一种白光封装LED的分光测试系统及方法技术方案

本发明专利技术公开一种白光封装LED的分光测试系统,其能够自动下载测试分光程式，并实时上传测试数据，且分光满BIN后自动打印对应的等级标签，从根源上解决了白光封装LED分光测试信息的难追溯问题。其包括初始化模块、BIN管满处理模块、BIN管未满处理模块、标签打印模块。还提供了一种白光封装LED的分光测试方法。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于半导体照明应用的
，具体地涉及一种白光封装LED的分光测试系统，以及测试方法，主要应用在照明及背光产品上。
技术介绍
传统的白光封装LED的分光测试，采用手动离线存档数据，手动打印标签，离线编写测试程式。数据只能存储在移动存储设备或设备主机中，不能即时调用数据，且数据极容易被删除。分光测试机的程序编写后，只能离线放置，极易混淆出错。机器满BIN(即预设容量)后，沿用手写BIN级，人为手动设计标签样式，不规范且非常容易出错。出现品质问题后，无法追溯到产品生产的信息。
技术实现思路
本专利技术的技术解决问题是：克服现有技术的不足，提供一种白光封装LED的分光测试系统,其能够自动下载测试分光程式，并实时上传测试数据，且分光满BIN后自动打印对应的等级标签，从根源上解决了白光封装LED分光测试信息的难追溯问题。本专利技术的技术解决方案是：这种白光封装LED的分光测试系统，其包括初始化模块、BIN管满处理模块、BIN管未满处理模块、标签打印模块；初始化模块，其配置来扫描测试批次、获取产品型号及数量信息、下载测试程式；BIN管满处理模块，其配置来扫描BIN管信息、获取BIN编码和满管数量、将满管信息以及关联批次写入数据库；BIN管未满处理模块，其包括良品处理单元和不良品处理单元；良品处理单元配置来清良品或手动控制，然后扫描BIN管信息、获取BIN编码和满管数量、将满管信息以及关联批次写入数据库；不良品处理单元，其配置来清不良品，通过标签打印模块来打印其标签，然后对余数进行重测；标签打印模块，其配置来打印所测试LED的机台号、产品型号和BIN管号、满BIN数量、BIN编码、测试批次号。还提供了一种白光封装LED的分光测试方法，包括以下步骤：(1)扫描测试批次；(2)获取产品型号及数量信息；(3)下载测试程式；(4)获得开始测试的信号；(5)判断是否BIN管满，是则执行步骤(6)，否则执行步骤(9)；(6)扫描BIN管信息；(7)获取BIN编码和满管数量；(8)将满管信息以及关联批次写入数据库，跳转到步骤(17)；(9)判断是否为良品，是则执行步骤(10)，否则执行步骤(14)；(10)清良品或手动控制；(11)扫描BIN管信息；(12)获取BIN编码和满管数量；(13)将满管信息以及关联批次写入数据库，跳转到步骤(17)；(14)清不良品；(15)通过标签打印模块来打印其标签；(16)对余数进行重测，跳转到步骤(1)；(17)打印标签，标签上写有所测试LED的机台号、产品型号和BIN管号、满BIN数量、BIN编码、测试批次号。本专利技术通过初始化模块来扫描测试批次、获取产品型号及数量信息、下载测试程式，通过BIN管满处理模块来扫描BIN管信息、获取BIN编码和满管数量、将满管信息以及关联批次写入数据库，通过BIN管未满处理模块来扫描BIN管信息、获取BIN编码和满管数量、将满管信息以及关联批次写入数据库，或者来清不良品，通过标签打印模块来打印其标签，然后对余数进行重测，通过标签打印模块来打印所测试LED的机台号、产品型号和BIN管号、满BIN数量、BIN编码、测试批次号，因此能够自动下载测试分光程式，并实时上传测试数据，且分光满BIN后自动打印对应的等级标签，从根源上解决了白光封装LED分光测试信息的难追溯问题。附图说明图1示出了根据本专利技术的白光封装LED的分光测试系统的一个优选实施例的结构示意图。图2示出了根据本专利技术的白光封装LED的分光测试方法的流程图。图3示出了基础数据。图4示出了根据本专利技术的关联步骤的流程图。(根据专利审查指南的相关规定，附图要求为黑色线条或文字、白色背景的图，所以请将图2中的黄色部分全部改为与背景相同的白色)具体实施方式如图1所示，本专利技术的这种白光封装LED的分光测试系统，其包括初始化模块、BIN管满处理模块、BIN管未满处理模块、标签打印模块；初始化模块，其配置来扫描测试批次、获取产品型号及数量信息、下载测试程式；BIN管满处理模块，其配置来扫描BIN管信息、获取BIN编码和满管数量、将满管信息以及关联批次写入数据库；BIN管未满处理模块，其包括良品处理单元和不良品处理单元；良品处理单元配置来清良品或手动控制，然后扫描BIN管信息、获取BIN编码和满管数量、将满管信息以及关联批次写入数据库；不良品处理单元，其配置来清不良品，通过标签打印模块来打印其标签，然后对余数进行重测；标签打印模块，其配置来打印所测试LED的机台号、产品型号和BIN管号、满BIN数量、BIN编码、测试批次号。本专利技术通过初始化模块来扫描测试批次、获取产品型号及数量信息、下载测试程式，通过BIN管满处理模块来扫描BIN管信息、获取BIN编码和满管数量、将满管信息以及关联批次写入数据库，通过BIN管未满处理模块来扫描BIN管信息、获取BIN编码和满管数量、将满管信息以及关联批次写入数据库，或者来清不良品，通过标签打印模块来打印其标签，然后对余数进行重测，通过标签打印模块来打印所测试LED的机台号、产品型号和BIN管号、满BIN数量、BIN编码、测试批次号，因此能够自动下载测试分光程式，并实时上传测试数据，且分光满BIN后自动打印对应的等级标签，从根源上解决了白光封装LED分光测试信息的难追溯问题。另外，该系统还包括关联模块，其配置来根据测试系统所生成的文件进行捕捉记录并分析处理，记录该批次每管数量以及测试完成后的每颗数据进行统计，新生成的BIN批次与测试前的批次相关联，将测试前的工单批次更新为测试完成状态。另外，如图3所示，所述测试系统所生成的文件包括BINTable、BIN管计数以及每一颗LED的数据。如图2所示，本专利技术还提供了还提供了一种白光封装LED的分光测试方法，包括以下步骤：(1)扫描测试批次；(2)获取产品型号及数量信息；(3)下载测试程式；(4)获得开始测试的信号；(5)判断是否BIN管满，是则执行步骤(6)，否则执行步骤(9)；(6)扫描BIN管信息；(7)获取BIN编码和满管数量；(8)将满管信息以及关联批次写入数据库，跳转到步骤(17)；(9)判断是否为良品，是则执行步骤(10)，否则执行步骤(14)；(10)清良品或手动控制；(11)扫描BIN管信息；(本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种白光封装LED的分光测试系统，其特征在于：其包括初始化模块、BIN管满处理模块、BIN管未满处理模块、标签打印模块；初始化模块，其配置来扫描测试批次、获取产品型号及数量信息、下载测试程式；BIN管满处理模块，其配置来扫描BIN管信息、获取BIN编码和满管数量、将满管信息以及关联批次写入数据库；BIN管未满处理模块，其包括良品处理单元和不良品处理单元；良品处理单元配置来清良品或手动控制，然后扫描BIN管信息、获取BIN编码和满管数量、将满管信息以及关联批次写入数据库；不良品处理单元，其配置来清不良品，通过标签打印模块来打印其标签，然后对余数进行重测；标签打印模块，其配置来打印所测试LED的机台号、产品型号和BIN管号、满BIN数量、BIN编码、测试批次号。

【技术特征摘要】
1.一种白光封装LED的分光测试系统，其特征在于：其包括初始化模块、
BIN管满处理模块、BIN管未满处理模块、标签打印模块；
初始化模块，其配置来扫描测试批次、获取产品型号及数量信息、下
载测试程式；
BIN管满处理模块，其配置来扫描BIN管信息、获取BIN编码和满管数
量、将满管信息以及关联批次写入数据库；
BIN管未满处理模块，其包括良品处理单元和不良品处理单元；良品处
理单元配置来清良品或手动控制，然后扫描BIN管信息、获取BIN编
码和满管数量、将满管信息以及关联批次写入数据库；不良品处理单
元，其配置来清不良品，通过标签打印模块来打印其标签，然后对余
数进行重测；
标签打印模块，其配置来打印所测试LED的机台号、产品型号和BIN
管号、满BIN数量、BIN编码、测试批次号。
2.根据权利要求1所述的白光封装LED的分光测试系统，其特征在于：
该系统还包括关联模块，其配置来根据测试系统所生成的文件进行捕
捉记录并分析处理，记录该批次每管数量以及测试完成后的每颗数据
进行统计，新生成的BIN批次与测试前的批次相关联，将测试前的工
单批次更新为测试完成状态。
3.根据权利要求2所述的白光封装LED的分光测试系统，其特征在于：
所述测试系统所生成的文件包括BINTable、BIN管计数以及每一颗LED
的数据。
4.一种白光封装LED的分光测试方法，其特征在于：包括以下步骤：
(1)扫描测试批次；
(2)获取产品型号及数量信息；
(3)...

【专利技术属性】
技术研发人员：王海超，马世国，孙敏毅，李明月，
申请(专利权)人：易美芯光北京科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11