S形试件几何质量综合检测平台制造技术

本实用新型专利技术公开了S形试件几何质量综合检测平台，由轮廓度检测装置和用于检测波纹度及粗糙度的微观轮廓检测仪构成，所述轮廓度检测装置包括基座、驱动装置和测头，所述基座上通过气浮轴承设置有左立柱和右立柱，左立柱和右立柱上设置有横梁，所述横梁上通过气浮轴承设置有溜板箱，所述基座、横梁和溜板箱上均设有气浮导轨，所述溜板箱内通过所述气浮导轨连接有杆件，所述杆件的底部连接有所述测头；微观轮廓检测仪包括平台和驱动箱，所述平台上设有电动立柱，所述电动立柱上设置有用于活动连接所述驱动箱的电动立柱导轨，所述驱动箱的底部挂载有电感式传感器。本实用新型专利技术可以测量评价S形试件的复杂自由曲面轮廓度、波纹度和粗糙度等参数。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种S形试件检测平台，更具体的说，是涉及一种针对S形试件的复杂曲面轮廓度、波纹度、粗糙度的几何质量综合检测平台。
技术介绍
现代的制造业中，五轴联动数控机床得到越来越广泛的应用。在实际的生产过程中，机床精度验收是关键环节，在保证加工零件精度、机床调整中起着关键作用。为此，成飞提出用于检验五轴数控机床加工性能的“S”形试件，见宋智勇、崔雅文的《综合检测数控铣床精度的“s”形检测试件及其检测方法》CN,CN 100468038C[P].2009。如图1中“S”形试件的三维示意图，“S”形试件具有曲率变化大、开闭角转换，二阶导数不连续等复杂空间型面特征。通过对五轴加工中心试切的“S”形试件进行轮廓度、波纹度、粗糙度检测评估，来评价机床的加工精度，又因“S”形试件空间型面特征复杂，测量困难，所以需要一台专用几何质量综合检测平台。
技术实现思路
本技术的目的是为了克服现有技术中的不足，提供一种可以测量评价S形试件的复杂自由曲面轮廓度、波纹度、粗糙度参数的综合测量平台。本技术的目的是通过以下技术方案实现的：S形试件几何质量综合检测平台，由轮廓度检测装置和用于检测波纹度及粗糙度的微观轮廓检测仪构成，所述轮廓度检测装置包括基座、驱动装置和测头，所述基座上通过气浮轴承设置有左立柱和右立柱，左立柱和右立柱上设置有横梁，所述横梁上通过气浮轴承设置有溜板箱，所述基座、横梁和溜板箱上均设有气浮导轨，所述溜板箱内通过所述气浮导轨连接有杆件，所述杆件的底部连接有所述测头，所述基座、横梁和杆件上均设有标尺系统，所述驱动装置用以驱动所述左立柱和右立柱、溜板箱、杆件分别沿着X轴、Y轴和Z轴运动；所述微观轮廓检测仪包括平台和驱动箱，所述平台上设有电动立柱，所述电动立柱上设置有用于活动连接所述驱动箱的电动立柱导轨，所述驱动箱的底部挂载有电感式传感器。所述杆件上设置有气缸平衡装置。所述驱动装置由齿形带和伺服电机构成。所述电动立柱导轨的长度为100-140mm。所述驱动箱内设置有用于转动所述电感式传感器的丝杠导轨。与现有技术相比，本技术的技术方案所带来的有益效果是：由于S形试件曲率变化复杂，“S”曲面有开角闭角之分，普通轮廓仪难以探入测量，现有的检测方法是通过电火花切割S形试件来分块测量，本技术中的几何质量综合检测平台通过S形试件装卡工作台和微观轮廓检测仪相互配合，可以在不切割的情况下进行波纹度、粗糙度的测量；另一方面，可通过一体化的控制系统将轮廓度测量和波纹度、粗糙度数据采集合为一体，节约了工时，轮廓度、波纹度、粗糙度数据分别经过评价算法的处理评估，可以一并生成对于机床加工精度更加全面的分析报告。附图说明图1是S形试件的结构示意图。图2是本技术的立体结构示意图。图3是本技术的平面结构示意图。图4是轮廓度检测装置的结构示意图。图5是微观轮廓检测仪的结构示意图。图6是S形试件波纹度测量位置图。图7是通过微观轮廓检测仪的电感式传感器测量S形试件微观轮廓的示意图。图8是S形试件波纹度、粗糙度的采样位置图。图9是S形试件装卡工作台的结构示意图。附图标记：1-基座 2-左立柱 3-右立柱 4-横梁 5-溜板箱 6-导轨 7-杆件 8-测头 9-平台 10-电动立柱 11-电动立柱导轨 12-驱动箱 13-电感式传感器具体实施方式下面结合附图对本技术作进一步的描述：如图1至图5所示，S形试件几何质量综合检测平台，由轮廓度检测装置和用于检测波纹度及粗糙度的微观轮廓检测仪构成，轮廓度检测装置包括基座1、驱动装置和测头8，基座1上通过气浮轴承安装有左立柱2和右立柱3，左立柱2和右立柱3上部安装横梁4，横梁4上通过气浮轴承设置有溜板箱5，基座1、横梁4和溜板箱5上均设有气浮导轨，其中位于基座1上的导轨6通过气浮轴承与右立柱3相连，溜板箱5内通过所述气浮导轨连接有杆件7，杆件7的底部连接有所述测头8；基座1、横梁4和杆件7上均设有标尺系统，驱动装置用以驱动所述左立柱2和右立柱3、溜板箱5、杆件7分别沿着X轴、Y轴和Z轴运动；微观轮廓检测仪包括平台9和驱动箱12，所述平台9上设有电动立柱10，电动立柱10上设置有用于活动连接所述驱动箱12的电动立柱导轨11，所述驱动箱12的底部挂载有电感式传感器13，驱动箱12内设置有用于转动所述电感式传感器13的丝杠导轨。如图4中所示，本技术轮廓度检测装置的轮廓结构参考全封闭移动桥式三坐标测量机，其中标尺系统选取英国RENISHAW反射式金属带状光栅尺，测量范围为：X×Y×Z500mm×600mm×400mm，示值误差MPEE≤2.2+L/300μm，探测误差MPEP≤2.2μm；气浮导轨均采用自洁式预载荷高精度空气轴承组成的静压气浮式导轨。驱动装置包括齿形带和伺服电机，本技术中X、Y、Z轴均选用了直流伺服电机、齿形带传动装置。杆件7即Z轴采用了气缸平衡装置。本技术中用于安装测头8的测头座选用Renishaw公司PH10T自动双旋转分度测头座，测头8选用Renishaw TP20触发测头，测头座和测头8的性能参数分别如表1a、表1b所示：表1a表1b项目参数感应方向±X±Y±Z测针接口M2重量22g额定寿命＞106times本实施例中S形试件的尺寸为300mm×200mm×70mm，因此为了保证精度和考虑经济因素，几何质量综合检测平台尺寸量程应尽可能的缩小。X轴燕尾形导轨与右立柱3之间由气浮轴承支撑，左立柱2与大理石基座1，即工作台面之间由气浮轴承支撑，左立柱2、右立柱3和横梁4共同组成龙门桥式结构由X方向的齿形带与电机带动，左立柱2和右立柱3支撑陶瓷横梁4为溜板箱5与构成Z轴的杆件7提供支撑力，杆件7由大理石构成，溜板箱5通过气浮轴承搭建在陶瓷横梁4上，其沿Y轴向运动靠齿形带与电机传动，杆件7即Z轴与测头8相连，通过气缸平衡重力，通过齿形带与电机完成Z方向上的运动。S试件微观轮廓检测仪是触针式表面结构测量设备，搭建在轮廓度检测装置的大理石基座上，通过一共同的控制系统控制，其结构如图5所示：微观轮廓检测仪采用挂载在驱动箱12下面的电感式标准粗糙度传感器采集粗糙度数据(大量程无导头刚性粗糙度传感器进行波纹度数据采集)，驱动箱12内装直线导轨，高精度丝杠控制测量传感器水平方向，即采样方向移动，电动立柱导轨装有光栅系统，用作水平方向的测量基准，由传感器采集垂直方向的位置信号。当计算机发出测量命令时，驱动箱12带动电感式传感器13沿工件表面滑行以采集一组表面轮廓的坐标数据，由计算机进行数据处理。电动立柱10的升降用升降开关控制立柱控制电路驱动。以下是本技术微观轮廓检测仪中各部件的参数指标及其精度指标：驱动箱测量速度：0.1，0.2，0.5，0.8，1(mm/s)；基准导轨的直线性：1μm/100mm；最大测量长度：120mm；水平分辨力：1μm；电感式传感器标准配置传感器：标准传感器、大量程刚性传感器；针尖半径：2μm；测针测力：标准传感器不大于1mN，大量程刚性传感器不大于4mN；立柱和平台电动立柱结构：滚动丝杠升降系统，快慢速机动升降，手动微调；大理石平台：700×700mm；精度指标Ra示值最大允许相对误差：±5％Rsm示值最大允许相对误差：±5％虚假信号本文档来自技高网...

【技术保护点】
S形试件几何质量综合检测平台，其特征在于，由轮廓度检测装置和用于检测波纹度及粗糙度的微观轮廓检测仪构成，所述轮廓度检测装置包括基座、驱动装置和测头，所述基座上通过气浮轴承设置有左立柱和右立柱，左立柱和右立柱上设置有横梁，所述横梁上通过气浮轴承设置有溜板箱，所述基座、横梁和溜板箱上均设有气浮导轨，所述溜板箱内通过所述气浮导轨连接有杆件，所述杆件的底部连接有所述测头，所述基座、横梁和杆件上均设有标尺系统，所述驱动装置用以驱动所述左立柱和右立柱、溜板箱、杆件分别沿着X轴、Y轴和Z轴运动；所述微观轮廓检测仪包括平台和驱动箱，所述平台上设有电动立柱，所述电动立柱上设置有用于活动连接所述驱动箱的电动立柱导轨，所述驱动箱的底部挂载有电感式传感器。

【技术特征摘要】
1.S形试件几何质量综合检测平台，其特征在于，由轮廓度检测装置和用于检测波纹度及粗糙度的微观轮廓检测仪构成，所述轮廓度检测装置包括基座、驱动装置和测头，所述基座上通过气浮轴承设置有左立柱和右立柱，左立柱和右立柱上设置有横梁，所述横梁上通过气浮轴承设置有溜板箱，所述基座、横梁和溜板箱上均设有气浮导轨，所述溜板箱内通过所述气浮导轨连接有杆件，所述杆件的底部连接有所述测头，所述基座、横梁和杆件上均设有标尺系统，所述驱动装置用以驱动所述左立柱和右立柱、溜板箱、杆件分别沿着X轴、Y轴和Z轴运动；所述微观轮廓检测仪包括平台和驱动箱，所述平台上...

【专利技术属性】
技术研发人员：何改云，桑一村，郭龙真，黄鑫，黄灿，
申请(专利权)人：天津大学，
类型：新型
国别省市：天津;12