一种高产能的测试分选机系统技术方案

本发明专利技术公开一种测试分选机，其包含有：主转台；装载平台，其被操作来传输电子元件至主转台的功能模块；辅助转台，其包含有多个载体模块，以从主转台的功能模块处接收电子元件；以及多个测试平台，其沿着辅助转台的外围设置；其中，在装载平台并行地传输电子元件至主转台的功能模块的同时，测试平台被操作来从载体模块处接收电子元件而进行测试，以致于在测试分选机的测试处理周期中传送时间的影响得以减小或消除。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种用于测试电子元件的测试分选机（test handler），尤其是涉及一种具有高产能的用于测试电子元件的测试分选机。
技术介绍
在工业中，用于电子元件的测试分选机被使用于测试已经装配的电子元件。在这种测试分选机中，电子元件通常使用震动圆盘进料器（vibratory bowl feeder）或其它的进给装置被馈送至高速转台。然后，在转台上使用拾取头电子元件被单个地拾取，并依次地被传送至不同的测试平台，以在他们合格使用以前完成一个或多个测试。用于测试分选机的测试周期通常包括：传送电子元件至测试平台所花费的时间，和测试电子元件所花费的时间。尤其在使用于以上描述的方法的传统的转台中，传送时间是必要的且不能被消除，因为关于每个待测试的电子元件，传送和其后的测试步骤是先后及时被执行的。如果测试时间长，系统将会必须长时间闲着，直到测试完成和另一个电子元件可能被传送来进行测试。这样形成了一个使降低整个处理的周期时间变得困难的瓶颈。在整个测试处理周期时间中，降低或消除传送时间的影响将会是有益的。
技术实现思路
因此，本专利技术的目的是寻求提供一种测试分选机系统，其降低或消除了测试处理周期中传送时间的影响，以便于提高其整个系统的产能。第一方面，本专利技术提供一种测试分选机，其包含有：主转台；装载平台，其被操作来传输电子元件至主转台的功能模块；辅助转台，其包含有多个载体模块，以从主转台的功能模块处接收电子元件；以及多个测试平台，其沿着辅助转台的外围设置；其中，在装载平台并行地传输电子元件至主转台的功能模块的同时，测试平台被操作来从载体模块处接收电子元件以进行测试。第二方面，本专利技术提供一种使用测试分选机测试电子元件的方法，该方法包含有以下步骤：从装载平台传输电子元件至主转台的功能模块；从主转台的功能模块处传送电子元件至辅助转台的多个载体模块；以及传输电子元件至多个测试平台，该多个测试平台沿着辅助转台的外围设置；其后从装载平台并行地继续传输电子元件至主转台的功能模块的同时，在多个测试平台处测试从载体模块所接收的电子元件。参阅后附的描述本专利技术特定较佳实施例的附图，随后来详细描述本专利技术是很方便的。附图和相关的描述的具体性不能理解成是对本专利技术的限制，本专利技术的特点限定在权利要求书中。 附图说明现在参考附图，描述本专利技术所述的测试分选机系统的实例，其中。图1所示为根据本专利技术第一较佳实施例所述的测试分选机系统的平面示意图。图2所示为图1的测试分选机系统的立体示意图。图3所示为根据本专利技术第二较佳实施例所述的测试分选机系统的平面示意图。图4所示为测试分选机系统的立体示意图，其阐明了相邻于辅助转台（auxiliary rotary turret）设置的测试平台；以及。图5（a）至图5（d）表明了根据本专利技术较佳实施例所述的在辅助转台和测试台（test platform）之间传送电子元件的测试平台的拾取头。具体实施方式图1所示为根据本专利技术第一较佳实施例所述的测试分选机系统10的平面示意图；而图2所示为图1的测试分选机系统的立体示意图。测试分选机系统10通常包括主转台12和辅助转台14，主转台12具有多个功能模块13以接收和处理电子元件，辅助转台14具有多个载体模块15以接收电子元件进行测试。装载平台16被设计来朝向主转台12的功能模块13大量地传送电子元件。装载于主转台12的功能模块13上的电子元件被功能模块13上的拾取头装载，并通过主转台12的旋转移动至辅助转台14的位置处，其后被传送至辅助转台14的载体模块15上。被传送至辅助转台14上的电子元件通过辅助转台14的旋转被进一步移动至多个测试平台18处，在那里拾取头被定位来从辅助转台14处拾取电子元件进行测试（参见以下所述）。测试平台18被操作来从载体模块15处接收电子元件进行测试，而装载平台16同时继续传输电子元件至主转台12的功能模块。这确保了在电子元件被测试的同时，主转台12不需要保持空闲。多个测试平台18应被配置来在电子元件上进行相同类型的测试，以便于显著地提高产能。其后，测试后的电子元件被放回于辅助转台14上，并通过转动被传输至主转台12的位置，然后它们被传送至主转台12的功能模块13。最后，返回至主转台12的、被发现具有缺陷的电子元件落入废料仓20，而已经通过测试平台18的测试的电子元件通过卸载平台22卸载。因而，有缺陷的电子元件和没有缺陷的电子元件被分隔开来。图3所示为根据本专利技术第二较佳实施例所述的测试分选机系统30的平面示意图。在第二实施例中，相邻于主转台12设置有第一和第二辅助转台32、34。第一辅助转台32围绕其外围设置有第一组多个测试平台36，而第二辅助转台34围绕其外围设置有另一个或第二组多个测试平台38。例如，如果测试流程是相对耗时的流程，以及更多的测试平台36、38被需要来提高测试分选机系统30的产能，那么第一组多个测试平台36可以完成和第二组多个测试平台38相同的测试。在这种情形下，电子元件可以传送至第一辅助转台32或者第二辅助转台34进行测试。另一方面，同样应被理解的是，第一组多个测试平台36可以完成和第二组多个测试平台38不同的测试。所以，根据用户的需求来设计测试平台36、38具有灵活性。在这种情形下，在电子元件已经被传送至第一辅助转台32以经历测试之后，电子元件会被传送至第二辅助转台34（或者直接或者通过主转台12）以经历不同的测试。图4所示为测试分选机系统10的立体示意图，其阐明了一个相邻于辅助转台14设置的测试平台18。为了简明起见，关于图1和图2中提及的多个测试平台18仅仅一个测试平台被表明。该测试平台18包含有一对围绕旋转驱动器42设置的往复式的拾取头40。拾取头40相互彼此被隔开180度的角度，以使得旋转驱动器42能够转动拾取头40，以二者选一地将它们定位或者在辅助转台14的载体模块15上方，或者在测试平台18的测试台46上方。而且，和每个拾取头40相耦接的垂直驱动器44将拾取头40降低以在第一位置拾取电子元件，和在其被转动以传送电子元件至第二位置以前提升拾取头，且降低拾取头40以将电子元件放置在第二位置。通过将电子元件传送至与辅助转台14相隔开的测试台46以进行测试，辅助转台14可以在其他的电子元件的测试期间继续接收另外的电子元件。图5（a）至图5（d）表明了根据本专利技术较佳实施例所述的在辅助转台14和测试台46之间传送电子元件的测试平台18的拾取头40、40'。在图5（a）中，拾取头40从辅助转台14的载体模块15处拾取电子元件。在图5（b）中，拾取头40、40'已经相对于彼此转动了180度的角度。第一拾取头40'现在将电子元件放置于测试台46上进行测试，同时第二拾取头40从辅助转台14的载体模块15处拾取另一个电子元件。在图5（c）中，在电子元件已经被测试和测试后的电子元件再一次被第一拾取头40拾取之后，拾取头40、40'相对于彼此再一次转动180度的角度。其后，测试后的电子元件被第一拾取头40放置回到辅助转台14的空闲的载体模块15处，同时第二拾取头40'放置另一个电子元件于测试台46进行测试。在图5（d）中，辅助转台14已经向前步进定位以将下一个未测试的电子元件传输至空闲的第一拾取头40的下方，未测试的电子元件已经被第一本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测试分选机，其包含有：主转台；装载平台，其被操作来传输电子元件至主转台的功能模块；辅助转台，其包含有多个载体模块，以从主转台的功能模块处接收电子元件；以及多个测试平台，其沿着辅助转台的外围设置；其中，在装载平台并行地传输电子元件至主转台的功能模块的同时，测试平台被操作来从载体模块处接收电子元件以进行测试。

【技术特征摘要】
1.一种测试分选机，其包含有：主转台；装载平台，其被操作来传输电子元件至主转台的功能模块；辅助转台，其包含有多个载体模块，以从主转台的功能模块处接收电子元件；以及多个测试平台，其沿着辅助转台的外围设置；其中，在装载平台并行地传输电子元件至主转台的功能模块的同时，测试平台被操作来从载体模块处接收电子元件以进行测试。2.如权利要求1所述的测试分选机，其中，每个测试平台被配置来在电子元件上完成和另一个测试平台相同类型的测试。3.如权利要求1所述的测试分选机，其中，每个测试平台还包含有：用于在载体模块和测试平台的测试台之间传送电子元件的拾取头。4.如权利要求3所述的测试分选机，其中，拾取头包括围绕旋转驱动器设置的一对往复式拾取头。5.如权利要求4所述的测试分选机，其中，该拾取头相互彼此隔开180度的角度，并二者选一地被设置在载体模块上方或者测试台上方。6.如权利要求4所述的测试分选机，该测试分选机还包含有：垂直驱动器，其被耦接至每个拾取头，该垂直驱动器被配置来降低拾取头以在第一位置拾取电子元件，和在拾取头被转动以传送电子元件至第二位置以前提升拾取头。7.如权利要求1所述的测试分选机，该测试分选机还包含有：另一个辅助转台，其具有另一组多个载体模块；以及另一组多个测试平台，其沿着该另一个辅助转台的外围设置以测试电子元件。8.如权利要求7所述的测试分选机，其中，该另一组多个载体模块被配置来从主转台处接收电子元件。9.如权利要求8所述的测试分选机，其中，该另一组多个测试平台在电子元件上完成和辅助转台的多个测试平台相同类型的测试。10.如权...

【专利技术属性】
技术研发人员：张雨时，刘启峰，
申请(专利权)人：先进科技新加坡有限公司，
类型：发明
国别省市：新加坡;SG