【技术实现步骤摘要】
本专利技术属于通信领域,具体涉及一种差分硅通孔分布参数的全波提取方法。
技术介绍
三维集成电路(3D IC)具有封装密度高、噪声免疫强、功率损耗小、工作速度高和容易实现不同工艺间的异质集成(逻辑,存储器,射频,模拟等等)的优点,并能克服许多传统平面集成电路面临的物理的、工艺的和电的限制。在三维集成电路中,大量的同质或异质的芯片层叠起来,并且使用硅通孔(TSV)作为芯片间的垂直导电通道。这些硅通孔已经成为影响三维集成电路整体性能的关键组件。根据信号的传输方式,硅通孔可分为单端硅通孔和差分信号硅通孔。单端硅通孔包括信号-地硅通孔对(其中一根用作信号传输,另一根作为其返回通路)和同轴硅通孔(其中内部导体用作信号传输,外面的金属环作为其返回通路)。信号-地硅通孔对结构简单,容易加工实现,成本低。同轴硅通孔具有传输损耗小和能有效抑制耦合噪声的优点。然而,它们均不能传输差分信号,所以不能应用于高速三维集成电路。在实际应用中,为了保证高速信号的信号完整性,在高速I/O通道中通常使用差分信号技术。因此,差分硅通孔将成为高速三维集成电路的一个必要组件,它需要使用两根信号硅通孔传输差分信号且其他硅通孔作为其返回通路。差分硅通孔的分布参数包括分布电阻、分布电感、分布电容和分布电导,这些参数对其电磁特性具有决定性作用。现有的提取差分硅通孔分布参数的方法均使用理论模型计算即解析计算或者数值计算的方法,它们的主要缺点是难以考虑复杂的电磁效应,在高频时误差很大。
技术实现思路
专利技术目的:本专利技术针对上述现有技术存在的问题做出改进,即本专利技术公开了一种差分硅通孔分布参数的全波提取方 ...
【技术保护点】
一种差分硅通孔分布参数的全波提取方法,其特征在于,包括以下步骤:1)、确定差分硅通孔的结构;2)、分析该差分硅通孔的各部分存在的分布电阻、分布电感、分布电容和分布电导;3)、建立差分硅通孔的奇模等效电路和差分硅通孔的偶模等效电路;4)、在三维全波电磁场仿真软件HFSS中建立该差分硅通孔的三维仿真模型;5)、通过三维全波电磁场仿真软件HFSS得到该差分硅通孔的Y参数矩阵;6)、根据步骤5)得到的差分硅通孔的Y参数矩阵计算该差分硅通孔的奇模传输矩阵和该差分硅通孔的偶模传输矩阵,其中:该差分硅通孔的奇模传输矩阵为:AoBoCoDo=-Yd2d2Yd2d1-1Yd2d1-|Yo|Yd2d1-Yd1d1Yd2d1---(1),]]>该差分硅通孔的偶模传输矩阵为:AeBeCeDe=-Yc2c2Yc2c1-1Yc2c1-|Ye|Yc2c1-Yc1c1Yc2c1---(2),]]>其中,|Yo|=Yd1d1Yd2d2‑Yd1d2Yd2d1,|Ye|=Yc1c1Yc2c2‑Yc1c2Yc2c1,Yd1d1为差分硅通孔端口1的差模输入导纳,Yd2d2为差分硅通孔端口2的差模输入导纳,Yd2d1为差分硅通孔 ...
【技术特征摘要】
1.一种差分硅通孔分布参数的全波提取方法,其特征在于,包括以下步骤:1)、确定差分硅通孔的结构;2)、分析该差分硅通孔的各部分存在的分布电阻、分布电感、分布电容和分布电导;3)、建立差分硅通孔的奇模等效电路和差分硅通孔的偶模等效电路;4)、在三维全波电磁场仿真软件HFSS中建立该差分硅通孔的三维仿真模型;5)、通过三维全波电磁场仿真软件HFSS得到该差分硅通孔的Y参数矩阵;6)、根据步骤5)得到的差分硅通孔的Y参数矩阵计算该差分硅通孔的奇模传输矩阵和该差分硅通孔的偶模传输矩阵,其中:该差分硅通孔的奇模传输矩阵为: A o B o C o D o = - Y d 2 d 2 Y d 2 d 1 - 1 Y d 2 d 1 - | Y o | Y d 2 d 1 - Y d 1 d 1 Y d 2 d 1 - - - ( 1 ) , ]]>该差分硅通孔的偶模传输矩阵为: A e B e C e D e = - Y c 2 c 2 Y c 2 c 1 - 1 Y c 2 c 1 - | Y e | Y c 2 c 1 - Y c 1 c 1 Y c 2 c 1 - - - ( 2 ) , ]]>其中,|Yo|=Yd1d1Yd2d2-Yd1d2Yd2d1,|Ye|=Yc1c1Yc2c2-Yc1c2Yc2c1,Yd1d1为差分硅通孔端口1的差模输入导纳,Yd2d2为差分硅通孔端口2的差模输入导纳,Yd2d1为差分硅通孔端口1到端口2的差模转移导纳,Yd1d2为差分硅通孔端口2到端口1的差模转移导纳,Yc1c1为差分硅通孔端口1的共模输入导纳,Yc2c2为差分硅通孔端口2的共模输入导纳,Yc2c1为差分硅通孔端口1到端...
【专利技术属性】
技术研发人员:卢启军,朱樟明,丁瑞雪,李跃进,杨银堂,
申请(专利权)人:西安电子科技大学,
类型:发明
国别省市:陕西;61
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