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半导体器件以及包括该半导体器件的电阻测量系统和包括该半导体器件的测压仪表装置制造方法及图纸
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文档序号:13172002
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本发明的各个实施例涉及半导体器件以及包括该半导体器件的电阻测量系统和包括该半导体器件的测压仪表装置。根据一个实施例,一种半导体器件1包括:可变电流生成单元11,该可变电流生成单元11发出直流电流Idac,该直流电流Idac的数值根据来自桥接...
该专利属于瑞萨电子株式会社所有,仅供学习研究参考,未经过瑞萨电子株式会社授权不得商用。
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