【技术实现步骤摘要】
【专利说明】半导体器件以及包括该半导体器件的电阻测量系统和包括该半导体器件的测压仪表装置相关串请的交叉引用本申请基于并且要求于2014年10月6日提交的日本专利申请2014-205413号的优先权的权益，该专利申请的公开内容以引用的方式全部并入本文。
本专利技术涉及一种半导体器件以及其中每个都包括该半导体器件的电阻测量系统和测压仪表装置，并且，例如，涉及一种适用于抑制电路规模的增加的半导体器件以及其中每个都包括该半导体器件的电阻测量系统和测压仪表装置。
技术介绍
测量从测量对象接收到的压力的仪表装置，诸如用于测量体重的秤，测量电阻数值根据压力变化而变化的压敏电阻元件电阻数值的变化量，并且基于变化量的测量结果来计算测量对象的压力(例如，重量)。在该仪表装置中，例如，将包括四个包括压敏电阻元件的电阻元件的桥接电路用作压力传感器。在该桥接电路中，压敏电阻元件的电阻数值的变化量表现为在桥接电路的第一测量节点与第二测量节点之间的电位差。在日本专利3959828号说明书中公开了相关的技术。在日本专利3959828号说明书中公开的配置包括:电阻桥接电路，该电阻桥接电路包括其...
【技术保护点】
一种半导体器件，包括：可变电流生成单元，所述可变电流生成单元发出根据来自桥接电路的一个测量节点的控制信号的数值的直流电流，其中压敏电阻元件的电阻数值的变化量表现为在第一测量节点与第二测量节点之间的电位差；电位差确定单元，所述电位差确定单元确定所述电位差是否落在预定数值的范围内；以及控制单元，所述控制单元基于所述电位差确定单元的确定结果向所述可变电流生成单元输出所述控制信号，从而使所述可变电流生成单元发出使得所述电位差落在所述预定数值的范围内的所述直流电流。
【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：平井正人，林秀玲，
申请(专利权)人：瑞萨电子株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP
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