具有磁分析功能的X射线衍射装置制造方法及图纸

本发明专利技术涉及具有磁分析功能的X射线衍射装置。一种X射线衍射装置可包括：样品台，其上用于固定载玻片，所述载玻片上安装有样品；X射线源，用于照射X射线到所述样品上；检测器，用于检测经所述样品反射的X射线；以及磁场发生器，用于产生并且向所述样品施加磁场。除了传统功能之外，所述X射线衍射装置还能实现一定的磁分析功能，因而能够在一定程度上代替中子衍射装置来使用。

【技术实现步骤摘要】
201610133044

【技术保护点】
一种X射线衍射装置，包括：样品台，其上用于固定载玻片，所述载玻片上安装有样品；X射线源，用于照射X射线到所述样品上；检测器，用于检测经所述样品反射或透射的X射线；以及磁场发生器，用于产生并且向所述样品施加磁场。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：王利晨，雷雨，许志一，赵莹莹，
申请(专利权)人：王利晨，雷雨，许志一，赵莹莹，
类型：发明
国别省市：北京;11