【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种打磨装置，特别是涉及一种金相试样打磨装置。
技术介绍
在材料科学
中，一般都会进行金相分析的实验，因此就需要制备用于微观观察检验的金相试样样品。金相试样在制备的过程中需要经过打磨、抛光等步骤。金相试样打磨过程需要将试样在砂纸上不断打磨。打磨的过程中，开始需要经过粗砂纸将试样需要打磨的一面上较大的坑洼打磨平整，然后再经过细砂纸将试样需要打磨的一面上的细小划痕打磨平整，之后进行下一步抛光过程。砂纸的粒径包括280#、320#，400#、500#、600#、800#、1000#等，粗细各不相同，金相试样打磨过程中就需要根据具体材料选择以上粒径不同的砂纸，从粗到细依次打磨。为了保证试样被打磨的平整，需要在砂纸下垫上一块平板，将砂纸平铺在平板上，一手捏住试样，一手按住砂纸，从靠近身体的一方向前方做单方向依次打磨。通过以上的打磨方式，首先，需要一手固定住砂纸，一手捏住试样进行打磨，但进行试样的粗磨时，由于试样与砂纸的摩擦阻力较大导致砂纸容易跑动，增加了操作的负担；其次，打磨过程中砂纸上的细砂会洒落到桌面等地方，很难打扫；再次，在整张砂纸上进行打磨会导...
【技术保护点】
一种金相试样打磨装置，包括装置样身（2），其特征为，装置样身（2）为长方体构型，装置样身（2）上设有样品槽（1）、标签槽（3）、打磨槽（5），打磨槽（5）底面下端中间部位设有圆柱体凸体（6），圆柱体凸体（6）上设有与其卡合的盖板（7），装置样身（2）前侧面设有与其连通且向内部延伸的中空槽（4）。
【技术特征摘要】
1.一种金相试样打磨装置，包括装置样身（2），其特征为，装置样身（2）为长方体构型，装置样身（2）上设有样品槽（1）、标签槽（3）、打磨槽（5），打磨槽（5）底面下端中间部位设有圆柱体凸体（6），圆柱体凸体（6）上设有与其卡合的盖板（7），装置样身（2）前侧面设有与其连通且向内部延伸的中空槽（4）。2.如权利要求1所述的一种金相试样打磨装置，其特征是所述打磨槽（5）为长方体构型。3.如权利要求2所述的一种金相试样打磨装置，其特征是所述长方体构型打磨槽（5）的各个面与装置样身（2）的各个对应面相互平行。4.如权利要求1所述的一种金相试...
【专利技术属性】
技术研发人员：刘旭冉，金应荣，查小月，刘琴，李树艳，
申请(专利权)人：西华大学，
类型：新型
国别省市：四川;51
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