一种在空间频率域进行像素响应函数测量的方法技术

本发明专利技术涉及一种在空间频率域进行像素响应函数测量的方法，包括：利用阵列探测器采集四步相移正弦条纹图像；对四步相移正弦条纹图像进行预处理；改变条纹倾向和条纹间距，重复之前步骤，直至空间频率覆盖设定的频谱范围；计算每个像素的频域的像素响应函数；每个像素的频域的像素响应函数通过逆傅里叶变换计算得到对应的空间域的像素响应函数，得到总的空间域的像素响应函数；增大应用于逆傅里叶变换中的截止频率，重复之前步骤，再次得到空间域的像素响应函数；将空间域的像素响应函数与前一次得到的空间域的像素响应函数进行比较，如果差别在误差允许的范围内，则空间域的像素响应函数就是满足测量要求的最终结果，否则，重新执行前一步骤。

【技术实现步骤摘要】
201610076777

【技术保护点】
一种在空间频率域进行像素响应函数测量的方法，包括：步骤1)、利用阵列探测器采集四步相移正弦条纹图像以及对应的暗场图像；步骤2)、对步骤1)获得的四步相移正弦条纹图像进行预处理；其中，所述预处理包括：对所述正弦条纹图像进行多帧平均，然后根据正弦条纹图像所对应的暗场图像扣除暗噪声、本底噪声，获得经过预处理之后的四步相移正弦条纹图像；步骤3)、改变条纹倾向和条纹间距，重复步骤1)、步骤2)，直至四步相移正弦条纹图像的空间频率覆盖设定的频谱范围；步骤4)、利用之前所得到的所有经过预处理之后的四步相移正弦条纹图像，计算每个像素的频域的像素响应函数；步骤5)、步骤4)所得到的每个像素的频域的像素响应函数通...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李海涛，李保权，
申请(专利权)人：中国科学院国家空间科学中心，
类型：发明
国别省市：北京;11