一种基于I2C总线的系统及测试方法技术方案

本发明专利技术提出了一种基于I2C总线的系统及测试方法，测试系统包括n个通用处理模块，n个通用处理模块均通过I2C总线连接；通用处理模块包括CPU以及多个与CPU连接的具有I2C接口的器件；器件通过I2C总线与CPU连接。本发明专利技术采用I2C总线实现测试功能，具有简单易行、成本可控等优势，可广泛应用于嵌入式产品领域。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及嵌入式计算机领域，尤其涉及一种基于I2C总线的系统及测试方法。
技术介绍
I2C总线由串行数据线(SDA)和串行时钟线(SCL)组成，仅有两条线就可挂载多个设备，各个设备通过地址区分。带有I2C接口的处理器广泛应用于电子设备的主板上，实现温度监控、EEPROM读写操作、系统间通信等。目前在嵌入式产品测试性设计中，提供的测试性所要求的支持电路较少，无法满足最终产品对测试性的要求。
技术实现思路
为了解决
技术介绍
中所存在的技术问题，本专利技术提出了一种基于I2C总线的系统及测试方法，采用I2C总线实现测试功能，具有简单易行、成本可控等优势。本专利技术的技术解决方案是:一种基于I2C总线的系统，其特征在于:所述测试系统包括η个通用处理模块，η个通用处理模块均通过I2C总线连接；所述通用处理模块包括CPU以及多个与CPU连接的具有I2C接口的器件;所述器件通过12C总线与CPU连接。上述具有I2C接口的器件是单片机或DSP。—种基于I2C总线的测试方法，其特征在于:所述方法包括以下步骤:I)第一通用处理模块通过I2C总线按照通信协议向第二通用处理模块发送测试消息;2)第二通用处理模块CTU驻留的测试应用软件按照通信协议接收消息并进行解析，确认待测试器件的位置信息；3)第二通用处理模块CPU驻留的测试应用软件通过I2C总线向待测试器件发送测试消息； 4)待测试器件按照通信协议接收测试消息并解析；5)待测试器件响应测试消息，完成自身测试，测试结果通过I2C发给第二通用处理模块CPU驻留的测试应用软件；6)CPU驻留的测试应用软件接收数据并按照通信协议组包；7)第二通用处理模块CPU驻留的测试应用软件通过I2C总线向第一通用处理模块发送消息；8)第一通用处理模块接收第二通用处理模块测试结果；9)第一通用处理模块对测试结果进行故障分析，并上报测试结果。本专利技术的基于I2C总线的系统及测试方法，基于该总线的测试架构，在通用处理模块之间通过I2C总线实现测试信息的传递，通用处理模块通过I2C总线接收测试信息后，内部处理器电路通过I2C发送测试消息并获取器件的反馈信息，从而完成对内部模块的测试功能。采用I2C总线实现测试功能，具有简单易行、成本可控等优势，可广泛应用于嵌入式产品领域;可快速实现产品内部测试性设计要求，提高产品的开发进度、降低开发成本。【附图说明】图1是本专利技术的内部架构示意图；图2是本专利技术的测试方法流程图；【具体实施方式】采用基于I2C总线的系统测试方法的产品内部，由η个通用处理模块组成。产品内部架构如图1所示。通用处理模块2由CPU 20，器件21，器件22等共m个器件组成。CPU 20驻留有测试应用软件，接收系统内其它模块的通信消息。器件21、器件22和器件m具有I2C接口，通过I2C总线与CPU20连接。I2C总线测试方法如图2所示。处理步骤如下:I)第一通用处理模块I通过I2C总线按照通信协议向第二通用处理模块2发送测试消息；2)第二通用处理模块CTU驻留的测试应用软件按照通信协议接收消息并进行解析，确认待测试器件的位置信息；3)第二通用处理模块CPU驻留的测试应用软件通过I2C总线向待测试器件发送测试消息；4)待测试器件按照通信协议接收测试消息并解析；5)待测试器件响应测试消息，完成自身测试，测试结果通过I2C发给第二通用处理模块CPU驻留的测试应用软件；6)CPU驻留的测试应用软件接收数据并按照通信协议组包；7)第二通用处理模块CPU驻留的测试应用软件通过I2C总线向第一通用处理模块发送消息；8)第一通用处理模块I接收第二通用处理模块2测试结果；9)第一通用处理模块I对测试结果进行故障分析，并上报测试结果。【主权项】1.一种基于I2C总线的系统，其特征在于:所述测试系统包括η个通用处理模块，η个通用处理模块均通过I2C总线连接； 所述通用处理模块包括CPU以及多个与CPU连接的具有I2C接口的器件;所述器件通过12C总线与CPU连接。2.根据权利要求1所述的基于I2C总线的系统，其特征在于:所述具有I2C接口的器件是单片机或DSP。3.一种基于I2C总线的测试方法，其特征在于:所述方法包括以下步骤: 1)第一通用处理模块通过I2C总线按照通信协议向第二通用处理模块发送测试消息； 2)第二通用处理模块CPU驻留的测试应用软件按照通信协议接收消息并进行解析，确认待测试器件的位置信息； 3)第二通用处理模块CPU驻留的测试应用软件通过I2C总线向待测试器件发送测试消息; 4)待测试器件按照通信协议接收测试消息并解析； 5)待测试器件响应测试消息，完成自身测试，测试结果通过I2C发给第二通用处理模块(PU驻留的测试应用软件； 6)CRJ驻留的测试应用软件接收数据并按照通信协议组包； 7)第二通用处理模块CPU驻留的测试应用软件通过I2C总线向第一通用处理模块发送消息； 8)第一通用处理模块接收第二通用处理模块测试结果； 9)第一通用处理模块对测试结果进行故障分析，并上报测试结果。【专利摘要】本专利技术提出了一种基于I2C总线的系统及测试方法，测试系统包括n个通用处理模块，n个通用处理模块均通过I2C总线连接；通用处理模块包括CPU以及多个与CPU连接的具有I2C接口的器件；器件通过I2C总线与CPU连接。本专利技术采用I2C总线实现测试功能，具有简单易行、成本可控等优势，可广泛应用于嵌入式产品领域。【IPC分类】G06F11/22【公开号】CN105573875【申请号】CN201510917822【专利技术人】茹伟, 赵腊才, 孔德岐, 吴志川, 万欣宇, 张杨阳 【申请人】中国航空工业集团公司西安航空计算技术研究所【公开日】2016年5月11日【申请日】2015年12月10日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于I2C总线的系统，其特征在于：所述测试系统包括n个通用处理模块，n个通用处理模块均通过I2C总线连接；所述通用处理模块包括CPU以及多个与CPU连接的具有I2C接口的器件；所述器件通过I2C总线与CPU连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：茹伟，赵腊才，孔德岐，吴志川，万欣宇，张杨阳，
申请(专利权)人：中国航空工业集团公司西安航空计算技术研究所，
类型：发明
国别省市：陕西;61