【技术实现步骤摘要】
201410766771
【技术保护点】
一种测定ZSM‑23分子筛晶胞参数的粉末X射线衍射方法，其特征在于，包括：步骤一，将ZSM‑23分子筛样品经过研磨、过筛、焙烧活化和室温恒湿处理得到ZSM‑23分子筛待测试样；步骤二，在相同的粉末X射线衍射仪工作条件下，将所述ZSM‑23分子筛待测试样与NIST云母标样分别压入相应的粉末X射线衍射仪样品架中，进行试样衍射峰角度校正测定并收集粉末X射线衍射数据；步骤三，在用NIST云母标样校正衍射峰角度之后，根据正交晶系晶面间距公式，计算所述ZSM‑23分子筛样品的晶胞参数。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李瑞峰，王秀绘，
申请(专利权)人：中国石油天然气股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11
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