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本发明涉及一种在空间频率域进行像素响应函数测量的方法，包括：利用阵列探测器采集四步相移正弦条纹图像；对四步相移正弦条纹图像进行预处理；改变条纹倾向和条纹间距，重复之前步骤，直至空间频率覆盖设定的频谱范围；计算每个像素的频域的像素响应函数；每...
该专利属于中国科学院国家空间科学中心所有，仅供学习研究参考，未经过中国科学院国家空间科学中心授权不得商用。

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