【技术实现步骤摘要】
【技术保护点】
一种四斜面阵列可展结构,其特征在于:由若干个单元结构四方连续构成,所述单元结构的长度折叠半角和宽度折叠半角均为大于0°而小于180°,该结构几何展开后为一完整平面。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:姜开宇,宋涛,赵骥,
申请(专利权)人:微刻北京科技有限公司,
类型:发明
国别省市:北京;11
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