，如果LED灯珠底部无明显发黑，则外观合格；如果LED灯珠底部明显发黑，则外观不合格；步骤七，用远方积分球测试系统测试LED灯珠样品的试验后光电参数，并记录试验后光电参数数据，其中试验后光电参数数据包括试验后光通量值、试验后X坐标值、试验后Y坐标值、试验后电压值和试验后电流值；步骤八，将试验后光电参数数据与初始光电参数数据进行对比分析，若数据偏差在误差范围内，则合格；若数据偏差超出误差范围，则不合格；其中，误差范围为光通量偏差＜20％、X坐标偏差＜0.01、Y坐标偏差＜0.01。...

【技术特征摘要】
1.一种用于验证LED灯珠防硫化工艺的硫化试验方法，其特征在于：该方法包括以下具体步骤：步骤一，用显微镜选取经过防硫化工艺处理的LED灯珠样品20颗，而且该LED灯珠样品支架侧面底部无裂纹、无胶裂、胶与碗杯无剥离的LED灯珠样品，将样品放入烤箱内除湿2小时，烘烤温度为120℃；步骤二，用远方积分球测试系统测试经步骤一处理的LED灯珠样品的初始光电参数，并记录初始光电参数数据，其中初始光电参数数据包括初始光通量值、初始X坐标值、初始Y坐标值、初始电压值和初始电流值，远方积分球测试系统用于实现LED灯珠的瞬态光学特性测量、稳态光学特性测量以及电参数的测量；步骤三，取纯度≧99.5％的硫粉13g，将其均匀平铺于1000ml烧杯底部；步骤四，将LED灯珠样品正面朝上并通过双面高温胶带贴在PCB板上面，然后将PCB板放置在高度为3cm高的钢网...

【专利技术属性】
技术研发人员：李峰，彭友，陈龙，郭小锋，
申请(专利权)人：安徽芯瑞达电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34