检测绝缘子表面污秽受潮的方法、装置及系统制造方法及图纸

本发明专利技术涉及一种检测绝缘子表面污秽受潮的方法、装置及系统，其中方法包括以下步骤：测量表面有污秽的待测绝缘子的表面电阻值，并根据所述表面电阻值计算得到所述污秽的局部表面电导率；根据所述局部表面电导率确定所述待测绝缘子的污秽受潮等级。本发明专利技术所提出的方法、装置及系统利用待测绝缘子的表面电阻值，根据表面电阻值计算得到待测绝缘子表面污秽的局部表面电导率，最终根据待测绝缘子表面污秽的局部表面电导率确定待测绝缘子的污秽受潮等级，实现对待测绝缘子表面污秽受潮程度的检测和定量测量，由于检测过程中无需使用高压，检测过程不会对待测绝缘子表面污秽的受潮程度产生直接影响，因此对待测绝缘子表面污秽受潮的检测和测量更加准确。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及绝缘子污秽检测
，特别是涉及一种检测绝缘子表面污秽受潮的方法、装置及系统。
技术介绍
运行于输电线路或者变电站中的绝缘子由于长时间处于复杂的大气环境条件下，受到空气中尘埃颗粒、雨、雾、露、融冰、融雪、风等气候的影响，绝缘子表面绝缘性能下降，从而带来污闪事故，不仅造成巨大的经济损失，而且给人们的日常生活造成了严重影响，因此了解绝缘子表面污秽状态对于有效减少输电线路绝缘子污秽清扫的盲目性以及降低污闪的发生概率具有十分重要的意义。绝缘子外表面的污秽程度和污秽的受潮程度对于绝缘子的表面绝缘性能具有非常重要的影响。目前已有的关于测量绝缘子污秽的受潮程度的常用方法是泄漏电流法，即对整串绝缘子施加1kV以上的高电压，通过测量金具两端的泄漏电流来表征绝缘子污秽的受潮程度，但该方法由于在绝缘子上施加高电压，实际测量中存在电流热效应而使得污秽层被烘干，导致对绝缘子表面污秽受潮的测量准确性不够高。
技术实现思路
基于此，有必要针对现有技术中绝缘子表面污秽受潮的测量准确性不够高的问题，提供一种检测绝缘子表面污秽受潮的方法、装置及系统，为解决上述问题，本专利技术采取如下的技术方案：一种检测绝缘子表面污秽受潮的方法，该方法包括以下步骤：获取表面有污秽的待测绝缘子的表面电阻值，并根据所述表面电阻值计算得到所述污秽的局部表面电导率；根据所述局部表面电导率确定所述待测绝缘子的污秽受潮等级。一种检测绝缘子表面污秽受潮的装置，该装置包括：获取单元，用于获取表面有污秽的待测绝缘子的表面电阻值；计算单元，用于根据所述表面电阻值计算得到所述污秽的局部表面电导率；确定单元，用于根据所述局部表面电导率确定所述待测绝缘子的污秽受潮等级。同时，本专利技术还提出一种检测绝缘子表面污秽受潮的系统，该系统包括电源装置、采样电阻、电压采集装置和如上所述的检测绝缘子表面污秽受潮的装置，所述电源装置、所述采样电阻和所述待测绝缘子串接成回路，且所述采样电阻通过金属电极与所述待测绝缘子串联连接，所述电压采集装置并联连接在所述采样电阻的两端，且与所述检测绝缘子表面污秽受潮的装置连接。上述检测绝缘子表面污秽受潮的方法、装置及系统利用待测绝缘子的表面电阻值，根据表面电阻值计算得到待测绝缘子表面污秽的局部表面电导率，最终根据待测绝缘子表面污秽的局部表面电导率确定待测绝缘子的污秽受潮等级，实现对待测绝缘子表面污秽受潮程度的检测和定量测量，由于检测过程中无需使用高压，检测过程不会对待测绝缘子表面污秽的受潮程度产生直接影响，因此对待测绝缘子表面污秽受潮的检测和测量更加准确，同时由于检测绝缘子表面污秽受潮的系统结构简单，因此可广泛应用于电网中对绝缘子表面污秽的检测。附图说明图1为本专利技术其中一个实施例中检测绝缘子表面污秽受潮的方法的流程示意图；图2为本专利技术其中一个实施例中检测绝缘在表面污秽受潮的装置的结构示意图；图3为本专利技术其中一个实施例中检测绝缘在表面污秽受潮的系统的结构示意图。具体实施方式下面将结合附图及较佳实施例对本专利技术的技术方案进行详细描述。在其中一个实施例中，参见图1所示，一种检测绝缘子表面污秽受潮的方法，该方法包括以下步骤：S100获取表面有污秽的待测绝缘子的表面电阻值，并根据所述表面电阻值计算得到所述污秽的局部表面电导率；S200根据所述局部表面电导率确定所述待测绝缘子的污秽受潮等级。通常情况下，绝缘子在自然环境中，由于空气中尘埃颗粒、雨、雾、露、融冰、融雪、风等的作用，会在绝缘子表面沉积一层含有一定电解质的污秽，而由于绝缘子表面污秽中电解质的存在，将导致绝缘子表面污秽具有一定的导电性。具体地，在本实施例中，待测绝缘子是表面有污秽的绝缘子，例如待测绝缘子可以是表面有污秽的陶瓷绝缘子、玻璃钢绝缘子、合成绝缘子以及半导体绝缘中的任意一种。在步骤S100中，获取表面有污秽的待测绝缘子的表面电阻值并根据表面电阻值计算得到污秽的局部表面电导率。在本步骤中，获取表面有污秽的待测绝缘子的表面电阻值并根据表面电阻值计算得到污秽的局部表面电导率的方式有多种，作为其中一种具体的实施方式，获取表面有污秽的待测绝缘子的表面电阻值并根据表面电阻值计算得到污秽的局部表面电导率的过程包括：读取电压采集装置采集的采样电阻两端的电压值，根据电压值计算表面电阻值，采样电阻与待测绝缘子串接在回路中且采样电阻与待测绝缘子通过金属电极串联连接，电压采集装置并联连接在采样电阻的两端；根据表面电阻值和金属电极的电极常数计算得到局部表面电导率。具体地，本实施方式利用与待测绝缘子通过金属电极串联连接、形成回路的采样电阻和并联连接在采样电阻两端的电压采集装置来获取待测绝缘子的表面电阻值，并根据表面电阻值和金属电极的电极常数计算得到局部表面电导率，例如以系统电源为串联连接的待测绝缘子和采样电阻供电，形成供电回路，假设待测绝缘子的表面电阻值即金属电极两端的污秽层的表面电阻值为Rx，采样电阻的阻值为RS，系统电压为US，电压采集
装置采集采样电阻两端的电压即采样电压为Um，则根据分压原理可知， R x = U S - U m U m · R S - - - ( 1 ) ]]>进一步地，根据表面电阻值和金属电极的电极常数计算得到污秽的局部表面电导率，计算公式如下： σ = K R x - - - ( 2 ) ]]>其中，K为电极常数，是一个与测量探头相关的系数，具体与测量探头的形状和结构有关系，由于本实施方式中是以金属电极将待测绝缘子和采样电阻连接的，因此电极常数K与金属电极的形状相关，在本实施方式中，可以利用金属的矩形电极或者金属的圆形电极作为连接待测绝缘子和采样电阻的电极，因此对于金属的矩形电极而言，电极常数可以根据公式(3)进行计算，其中S为矩形电极的长度，H为矩形电极的高度；对于金属的圆形电极而言，电极常数可以根据公式(4)计算得到，其中r1和r2分别为内电极和外电极的半径。K＝S/H (3) K = ∫ r 1 r 2 d r / 2 π r - - - ( 4 ) ]]>在步骤100得到待测绝缘子表面污秽的局部表面电导率后，步骤S200根据局部表面电导率确定待测绝缘子的污秽受潮等级。对于绝缘子污秽受潮等级的确定有多种方法，作为其中一种具体的实施方式，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种检测绝缘子表面污秽受潮的方法，其特征在于，包括以下步骤：获取表面有污秽的待测绝缘子的表面电阻值，并根据所述表面电阻值计算得到所述污秽的局部表面电导率；根据所述局部表面电导率确定所述待测绝缘子的污秽受潮等级。

【技术特征摘要】
1.一种检测绝缘子表面污秽受潮的方法，其特征在于，包括以下步骤：获取表面有污秽的待测绝缘子的表面电阻值，并根据所述表面电阻值计算得到所述污秽的局部表面电导率；根据所述局部表面电导率确定所述待测绝缘子的污秽受潮等级。2.根据权利要求1所述的检测绝缘子表面污秽受潮的方法，其特征在于，获取表面有污秽的待测绝缘子的表面电阻值，并根据所述表面电阻值计算得到所述污秽的局部表面电导率的过程包括：读取电压采集装置采集的采样电阻两端的电压值，根据所述电压值计算所述表面电阻值，所述采样电阻与所述待测绝缘子串接在回路中且所述采样电阻与所述待测绝缘子通过金属电极串联连接，所述电压采集装置并联连接在所述采样电阻的两端；根据所述表面电阻值和所述金属电极的电极常数计算得到所述局部表面电导率。3.根据权利要求1或2所述的检测绝缘子表面污秽受潮的方法，其特征在于，根据所述局部表面电导率确定所述待测绝缘子的污秽受潮等级的过程包括：判断所述局部表面电导率是否大于电导率阈值，若是，则根据所述局部表面电导率与所述电导率阈值的差值确定所述待测绝缘子的污秽受潮等级。4.一种检测绝缘子表面污秽受潮的装置，其特征在于，包括：获取单元，用于获取表面有污秽的待测绝缘子的表面电阻值；计算单元，用于根据所述表面电阻值计算得到所述污秽的局部表面电导率；确定单元，用于根据所述局部表面电导率确定所述待测绝缘子的污秽受潮等级。5.根据权利要求4所述的检测绝缘子表面污秽受潮的装置，其特征在于，所述获取单元...

【专利技术属性】
技术研发人员：廖一帆，张飞，张福增，阳林，郝艳捧，陈少杰，王振华，李立浧，
申请(专利权)人：中国南方电网有限责任公司电网技术研究中心，南方电网科学研究院有限责任公司，华南理工大学，
类型：发明
国别省市：广东;44