电性测试夹具及系统技术方案

本实用新型专利技术公开了一种电性测试夹具及系统，包括一个绝缘的本体和一个绝缘的上盖，所述本体和所述上盖之间形成转轴式可开合连接，其中：所述本体上设有至少一个管脚插槽，所述上盖上设有至少一个管脚压台，所述管脚插槽和所述管脚压台的位置相互对应，在所述本体和所述上盖合在一起时，每一个所述管脚插槽正好被一个所述管脚压台压住；所述管脚插槽内设有一个裸露的导片，所述导片上连接有一根延伸至所述本体的导线，并且所述导线的末端在所述本体的外表面上形成为一个检测点。本实用新型专利技术具有通用性强、检测时芯片的安装和调整速度快、检测信号不易出错等优点。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测试用的夹具及系统，特别涉及一种测试芯片电性的夹具及系统。
技术介绍
芯片在进行电性(如电阻、电平、频率等)测试的时候，需要从芯片的管脚上采集电信号。一种常见的方法是用万用表的探笔尖端触碰芯片的管脚，然后进行测试。由于芯片的体积日趋向微型化发展，造成芯片的管脚日趋细密，市面上管脚间距在0.5mm以内的芯片非常常见。用手动方法来操纵探笔去触碰这种芯片的管脚很容易形成脱接、错接的问题，影响测试的效率。为了提高测试时探笔和管脚连接的准确性，出现了以一种设有显微镜的探针台。在测试时，操作者通过显微镜来观察芯片的管脚，这样就容易保证探笔和管脚连接的准确性。但是为了防止撞伤显微镜的镜头，每次更换芯片或者调整测试管脚时，都需要抬起显微镜，设置好芯片之后再重新将显微镜落下。这样的操作不仅繁琐，而且严重降低测试的工作效率。为了提高测试效率，出现了一种专用的接口转化器进行芯片的电性测试。这种接口转化器上设计了与芯片的管脚相匹配的接口电路(socket)，然后通过socket将芯片管脚上的电信号输送到测试仪器上。这种专用的接口转化器在测试时虽然具有很高的效率，但是也存在两个明显的缺陷:(I)接口通用性差，只能连接特定型号的芯片，只要是与socket不匹配的芯片就无法应用；(2) socket的成本高。
技术实现思路
本技术是为了克服上述现有技术中的缺陷，提供一种电性测试夹具及系统，其具有通用性强、检测时芯片的安装和调整速度快、检测信号不易出错并且成本低廉的优点。为实现上述目的，本技术提供如下技术方案:一种电性测试夹具，其特征在于，包括一个绝缘的本体和一个绝缘的上盖，所述本体和所述上盖之间形成转轴式可开合连接，其中:所述本体上设有至少一个管脚插槽，所述上盖上设有至少一个管脚压台，所述管脚插槽和所述管脚压台的位置相互对应，在所述本体和所述上盖合在一起时，每一个所述管脚插槽正好被一个所述管脚压台压住；所述管脚插槽内设有一个裸露的导片，所述导片上连接有一根延伸至所述本体的导线，并且所述导线的末端在所述本体的外表面上形成为一个检测点。进一步地，所述管脚插槽可以是复数个，并且所述管脚插槽的宽度和相互的间距按照芯片管脚的封装标准布置。进一步地，所述本体上可以设有一个标准排线插口，每个所述检测点均形成该标准排线插口中的一个导线端。进一步地，所述本体和所述上盖之间可以设有一个提供顶开力的弹簧。 进一步地，所述本体和所述上盖可以卡扣和卡槽配合的方式进行扣合。进一步地，所述本体和所述上盖之间可以设有一个提供顶开力的弹簧。进一步地，所述本体和所述上盖可以卡扣和卡槽配合的方式进行扣合。一种电性测试系统，包括两个上述的任一种电性测试夹具，还包括待测芯片，其中:所述待测芯平两侧的管脚分别对应置于两个所述电性测试夹具的管脚插槽中。进一步地，两个所述电性测试夹具的本体的标准排线插口分别与测试器件相连，所述测试器件包括测试笔，所述测试笔放置于两个所述电性测试夹具的不同检测点上进行测试。进一步地，两个所述电性测试装置本体上的标准排线插口分别插入PCB板上。与现有技术相比，本技术的一个或多个实施例可具有如下有益效果:1、芯片(或具有管脚的非芯片测试对象)一侧的管脚可以很方便地插接在管脚插槽内，管脚上的电信号由导线引出到本体外表面上的检测点上，在目测条件下就就可以非常方便地进行检测，不用担心出现脱接和错接。这样一来，可以使得本技术的设计不仅适用于芯片，也适用于对包含了由芯片组成的系统模块等进行相应的电性测试。2、按照芯片管脚的封装标准布置的管脚插槽可以保证具有同一种封装的芯片都可以插入到测试夹具上，而不必考虑芯片的具体型号和管脚数量多少，通用性强。3、由于独特的分体式结构，可以方便满足芯片正反放置的测试要求，且不限制待测芯片的封装尺寸，从而有效地降低操作人员的工作难度，减少测试时间，提高测试效率。4、本体和上盖的结构非常简单，并且不需要应用高价格的专用socket模块，降低了测试夹具的成本。5、标准排线插口可以方便将本技术与专用的芯片测试仪器形成信号连接，更灵活地适应不同的检测需求。且与本技术的标准排线插口连接后，可以适用于多种测试方法，比如:(I)测试笔等测试器件的金属探针可直接接触检测点进行测试，克服由于芯片管脚太近造成测试短路的情况；(2)连接好的标准排线插口可插到PCB板上进行模块式电性测试。附图说明图1是本技术第一视角的实施例示意图；图2是本技术第一视角的实施例示意图。结合附图在其上标记以下附图标记:1-本体，2-上盖,3-转轴,4-弹簧,5-管脚插槽,6-管脚压台，7-卡槽,8-卡扣，9-标准排线插口。具体实施方式以下结合附图，对本技术的优选具体实施方式进行详细描述，但应当理解本技术的保护范围并不受具体实施方式的限制。实施例一如图1至图2所示，本技术的电性测试夹具，包括一个绝缘的本体I和一个绝缘的上盖2，二者通过一根转轴3形成可开合连接。在转轴3上可套设有一个弹簧4，该弹簧4的两端各伸出一个勾脚，分别顶在本体I和上盖2上。当上盖2压合在本体I上时，两个勾脚被压住，使得弹簧4提供一个能够顶起上盖2的力。这样的顶起力能够保证上盖2在不被卡住的时候和本体I保持分离状态，方便操作者装卸芯片。本体I上设有一个卡槽7，上盖2上设有一个对应的卡扣8，当测试夹具需要闭合时，将卡扣8扣在卡槽7内，就能够保证上盖2不会被弹起。图1中，本体I上设有复数个管脚插槽5，用于使芯片可以被插接在本体I上。每个管脚插槽5对应一个管脚，并且管脚插槽5内设有一个裸露的导片(未图示)，例如金属片，所述导片上连接有一根延伸至本体I的导线，并且所述导线的末端在本体I的外表面上形成为一个检测点。这样，在检测时就不需要再用探笔去触碰管脚，而是只需要方便地触碰检测点即可。为了便于在目测状态下检测，检测点的面积和间距可以设计得大一些，以免出现脱接和错接。管脚插槽5的宽度和相互的间距需要按照芯片管脚的封装标准布置。虽然芯片的具体型号会有不同，但是采用了同一个封装标准的芯片上管脚的大小和间距是一样的，这样一来，采用了同一个封装标准的不同芯片就可以应用同样的测试夹具了。为了保证通用性，管脚插槽5的数目需要有足够的富余，具体数目可根据测试需要灵活掌握。图1中，上盖2上设有对应于管脚插槽5的复数个管脚压台6，在本体I和上盖2合在一起时，每一个管脚插槽5正好被一个管脚压台6压住。在测试时，这种结构可以保证芯片上的每个管脚都能够和裸露在管脚插槽5中的金属片形成可靠的电连接。图2中，本体I上还设有一个标准排线插口 9，从每一个管脚插槽5内引出来的每个所述检测点均形成该标准排线插口 9中的一个导线端。这样的设计可以方便将本技术与专用的芯片测试仪器形成信号连接。另外，探笔的笔尖插入到标准排线插口 9中的某一个口内时还可以得到一定的固定，这样就可以方便操作者在测试时放开探笔。实施例二本实施例提供一种电性测试系统，其包括两个如实施例一中所述的电性测试夹具，还包括具有管脚的待测对象(例如待测芯片)和测试器件。其中，两个电性测试夹具的本体I上的标准排线插口 9分别与测试器件相连。此处的测试器件优选包括测试笔，所述测试笔放置于两个所述电性测试夹具的不本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电性测试夹具，其特征在于，包括一个绝缘的本体和一个绝缘的上盖，所述本体和所述上盖之间形成转轴式可开合连接，其中：所述本体上设有至少一个管脚插槽，所述上盖上设有至少一个管脚压台，所述管脚插槽和所述管脚压台的位置相互对应，在所述本体和所述上盖合在一起时，每一个所述管脚插槽正好被一个所述管脚压台压住；所述管脚插槽内设有一个裸露的导片，所述导片上连接有一根延伸至所述本体的导线，并且所述导线的末端在所述本体的外表面上形成为一个检测点。

【技术特征摘要】
1.一种电性测试夹具，其特征在于，包括一个绝缘的本体和一个绝缘的上盖，所述本体和所述上盖之间形成转轴式可开合连接，其中: 所述本体上设有至少一个管脚插槽，所述上盖上设有至少一个管脚压台，所述管脚插槽和所述管脚压台的位置相互对应，在所述本体和所述上盖合在一起时，每一个所述管脚插槽正好被一个所述管脚压台压住； 所述管脚插槽内设有一个裸露的导片，所述导片上连接有一根延伸至所述本体的导线，并且所述导线的末端在所述本体的外表面上形成为一个检测点。2.根据权利要求1所述的电性测试夹具，其特征在于，所述管脚插槽是复数个，并且所述管脚插槽的宽度和相互的间距按照芯片管脚的封装标准布置。3.根据权利要求1或2所述的电性测试夹具，其特征在于，所述本体上设有一个标准排线插口，每个所述检测点均形成该标准排线插口中的一个导线端。4.根据权利要求1所述的电性测试夹具，其特征在于，所述本体和所述上盖之间设有一个提供顶...

【专利技术属性】
技术研发人员：杨苗苗，张立，张弓长，
申请(专利权)人：国网电力科学研究院，国家电网公司，
类型：实用新型
国别省市：