【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种样品杆,尤其是可拆卸的倾转样品杆及固定架。
技术介绍
透射电子显微镜采用电子束作为光源从而得到极高的细节分辨能力,使其成为可以直观地检测到晶体材料原子结构信息的重要工具。通过透射电子显微镜,不仅可以获得带有晶体结构信息的高分辨照片,也可以给出纳米尺度选区的电子衍射。透射电子显微镜主要由电子源、电磁透镜系统、样品台以及成像系统等部分组成。入射电子从电子源出发经过电磁透镜系统聚焦后穿过样品台上的试样,形成试样微区域的图像或电子衍射,通过倾斜样品重构出三维图像。随着样品制备使用定位制备的FIB技术越来越多,对样品杆精密调整要求越来越高,研制纳米级的高精度样品杆将成为未来趋势。近年来,无论是生物还是材料领域,还是在电子显微镜应用方面,样品杆的三维重构应用都得到极大发展。
现有技术设计的三维样品台,在透射电子显微镜内的的倾斜使样品在样品杆上跟电镜光轴不一致,导致样品倾斜时,图像投影不是同轴旋转而是锥形旋转,因此在三维重构时得到错误结构。现有技术中,样品杆头与样品杆本体固定连接的结构,导致在需要更换样品杆头时需要更换整个样品杆,实验效率差。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是针对上述
技术介绍
的不足,提供了可拆卸的倾转样品杆及固定架,解决了现有电子显微镜在更换样品杆头时需要更换整个样品杆的技术问题。
本技术为解决上述技术问题,采用如下技术方案:
可拆卸的倾转样品杆,包括:实心圆柱体状的样品杆主体、可拆卸前端以及样品杆头,样品杆主体一端套接有样品杆手柄,样品杆主体另一端套接有母头,样品 ...
【技术保护点】
可拆卸的倾转样品杆,其特征在于,包括:实心圆柱体状的样品杆主体、可拆卸前端以及样品杆头,样品杆主体一端套接有样品杆手柄,样品杆主体另一端套接有母头,样品杆主体通过套接在其上的母头与可拆卸前端连接,样品杆头上留有供螺丝穿过的通孔,可拆卸前端上开有用于拧紧螺丝的螺孔。
【技术特征摘要】
1.可拆卸的倾转样品杆,其特征在于,包括:实心圆柱体状的样品杆主体、可拆卸前端以及样品杆头,样品杆主体一端套接有样品杆手柄,样品杆主体另一端套接有母头,样品杆主体通过套接在其上的母头与可拆卸前端连接,样品杆头上留有供螺丝穿过的通孔,可拆卸前端上开有用于拧紧螺丝的螺孔。
2.根据权利要求1所述可拆卸的倾转样品杆,其特征在于,母头为空心圆柱形插槽,可拆卸前端有与所述空心圆柱形插槽相匹配的...
【专利技术属性】
技术研发人员:王义林,张大梁,秦姗,
申请(专利权)人:镇江乐华电子科技有限公司,
类型:新型
国别省市:江苏;32
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