工件斜面倾斜角度的测量方法技术

本发明专利技术提供一种工件斜面倾斜角度的测量方法，包括：将待测工件放置于基准面上，待测工件的斜面朝向远离基准面的方向；将挡块放置于基准面上，且与斜面的下边缘贴紧，挡块朝向待测工件的表面与斜面之间形成容置空间；将测量圆棒放置于容置空间内，且分别与挡块朝向待测工件的表面和斜面贴紧；采用高度规测针分别测量测量圆棒最高点相对于基准面的高度，以及斜面的下边缘相对于基准面的高度；根据测量圆棒最高点相对于基准面的高度和斜面的下边缘相对于基准面的高度得到斜面的倾斜角度。本发明专利技术提供的工件斜面倾斜角度的测量方法能够解决现有技术中对斜面倾斜角度测量步骤较繁琐的问题，以简化测量步骤，提高生产效率。

Method for measuring inclined angle of workpiece

The invention provides a workpiece slope angle measurement method, including: the test workpiece placed on the reference surface, to be inclined toward the direction away from the workpiece base; a block is placed on the reference surface, and under the edge bevel Tiejin, a containing space is formed between the block to be measured the surface of the workpiece and the inclined surface; measurement of circular rods are placed inside the holding space, and the block toward the measured workpiece surface and inclined tightly; using height gauge measuring needle respectively measuring rod relative to the height of the highest point of reference, and the lower edge of the slope relative to the height datum; according to the measuring rod the highest point relative to the height datum and the lower edge of the slope relative to the datum plane height angle plane. The method for measuring the inclined angle of the inclined plane of the workpiece can solve the problem that the measuring procedure of the inclined angle of the inclined plane is more complicated in the prior art, so as to simplify the measuring steps and improve the production efficiency.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及工件尺寸测量技术，尤其涉及一种工件斜面倾斜角度的测量方法。
技术介绍
一些具有斜面的工件，其斜面通常是通过磨床来加工形成的，例如一个形状为长方体的工件，在其一个表面上进行加工形成斜面，斜面的上边缘与第一表面相邻，斜面的下边缘与第二表面相邻，第一表面与第一表面平行且为相对的表面。在加工完毕后，需要测量斜面的倾斜角度是否符合要求，通常是将待测工件运送至专门的测量工段进行三次元测量。采用三次元测量方式对斜面的倾斜角度进行测量的具体实现过程可参照图1所示，图1为现有技术中对工件斜面的倾斜角度进行测量的结构示意图。待测工件1经过磨床加工形成有斜面11，斜面11具有上边缘111和下边缘112，在斜面11上预设四个测量点12。采用三次元探针2分别在四个测量点12上进行测量，然后将工件尺寸以及通过三次元探针2测量得到的四个测量点12的数据转换为3D图档，建立坐标系计算得出斜面11的倾斜角度。上述测量过程比较繁琐，首先需要将工件从磨床工段运送至测量工段，需要耗费人力、物力和时间，其次三次元测量方式也至少需要花费8分钟左右的时间，而且需要具有专业技能的操作人员才能测量，普通操作人员无法测量，无形中延长了工件的加工时间，使得生产效率较低。
技术实现思路
本专利技术提供一种工件斜面倾斜角度的测量方法，用以解决现有技术中对斜面倾斜角度测量步骤较繁琐的问题，以简化测量步骤，提高生产效率。本专利技术实施例提供一种工件斜面倾斜角度的测量方法，包括：将待测工件放置于基准面上，所述待测工件的斜面朝向远离基准面的方向；将挡块放置于基准面上，且与所述斜面的下边缘贴紧，所述挡块朝向所述待测工件的表面与斜面之间形成容置空间；将测量圆棒放置于所述容置空间内，且分别与所述挡块朝向所述待测工件的表面和所述斜面贴紧；采用高度规测针分别测量所述测量圆棒最高点相对于所述基准面的高度，以及所述斜面的下边缘相对于所述基准面的高度；根据测量圆棒最高点相对于所述基准面的高度和斜面的下边缘相对于所述基准面的高度得到所述斜面的倾斜角度。进一步的，所述测量圆棒的半径小于所述挡块相对于所述基准面的高度和斜面的下边缘相对于所述基准面的高度之间的差值。进一步的，根据测量圆棒最高点相对于所述基准面的高度和斜面的下边缘相对于所述基准面的高度得到所述斜面的倾斜角度，包括：根据测量圆棒最高点相对于所述基准面的高度和斜面的下边缘相对于所述基准面的高度，采用如下公式计算得到所述斜面的倾斜角度，其中，A为测量圆棒最高点相对于所述基准面的高度，C为和斜面的下边缘相对于所述基准面的高度，R为测量圆棒的半径，∠θ为斜面的倾斜角度。进一步的，所述挡块朝向所述待测工件的表面与所述待测工件朝向挡块的表面的变化规律相匹配。进一步的，所述挡块朝向所述待测工件的表面与所述基准面垂直。进一步的，所述挡块朝向所述待测工件的表面为平面。进一步的，所述测量圆棒为标准圆棒。与现有技术相比，本专利技术实施例提供的技术方案不需要对工件进行工段之间的运送，在磨床工段完成之后立刻可以测量得到倾斜角度，节省了人力、物力和时间；而且相比于三次元测量的方式，本实施例的技术方案通过采用一挡块与待测工件斜面的下边缘贴紧，以使挡块与待测工件的斜面之间形成一容置测量圆棒的容置空间，采用高度规测针分别测量圆棒最高点相对于基准面的高度，以及斜面的下边缘相对于基准面的高度，就可以得到斜面的倾斜角度，其测量方式较为简单，普通操作人员就可以操作，简化了斜面的测量步骤，缩短了测量时间，待得到测量结果就可以对磨床的磨制过程进行调整，缩短工件整体的生产过程，提高生产效率。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为现有技术中对工件斜面的倾斜角度进行测量的结构示意图；图2为实施例一提供的工件斜面倾斜角度的测量方法的流程图；图3为实施例一提供的工件斜面倾斜角度的结构示意图；图4为实施例二提供的工件斜面倾斜角度的计算方法的示意图一；图5为实施例二提供的工件斜面倾斜角度的计算方法的示意图二。附图标记：1-待测工件；11-斜面；111-上边缘；112-下边缘；12-测量点；2-三次元探针；3-基准面；4-挡块；5-测量圆棒；6-高度规测针。具体实施方式为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。实施例一本实施例提供一种工件斜面倾斜角度的测量方法，可实现在磨床工段中，待测工件的斜面加工完毕后，操作人员可立即对斜面的倾斜角度进行测量，并迅速得知是否符合要求，以简化测量步骤，提高生产效率。图2为实施例一提供的工件斜面倾斜角度的测量方法的流程图，图3为实施例一提供的工件斜面倾斜角度的结构示意图。如图2和图3所示，本实施例提供的方法包括如下几个步骤：步骤101、将待测工件放置于基准面上，待测工件的斜面朝向远离基准面的方向。该基准面可以为竖直平面，也可以为水平面。而将基准面设置为水平面，可以更方便地对后续尺寸进行测量，提高测量速度和精确度。如图3所示，本实施例中，基准面3为水平面，将待测工件1放置在基准面3上，斜面11远离基准面3，即：斜面11朝上。步骤102、将挡块放置于基准面上，且与斜面的下边缘贴紧，挡块朝向待测工件的表面与斜面之间形成容置空间。同样的，将挡块4也放置在水平的基准面3上，且与斜面11的下边缘112贴紧(图2中未标识下边缘112，可参照图1中所示出的结构)。由于待测工件1的形状并不限定于本申请所提出的长方体，因此对于不同形状的待测工件1，可以采用适当形状的挡块4，以使挡块4与斜面11的下边缘112之间形成如图3所示的用于容纳测量圆棒5的容置空间。为了便于对实现方式进行详细的举例说明，本实施例仅以待测工件1为长方体为例，在待测工件1的一端磨制形成斜面11，如图3所示，与斜面11相邻的右侧表面为平面，且垂直于基准面3。对于图3中所示的待测工件1，可以采用多种形状的挡块4，只要能与斜面11的下边缘贴紧且形成一个容置空间即可。本实施例仅以图3所示的长方体形状的挡块4为例进行说明。图3中挡块4的左侧表面为平面，且垂直于基准面3，该挡块4的左侧表面与待测工件1的右侧表面贴紧，也就实现了挡块4的左侧面与下边缘112贴紧，使得挡块4的左侧面与斜面11之间形成一个容置空间。步骤103、将测量圆棒放置于容置空间内，且分别与挡块朝向待测工件的表面和斜面贴紧。测量圆棒5的直径可以通过游标卡尺等工具测量出来，为了进一步提高检测效率，可以采用标准圆棒，即直径已知的圆棒，例如现有技术中常用的直径分别为6mm、8mm、10mm等的圆棒。步骤104、采用高度规测针分别测量测量圆棒最高点相对于基准面的高度，以及斜面的下边缘相对于基准面的高度。步骤105、根据测量圆棒最高点相对于基准面的高度和斜面的下边缘相对于本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种工件斜面倾斜角度的测量方法，其特征在于，包括：将待测工件放置于基准面上，所述待测工件的斜面朝向远离基准面的方向；将挡块放置于基准面上，且与所述斜面的下边缘贴紧，所述挡块朝向所述待测工件的表面与斜面之间形成容置空间；将测量圆棒放置于所述容置空间内，且分别与所述挡块朝向所述待测工件的表面和所述斜面贴紧；采用高度规测针分别测量所述测量圆棒最高点相对于所述基准面的高度，以及所述斜面的下边缘相对于所述基准面的高度；根据测量圆棒最高点相对于所述基准面的高度和斜面的下边缘相对于所述基准面的高度得到所述斜面的倾斜角度。

【技术特征摘要】
1.一种工件斜面倾斜角度的测量方法，其特征在于，包括：将待测工件放置于基准面上，所述待测工件的斜面朝向远离基准面的方向；将挡块放置于基准面上，且与所述斜面的下边缘贴紧，所述挡块朝向所述待测工件的表面与斜面之间形成容置空间；将测量圆棒放置于所述容置空间内，且分别与所述挡块朝向所述待测工件的表面和所述斜面贴紧；采用高度规测针分别测量所述测量圆棒最高点相对于所述基准面的高度，以及所述斜面的下边缘相对于所述基准面的高度；根据测量圆棒最高点相对于所述基准面的高度和斜面的下边缘相对于所述基准面的高度得到所述斜面的倾斜角度。2.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于，所述测量圆棒的半径小于所述挡块相对于所述基准面的高度和斜面的下边缘相对于所述基准面的高度之间的差值。3.根据权利要求2所述的测量方法，其特征在于，根据测量...

【专利技术属性】
技术研发人员：蒙埂美，
申请(专利权)人：深圳天珑无线科技有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44