一种带检测电极调节装置的套管鼓包检测仪及其使用方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种带检测电极调节装置的套管鼓包检测仪及其使用方法，涉及光缆表面的鼓包检测领域，包括基座、第一电极、第二电极、调节装置、锁紧装置、鼓包检测装置，调节装置通过螺纹安装在基座上，调节装置下端安装第一电极，第一电极和第二电极相对设置，第二电极与鼓包检测装置连接，鼓包检测装置安装在基座下部，调节装置上端旁侧设有锁紧装置。本发明专利技术的带检测电极调节装置的套管鼓包检测仪使现场操作人员能快速、精确的调节，以检测套管鼓包，而且能够保证光缆测量的准确度和质量。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及光缆表面的鼓包检测领域，具体涉及一种带检测电极调节装置的套管鼓包检测仪及其使用方法。
技术介绍
光缆包括光纤、塑料保护套管和塑料外皮，光缆在生产过程中，需要通过套塑设备对多根光纤进行二次套塑；光缆在二次套塑的过程中，套塑设备可能发生故障，进而使得光缆的套管表面出现鼓包。有鼓包的套管在后续成缆过程中会挤压相邻的套管，进而导致光缆衰减，难以保证光缆的质量。为了保证光缆的质量，光缆在生产过程中，需要检测光缆的套管表面是否有鼓包出现。现有的鼓包检测装置一般采用非接触式的红外凹凸测定仪，红外凹凸测定仪通过红外线投影技术、并结合快速模拟量缺陷检测器测量光缆的外形。但是，现有的鼓包检测装置检测光缆的套管表面是否有鼓包出现时，存在以下缺陷：(1)非接触式的红外凹凸测定仪的测量精度较高，能够检测大于0.1mm的表面缺陷，当光缆表面滴水后，水滴会造成光缆表面出现超过0.1mm的鼓包，非接触式的红外凹凸测定仪会将水滴当成光缆的鼓包进行错误报警，因此，非接触式的红外凹凸测定仪测试光缆鼓包的结果可能与实际情况不符，非接触式的红外凹凸测定仪的测量准确率较低。(2)为了保证非接触式的红外凹凸测定仪的测量精度，操作人员需要经常擦拭红外凹凸测定仪的测试镜头，保证测试镜头的清洁，操作人员经常擦拭测试镜头的过程比较繁琐，浪费了人力资源。(3)非接触式的红外凹凸测定仪的制造成本和购买成本均较高，每条光缆生产线都配备非接触式的红外凹凸测定仪，会极大提高光缆的生产成本。在光缆松套管生产过程中，为了防止非接触式鼓包检测仪由于抖动、异物、水滴等因素引起的误报，需要增设机械式鼓包检测仪进行辅助检测。传统的机械式鼓包检测仪先通过套管的直径确定第二电极的高度位置，再通过手动调节第一电极高度位置，使第一电极和第二电极刚好接触，但没有检测信号输出为准，当套管上有鼓包时，鼓包顶动第二电极，使第一电极和第二电极接触，产生检测信号输出。但是由于结构原因，传统的机械式鼓包检测仪通过手动调节两检测电极之间间隙，不能实现两检测电极之间间隙调节的量化控制，而且不容易操作，对于现场操作人员来说，很难做到快速、精确地调节两检测电极之间的间隙。
技术实现思路
针对现有技术中存在的缺陷，本专利技术的目的在于提供一种带检测电极调节装置的套管鼓包检测仪及其使用方法，该检测仪能使两检测电极之间间隙的调节精度提高。为达到以上目的，本专利技术采取的技术方案是一种带检测电极调节装置的套管鼓包检测仪，包括：基座，所述基座上设有螺纹；调节装置，所述调节装置通过所述螺纹安装在所述基座上部，所述调节装置下端设有第一电极，所述调节装置调节所述第一电极在垂直方向上的位置；第二电极，所述第二电极与所述第一电极相对设置；鼓包检测装置，所述鼓包检测装置设置在所述基座下部，所述所述鼓包检测装置设有检测滑轴，所述检测滑轴与所述第二电极连接，所述检测滑轴带动所述第二电极在靠近和远离所述第一电极的方向上运动。在上述技术方案的基础上，所述调节装置包括调节盘，所述调节盘通过所述螺纹安装在所述基座上。在上述技术方案的基础上，所述调节盘中央设有压杆轴，所述压杆轴穿过所述调节盘，所述压杆轴下端安装所述第一电极，所述调节盘上端设有压板，所述压杆轴上设有压簧，所述压簧上端抵持于所述压板上，所述压簧下端抵持于所述压杆轴的凸台上。在上述技术方案的基础上，所述调节盘沿圆周上均匀设有10个调节盘等分槽。在上述技术方案的基础上，所述调节装置上端设有锁紧装置，所述锁紧装置抵持于所述调节装置，所述锁紧装置安装在所述基座顶面。在上述技术方案的基础上，所述锁紧装置包括安装在所述基座顶面的导向座及套设于所述导向座上的顶杆，所述顶杆靠近所述调节盘的一端设有顶尖，所述顶尖抵持于所述调节盘。在上述技术方案的基础上，所述导向座与所述顶尖间设有弹簧。在上述技术方案的基础上，所述顶尖抵持于所述调节盘等分槽中。为达到以上目的，本专利技术采取的技术方案是一种带检测电极调节装置的套管鼓包检测仪的使用方法，包括以下步骤：S1、将套管固定好之后开始调节鼓包检测仪电极间隙；S2、将顶杆拉起，松开调节盘；S3、逆时针旋转调节盘直至两检测电极完全脱离接触；S4、将待检测的套管放入鼓包检测装置内；S5、顺时针旋转调节盘直至两电极刚好接触，以从信号反馈装置检测到鼓包信号为准；S6、逆时针旋转调节盘使距顶尖最近的一条调节盘等分槽与顶尖对齐。在上述技术方案的基础上，在S6中，若此时信号反馈装置无鼓包信号则松开顶杆，完成调节操作；若此时依旧能检测到鼓包信号，则继续逆时针旋转调节盘到下一条调节盘等分槽与顶尖对齐，重复此操作直至鼓包信号消失，松开顶杆，完成调节。与现有技术相比，本专利技术的优点在于：1、本专利技术的带检测电极调节装置的套管鼓包检测仪包括调节装置，通过旋转调节盘调整两检测电极之间的间隙，使用调节盘等分槽来量化电极位置调节的多少，使现场操作人员精确的调节检测电极的位置。2、本专利技术的带检测电极调节装置的套管鼓包检测仪包括锁紧装置，通过锁紧装置来实现第一电极位置的固定，以此使现场操作人员能快速的固定检测电极的位置，以检测套管鼓包。3、本专利技术的带检测电极调节装置的套管鼓包检测仪的使用方法能实现两检测电极之间间隙调节的量化控制，而且容易操作，对于现场操作人员来说，能做到快速、精确地调节两检测电极之间的间隙。附图说明图1为本专利技术实施例中一种带检测电极调节装置的套管鼓包检测仪的正面剖视图；图2为本专利技术实施例中一种带检测电极调节装置的套管鼓包检测仪的俯视图；图3为本专利技术实施例中一种带检测电极调节装置的套管鼓包检测仪的使用方法。图中：1-基座，2-调节盘，3-压杆轴，4-压板，5-压簧，6-第一电极，7-导向座，8-顶杆，9-调节盘等分槽，10-顶尖，11-弹簧，12-螺纹，13-调节装置，14-鼓包检测装置，15-第二电极，16-套管，17-检测滑轴，18-压缩弹簧，19-锁紧装置，20-信号反馈装置。具体实施方式以下结合附图及实施例对本专利技术作进一步详细说明。参见图1和图2所示，本专利技术实施例提供一种带检测电极调节装置的套管鼓包检测仪，该检测仪主要包括：基座1，第一电极6，第二电极15，调节装置13，鼓包检测装置14，锁紧本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种带检测电极调节装置的套管鼓包检测仪，其特征在于，包括：基座(1)，所述基座(1)上设有螺纹(12)；调节装置(13)，所述调节装置(13)通过所述螺纹(12)安装在所述基座(1)上部，所述调节装置(13)下端设有第一电极(6)，所述调节装置(13)调节所述第一电极(6)在垂直方向上的位置；第二电极(15)，所述第二电极(15)与所述第一电极(6)相对设置；鼓包检测装置(14)，所述鼓包检测装置(14)设置在所述基座(1)下部，所述所述鼓包检测装置(14)设有检测滑轴(17)，所述检测滑轴(17)与所述第二电极(15)连接，所述检测滑轴(17)带动所述第二电极(15)在靠近和远离所述第一电极(6)的方向上运动。

【技术特征摘要】
1.一种带检测电极调节装置的套管鼓包检测仪，其特征在于，
包括：
基座(1)，所述基座(1)上设有螺纹(12)；
调节装置(13)，所述调节装置(13)通过所述螺纹(12)安装
在所述基座(1)上部，所述调节装置(13)下端设有第一电极(6)，
所述调节装置(13)调节所述第一电极(6)在垂直方向上的位置；
第二电极(15)，所述第二电极(15)与所述第一电极(6)相对
设置；
鼓包检测装置(14)，所述鼓包检测装置(14)设置在所述基座
(1)下部，所述所述鼓包检测装置(14)设有检测滑轴(17)，所述
检测滑轴(17)与所述第二电极(15)连接，所述检测滑轴(17)带
动所述第二电极(15)在靠近和远离所述第一电极(6)的方向上运
动。
2.如权利要求1所述的带检测电极调节装置的套管鼓包检测仪，
其特征在于：所述调节装置包括调节盘(2)，所述调节盘(2)通过
所述螺纹(12)安装在所述基座(1)上。
3.如权利要求2所述的带检测电极调节装置的套管鼓包检测仪，
其特征在于：所述调节盘(2)中央设有压杆轴(3)，所述压杆轴(3)
穿过所述调节盘(2)，所述压杆轴(3)下端安装所述第一电极(6)，
所述调节盘(2)上端设有压板(4)，所述压杆轴(3)上设有压簧(5)，
所述压簧(5)上端抵持于所述压板(4)上，所述压簧(5)下端抵
持于所述压杆轴(3)的凸台上。
4.如权利要求2所述的带检测电极调节装置的套管鼓包检测仪，
其特征在于：所述调节盘(2)沿圆周上均匀设有10个调节盘等分槽

\t(9)。
5.如权利要求1所述的带检测电极调节装置的套管鼓包检测仪，
其特征在于：所述调节装置(13)上端设有锁紧装置(19)，所述锁
紧装置(19)抵持...

【专利技术属性】
技术研发人员：肖昌云，
申请(专利权)人：烽火通信科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：湖北;42