【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种测试用的夹具及系统，特别涉及一种测试芯片电性的夹具及系统。
技术介绍
芯片在进行电性(如电阻、电平、频率等)测试的时候，需要从芯片的管脚上采集电信号。一种常见的方法是用万用表的探笔尖端触碰芯片的管脚，然后进行测试。由于芯片的体积日趋向微型化发展，造成芯片的管脚日趋细密，市面上管脚间距在0.5mm以内的芯片非常常见。用手动方法来操纵探笔去触碰这种芯片的管脚很容易形成脱接、错接的问题，影响测试的效率。为了提高测试时探笔和管脚连接的准确性，出现了以一种设有显微镜的探针台。在测试时，操作者通过显微镜来观察芯片的管脚，这样就容易保证探笔和管脚连接的准确性。但是为了防止撞伤显微镜的镜头，每次更换芯片或者调整测试管脚时，都需要抬起显微镜，设置好芯片之后再重新将显微镜落下。这样的操作不仅繁琐，而且严重降低测试的工作效率。为了提高测试效率，出现了一种专用的接口转化器进行芯片的电性测试。这种接口转化器上设计了与芯片的管脚相匹配的接口电路(socket)，然后通过socket将芯片管脚上的电信号输送到测试仪器上。这种专用的接口转化器在测试时虽然具有很高的效率，但是也存在...
【技术保护点】
一种电性测试夹具，其特征在于，包括一个绝缘的本体和一个绝缘的上盖，所述本体和所述上盖之间形成转轴式可开合连接，其中：所述本体上设有至少一个管脚插槽，所述上盖上设有至少一个管脚压台，所述管脚插槽和所述管脚压台的位置相互对应，在所述本体和所述上盖合在一起时，每一个所述管脚插槽正好被一个所述管脚压台压住；所述管脚插槽内设有一个裸露的导片，所述导片上连接有一根延伸至所述本体的导线，并且所述导线的末端在所述本体的外表面上形成为一个检测点。
【技术特征摘要】
1.一种电性测试夹具，其特征在于，包括一个绝缘的本体和一个绝缘的上盖，所述本体和所述上盖之间形成转轴式可开合连接，其中: 所述本体上设有至少一个管脚插槽，所述上盖上设有至少一个管脚压台，所述管脚插槽和所述管脚压台的位置相互对应，在所述本体和所述上盖合在一起时，每一个所述管脚插槽正好被一个所述管脚压台压住； 所述管脚插槽内设有一个裸露的导片，所述导片上连接有一根延伸至所述本体的导线，并且所述导线的末端在所述本体的外表面上形成为一个检测点。2.根据权利要求1所述的电性测试夹具，其特征在于，所述管脚插槽是复数个，并且所述管脚插槽的宽度和相互的间距按照芯片管脚的封装标准布置。3.根据权利要求1或2所述的电性测试夹具，其特征在于，所述本体上设有一个标准排线插口，每个所述检测点均形成该标准排线插口中的一个导线端。4.根据权利要求1所述的电性测试夹具，其特征在于，所述本体和所述上盖之间设有一个提供顶...
【专利技术属性】
技术研发人员：杨苗苗，张立，张弓长，
申请(专利权)人：国网电力科学研究院，国家电网公司，
类型：实用新型
国别省市：
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