测试电子设备的测试前端模块、测试方法和模块化测试系统技术方案

一种对多个待测设备(DUT)进行测试的测试方法包括：经由第一后端控制器和测试前端模块的第一测试信号接口之间的有线数据连接，从所述第一后端控制器向所述测试前端模块发送第一测试例程信号；经由第二后端控制器和所述测试前端模块的第二测试信号接口之间的有线数据连接，从所述第二后端控制器向所述测试前端模块发送第二测试例程信号；根据所述测试前端模块中的预定优先级标准，使所述第一和第二测试例程信号之一优先；以及基于优先的测试例程信号在所述测试前端模块中产生测试信号。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及测试前端模块、测试方法和模块化测试系统。这些模块、方法和系统可以用于测试电子设备，具体地用于测试移动通信设备和移动计算设备。
技术介绍
诸如移动通信设备或移动计算设备之类的电子设备在生产之后经历各种电子测试。这样的测试对于确保待测设备(DUT)的各种元件的正确配置、校准和功能通常是有必要的。为了测试的目的，采用一些特定的测试设备，这些特定的测试设备对在预定测试条件下的测试环境进行仿真。例如，测试设备可以采用具有预定测试调度的一个或多个特定的测试例程。这些测试调度通常包括DUT的具体测试信号序列的输入和/或对于输入到DUT的测试信号的响应的接收。可以针对DUT的预期行为的一致性、不变性和时间性和其他性质来评价这些响应。具体相关的是用于在对于射频(RF)信号敏感的环境中操作的电子设备的测试和测试设备。这样的设备可以用于输出、接收、测量或者另外处理RF敏感的参数和信号。通常使用由与DUT相连的专门设计的测试设备进行的标准化测试例程来执行这些测试。测试当前的DUT通常是非常耗时的：假定在大规模生产时高度复杂化的现代电子设备及其迅速扩大，测试每一个DUT会经受与测试周期相关联的潜在较低的生产量和较高的成本，减缓了制造工艺和验证例程。因此，越来越需要一种以更加高效的方式来测试多个电子设备的解决方案。具体地，迫切需要寻找一种改进电子设备(具体地，RF敏感设备)的测试速度、测试质量和测试成本的解决方案。例如，文献US2010/0077270A1公开了一种用于测试发射多个信号的多个通信设备的测试装置，每一个信号包括来自多个通信设备的每一
个的信号。将接收到的信号组合为由控制器评价的组合信号。
技术实现思路
根据本专利技术的公开，可以实现测试方法、测试前端模块和模块化测试系统。具体地，根据本专利技术的第一方面，一种对多个待测设备进行测试的测试方法包括：经由第一后端控制器和测试前端模块的第一测试信号接口之间的有线数据连接，从所述第一后端控制器向所述测试前端模块发送第一测试例程信号；经由第二后端控制器和所述测试前端模块的第二测试信号接口之间的有线数据连接，从所述第二后端控制器向所述测试前端模块发送第二测试例程信号；根据所述测试前端模块中的预定优先级标准，使所述第一和第二测试例程信号之一优先；以及基于优先的测试例程信号在所述测试前端模块中产生测试信号。根据本专利技术的第二方面，一种对多个待测设备进行测试的测试前端模块包括：至少两个测试信号接口，用于将不同的后端控制器耦接至所述测试前端模块；矢量信号发生器(VSG)，耦接至所述测试信号接口，并且配置为在经由所述测试信号接口从遥控器接收测试例程信号时产生测试信号；矢量信号分析器(VSA)，耦接至所述测试信号接口，并且配置为经由所述测试信号接口从多个DUT接收测试响应信号，并且将接收到的测试响应信号发送至所述遥控器；以及缓冲模块，耦接至所述至少两个测试信号接口，并且配置为分别从第一和第二后端控制器接收第一和第二测试例程信号，根据预定优先级标准使所述第一和第二测试例程信号之一优先，并且基于所述第一和第二测试例程信号中优先的测试例程信号产生针对所述多个DUT的测试信号。根据本专利技术的第三方面，一种用于对多个待测设备(DUT)进行测试的模块化测试系统，包括：根据本专利技术一个方面的测试前端模块；以及至少两个后端控制器，经由有线数据连接耦接至所述测试前端模块的至少两个测试信号接口的相应测试信号接口。本专利技术的一个构思是将所述测试前端模块与所述后端控制器相分离，所述后端控制器负责控制测试例程并且评价测试结果。此外，所述
测试前端模块然后可以配置为立刻与多于一个后端控制器相连，其中每一个连接的后端控制器能够独立地访问所述测试前端模块内的信号发生器和信号分析器的功能。为了避免独立操作后端控制器之间的干扰，所述测试前端模块配置有缓冲模块，所述缓冲模块对各种后端控制器的输入使用请求进行评价，并且将所述输入使用请求放置于缓冲管道上用于访问所述测试前端模块的功能部件。在所述测试前端模块中有意地省略模块内部控制器可以提供更小、更轻并且更加有效率的便携设备，从而可以放置于DUT附近，即“现场”。此外，因为可以将所述测试前端模块的功能部件的资源分布在几个独立操作的后端控制器之间，因此可以更加有效率地使用测试前端模块的能力。因为测试例程通常包括信号发生器和分析器的停机期，在该停机期期间仅高效地需要后端控制器，例如待执行测试的DUT的预备配置、所收集的测试响应信号的评价等等，因此这是特别有用的。在该时间期间，所述测试前端模块的功能部件相对于具体的后端控制器是空闲的。通过在与一个后端控制器和另一个连接的后端控制器有关的空闲时间期间提供测试前端模块的功能，可以显著地减小所述测试前端模块的总空闲时间，从而针对一批DUT得到更高的生产量、更好的效率和减小的总测试时间。其中，存在与这些测试前端模块和他们伴随的测试方法相关联的一些特定优势。因为大部分控制功能可以外置，因此所述测试前端模块可以更加廉价地实现。外部控制器和测试前端模块之间的数据传输可以标准化，并且可以依赖于传统的数据传输协议。模块化的实现方式和标准化的数据传输概念允许控制器和控制器类型的选择的高度灵活性。由于后端控制器和测试前端模块之间的灵活连接性，整个测试系统可以适用于测试环境。由于测试前端模块的轻量化实现方式和模块化的测试方法，所述测试前端模块的电源也具有较少的功率要求。因此，电源可以外置，并且可以简化针对“现场”模块的冷却概念。最后，无源冷却概念可能就足够，从而消除了对于复杂的有源冷却的需要，从而减小了实施成本和能耗。整个测试系统的模块化还允许灵活地适应DUT的个数和/或待并行执行的测试的个数。尤其对于移动通信和计算设备不断增长的技术和功能多样性，当试图有效率且快速地按时满足测试需求时，这种灵活性将非常有用。在从属权利要求中阐述了本专利技术的特定实施例。本专利技术的这些和其他方面根据下文描述的实施例将变得清楚明白并且将据此进行阐述。附图说明将参考附图仅作为示例描述本专利技术另外的细节、方面和实施例。附图中的元件简明地说明，并且不必按比例绘制。图1示意性地说明了根据本专利技术实施例的模块化测试系统。图2示意性地说明了根据本专利技术另一个实施例的模块化测试系统。图3示意性地说明了根据本专利技术再一个实施例的测试前端模块。图4示出了根据本专利技术另一个实施例的用于测试电子设备的测试方法的信号的信令时序图。图5示出了根据本专利技术另一个实施例的用于测试电子设备的测试方法的过程阶段的流程图。在附图的所有图中，除非另有声明，相同或者至少具有相同功能的元件、零件和部件配备相同的参考符号。具体实施方式图1和图2分别示意性地说明了模块化测试系统100和200。模块化测试系统100和200可以用于对一个或多个待测设备(DUT)执行功能测试和测试例程，所述DUT在图1和图2中一般用参考数字8表示。具体地，所述模块化测试系统100和200可以用于执行针对移动通信或计算设备(例如膝上型计算机、笔记本、平板、智能电话、移动电话、寻呼机、PDA、数字静止照相机、数字视频摄像机、便携媒体播放器、游戏控制台、虚拟现实眼镜、移动PC和类似的电子设备)的测试。当然应该理解的是也可以测试其他非移动电子本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种对多个待测设备DUT进行测试的测试方法，所述方法包括：经由第一后端控制器和测试前端模块的第一测试信号接口之间的有线数据连接，从所述第一后端控制器向所述测试前端模块发送第一测试例程信号；经由第二后端控制器和所述测试前端模块的第二测试信号接口之间的有线数据连接，从所述第二后端控制器向所述测试前端模块发送第二测试例程信号；根据所述测试前端模块中的预定优先级标准，使所述第一和第二测试例程信号之一优先；以及基于优先的测试例程信号，在所述测试前端模块中产生测试信号。

【技术特征摘要】
2015.03.02 US 14/635,8631.一种对多个待测设备DUT进行测试的测试方法，所述方法包括：经由第一后端控制器和测试前端模块的第一测试信号接口之间的有线数据连接，从所述第一后端控制器向所述测试前端模块发送第一测试例程信号；经由第二后端控制器和所述测试前端模块的第二测试信号接口之间的有线数据连接，从所述第二后端控制器向所述测试前端模块发送第二测试例程信号；根据所述测试前端模块中的预定优先级标准，使所述第一和第二测试例程信号之一优先；以及基于优先的测试例程信号，在所述测试前端模块中产生测试信号。2.根据权利要求1所述的测试方法，其中所述有线数据连接是USB连接、PCIe连接、雷电连接或火线连接。3.根据权利要求1所述的测试方法，还包括：拆分所产生的测试信号，并且根据所述优先的测试例程信号将拆分后的测试信号从所述测试前端模块发送至多个DUT之一。4.根据权利要求1所述的测试方法，其中所述预定优先级标准包括先来先服务FCFS标准。5.根据权利要求1所述的测试方法，还包括：搁置所述第一和第二测试例程信号中的非优先的测试例程信号，直到基于所述优先的测试例程信号产生测试信号已经终止为止；以及随后，基于所述非优先的测试例程信号在所述测试前端模块中产生测试信号。6.根据权利要求1所述的测试方法，还包括：从所述多个DUT接收测试响应信号；将接收到的测试响应信号存储在所述测试前端模块中的多个控制器专用数据库之一中；以及经由所述测试前端模块的第一和第二测试信号接口之一，将所存储的测试响应信号发送至所述第一和第二后端控制器中关联的后端控制
\t器。7.一种对多个待测设备DUT进行测试的测试前端模块，所述测试前端模块包括：至少两个测试信号接口，用于将不同的后端控制器耦接至所述测试前端模块；矢量信号发生器VSG，耦接至所述测试信号接口，并且配置为在经由所述测试信号接口从遥控器接收测试例程信号时产生测试信号；矢量信号分析器VSA，耦接至所述测试信号接口，并且配置为经由所述测试信号接口从多个DUT接收测试响应信号，并且将接收到的测试响应信号发送至所述遥控器；以及缓冲模块，耦接至所述至少两个测试信号接口，并且配置为分别从第一和第二后端控制器接收第一和第二测试例程信号，根据预定优先级标准使所述第一和第二测试例程信号之一优先，并且将所述第一和第二测试例程信号中优先的测试例程信号发送到所述VSG，以便基于所述第一和第二测试例程信号中优先的测试例程信号产生针对所述多个DUT的测试信号。8.根据权利要求7所述的测试前端模块，其中所述测试设备接口包括：至少四个输入/输出端口，配置为与DUT相连。9.根据权利要求8所述的测试前端模块，其中所述测试设...

【专利技术属性】
技术研发人员：延斯·沃克曼，托马斯·卢兹，瓦尔特·斯密兹，
申请(专利权)人：罗德施瓦兹两合股份有限公司，
类型：发明
国别省市：德国;DE