薄壁圆形工件几何量尺寸测量具制造技术

本发明专利技术公开了一种薄壁圆形工件几何量尺寸测量具，包括定位底座，定位底座上方放置有至少一个位置调节具，位于最上方的位置调节具上方的放置有至少一个矫正圆盘；所述定位底座由圆柱型底座下段和圆锥型底座上段形成，底座下段下端面形成凸缘，定位底座中间形成通孔；所述位置调节具由圆柱型调节具上段和圆锥型调节具下段形成，调节具上段内部焊接有圆盘，圆盘上形成沿圆周均布的多个圆孔；所述矫正圆盘上形成沿圆周均布的多个通孔。本发明专利技术易于被测工件的装卡，能保证工件在测量中稳固不动，特别是能很好的矫正薄壁工件的变形，可以测量任何指定截面的直径尺寸，使得工件直径的测量结果更加准确。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术属于一种几何量尺寸测量工具，具体涉及一种薄壁圆形工件几何量尺寸测量具。
技术介绍
在使用三坐标测量机测量薄壁圆形工件指定截面直径尺寸时，通常采用的是ν型铁和橡皮泥定位工件底部外圆，或者采用芯轴装入工件内壁，再利用测量仪器进行测量。使用上述方法时存在如下弊端: 由于是薄壁工件，加工后产生较大变形，圆度最大有3mm左右，再采用ν型铁和橡皮泥定位工件底部外圆，该装卡方式容易造成工件在测量中不稳固及产生二次变形，加上工件本身变形，虽然能测量任意截面直径，但是由于形状误差很大，导致测量的直径尺寸误差很大。另外采用芯轴装入工件内壁，由于工件较长，受内径尺寸锥度的影响，存在芯轴不易从工件取出，特别是不能很好的矫正工件被测截面的变形，因此存在测量误差较大的问题。
技术实现思路
本专利技术是为了克服现有技术中存在的缺点而提出的，其目的是提供一种薄壁圆形工件几何量尺寸测量具。本专利技术的技术方案是: 一种薄壁圆形工件几何量尺寸测量具，包括定位底座，定位底座上方放置有至少一个位置调节具，位于最上方的位置调节具上方的放置有至少一个矫正圆盘;所述定位底座由圆柱型底座下段和圆锥型底座上段形成，底座下段下端面形成凸缘，定位底座中间形成通孔；所述位置调节具由圆柱型调节具上段和圆锥型调节具下段形成，调节具上段内部焊接有圆盘，圆盘上形成沿圆周均布的多个圆孔;所述矫正圆盘上形成沿圆周均布的多个通孔。所述底座下段外径与工件内径下偏差匹配。所述底座下段外径比底座上段外径大0.4 mm?0.5mm;凸缘的外径大于底座下段外径30mm。所述调节具上段外径与工件内径下偏差匹配。所述调节具上段外径比调节具下段外径大0.4 mm?0.5mm。所述矫正圆盘外径与工件内径相匹配。所述矫正圆盘两端面外圆周边缘形成倒角。本专利技术的有益效果是:本专利技术通过测量具的不同组合对工件进行轴向和端面的固定，易于被测工件的装卡，能保证工件在测量中稳固不动，特别是能很好的矫正被测量薄壁工件截面的变形，可以测量任何指定截面的直径尺寸，使得工件直径的测量结果更加准确，提高测量效率。【附图说明】图1是本专利技术测量A截面直径时的结构示意图； 图2是本专利技术测量B截面直径时的结构示意图； 图3是本专利技术中定位底座的主视剖面图； 图4是本专利技术中定位底座的俯视图； 图5是本专利技术中位置调节具的主视剖面图； 图6是本专利技术中位置调节具的俯视图； 图7是本专利技术中矫正圆盘的主视剖面图； 图8是本专利技术中矫正圆盘的俯视图。其中: 1定位底座2位置调节具 3矫正圆盘4工件 5测量仪器测头11底座下段 12底座上段13凸缘 14通孔21调节具上段 22调节具下段23圆盘 24圆孔31通孔。【具体实施方式】下面结合说明书附图及实施例对本专利技术一种薄壁圆形工件几何量尺寸测量具进行详细说明: 如图1、2所示，一种薄壁圆形工件几何量尺寸测量具，包括定位底座1，定位底座1上方放置有至少一个位置调节具2，位于最上方的位置调节具2上方的放置有矫正圆盘3; 如图3、4所示，所述定位底座1由圆柱型底座下段11和圆锥型底座上段12形成套筒状结构，底座下段11下端面形成凸缘13，定位底座1中间形成通孔14;定位基座1用于工件4的定位及工件4底部的变形矫正，并支撑位置调节具2和矫正圆盘3，通孔14以减轻定位底座1的重量，又保证圆柱、圆锥面不变形，作为优选定位底座1的最小壁厚在2mm?3mm之间。所述底座下段11外径与工件4内径下偏差匹配。所述底座下段11外径比底座上段12外径大0.4 mm?0.5mm，使底座上段12不影响工件4的取放，另外也能起到一定的矫正工件4变形的作用；凸缘13的外径大于底座下段11外径30mm。如图5、6所示，所述位置调节具2由圆柱型调节具上段21和圆锥型调节具下段22形成的中空套筒状结构，调节具上段21内部焊接有圆盘23，圆盘23上形成沿圆周均布的多个圆孔24，圆孔24孔边倒角;位置调节具2用于矫正工件4的变形，支撑矫正圆盘3，以矫正测量工件4的指定截面的变形。所述调节具上段21外径与工件4内径下偏差匹配。所述调节具上段21外径比调节具下段22外径大0.4 mm?0.5mm，保证调节具下段22不影响位置调节具2从工件4的内部的取放，另外也能起到一定的矫正工件4变形的作用。如图7、8所示，所述矫正圆盘3为扁圆柱形，其上形成沿圆周均布的多个通孔31，通孔31孔边倒角，易于操作者在测量前后放入和取出矫正圆盘3; 所述矫正圆盘3外径与工件4内径相匹配。所述矫正圆盘3两端面外圆周边缘形成倒角，为保证与工件4内径尺寸最佳匹配。在工件4内径公差范围以相差0.05mm~0.1_为一个直径规格制成多个直径尺寸的矫正圆盘3。所述矫正圆盘3的厚度为10_左右。根据不同的测量位置要求，将相应的位置调节具2与矫正圆盘3，与定位基座1进行组合，定位基座1在最下方，中间是位置调节具2，矫正圆盘3在最上方，保证矫正圆盘3上端位置为被测量截面，保证工件4轴心与被测量截面垂直；保证工件4装卡牢固不动;矫正薄壁被测保证工件4指定测量截面的变形，保证工件直径的测量结果更加准确。测量截面之间的距离，小于30mm时，可由2_3个矫正圆盘3来调节和矫正被测截面，测量截面之间的距离大于30mm时，位置调节具2的长度尺寸，根据测量截面之间的距离，减掉一个矫正圆盘的长度。本专利技术的使用方法: 以测量工件4的A截面直径尺寸为例: 按照图1所示，首先将工件4放入定位基座1，使工件4底端面与凸缘13接触;然后，先放入第一个位置调节具2，使位置调节具2底面与定位基座1上端接触，再放入第二个位置调节具2，使其底面与第一个位置调节具上端接触;根据被测截面的尺寸选择适宜尺寸的矫正圆盘3放入工件4内，与第二个位置调节具2上端接触。矫正圆盘3上方5mm的位置即为要求测量截面位置，即正好适合测量仪器测头5进行接触测量;上述装卡好的工件4置于测量仪器的平台上，即可操作仪器开始测量。以测量工件B截面直径尺寸为例: 按照图2所示，首先将工件4放入定位基座1，使工件4底端面与凸缘13接触;然后，先放入第一个位置调节具2，使位置调节具2底面与定位基座1上端接触;根据被测截面的尺寸，选择适宜直径尺寸的矫正圆盘3放入工件4内，与位置调节具2上端接触。矫正圆盘3上方5mm的位置即为要求测量截面位置，即正好适合测量仪器测头5进行接触测量;将上述装卡好的工件4置于测量仪器的平台上，即可操作仪器开始测量。【主权项】1.一种薄壁圆形工件几何量尺寸测量具，其特征在于:包括定位底座(1)，定位底座(I)上方放置有至少一个位置调节具(2)，位于最上方的位置调节具(2)上方的放置有至少一个矫正圆盘(3);所述定位底座(1)由圆柱型底座下段(11)和圆锥型底座上段(12)形成，底座下段(11)下端面形成凸缘(13)，定位底座(1)中间形成通孔(14);所述位置调节具(2)由圆柱型调节具上段(21)和圆锥型调节具下段(22)形成，调节具上段(21)内部焊接有圆盘(23)，圆盘(23)上形成沿圆周均布的多个圆孔(24);所述矫正圆盘(3)上形成沿圆周均布的多个通孔(31)。2.根据权利要求1所述的一种薄壁圆形工件几何量尺寸测量具，其特征在于:所述底座下段(11)外径与工件(本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种薄壁圆形工件几何量尺寸测量具，其特征在于：包括定位底座（1），定位底座（1）上方放置有至少一个位置调节具（2），位于最上方的位置调节具（2）上方的放置有至少一个矫正圆盘（3）；所述定位底座（1）由圆柱型底座下段（11）和圆锥型底座上段（12）形成，底座下段（11）下端面形成凸缘（13），定位底座（1）中间形成通孔（14）； 所述位置调节具（2）由圆柱型调节具上段（21）和圆锥型调节具下段（22）形成，调节具上段（21）内部焊接有圆盘（23），圆盘（23）上形成沿圆周均布的多个圆孔（24）；所述矫正圆盘（3）上形成沿圆周均布的多个通孔（31）。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：刘红，张宝华，王超，张云江，刘海梅，曹昆武，姚江伟，
申请(专利权)人：核工业理化工程研究院，
类型：发明
国别省市：天津;12