介电阻抗谱仪样品夹具制造技术

本发明专利技术提供了一种介电阻抗谱仪样品夹具，包括：上附加电极和下附加电极；所述上附加电极由铜银橡胶、玻银橡胶、铝银橡胶中的一种制成；所述下附加电极由铜银橡胶、玻银橡胶、铝银橡胶中的一种制成。本发明专利技术提供的介电阻抗谱仪样品夹具的上附加电极和下附加电极采用的特定橡胶，柔性好，使得对于极性较低样品也可以很好的接触，从而无需涂覆银浆或喷金即可进行准确的测定。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及仪器测定领域，尤其是涉及一种介电阻抗谱仪样品夹具。
技术介绍
宽频介电谱仪不但可以测量各种固体、薄膜材料，还可以测量液体，粉末等样品材料;广泛应用于化学、物理化学、电化学、电子、电工工程、材料科学、生物学和制药等领域，特别是聚合物、树脂、陶瓷、橡胶、玻璃、液晶、石油及悬浮体等材料的研究。宽频介电谱仪主要用于测量电介质材料或绝缘材料的介电参数、电气参数，如介电常数、电阻、电容、电导率等，其主要研究对象之一是具有一定极性的高分子体系。高分子材料的玻璃化温度普遍较高，在室温下较软，容易变形，且表面粗糙。介电谱仪要求测试的样品具有较高的光滑度，能与外接电极完美结合。现有技术常用的制样方法包括热压、冷压、滴膜等。这几种方法制备出的样品表面比较粗糙，需要在样品表面涂抹银浆或喷金以提高其与电极的接触。经过这样处理的样品，可以显著提高测试结果的精度，但也存在几点不足:(I)涂抹银浆容易造成样品的短路，使实验失败。(2)涂抹银浆或喷金的样品不易计算面积，会对测试结果造成二次误差。(3)喷金样品制备程序复杂，极大的增加了测试成本。(4)涂银浆或喷金的样品无法进行高温测试，会污染电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种介电阻抗谱仪样品夹具，包括：上附加电极和下附加电极；所述上附加电极由铜银橡胶、玻银橡胶、铝银橡胶中的一种制成；所述下附加电极由铜银橡胶、玻银橡胶、铝银橡胶中的一种制成。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李俊玲，刘宝峰，潘利华，常宇，
申请(专利权)人：中国科学院长春应用化学研究所，
类型：发明
国别省市：吉林;22