墨滴体积的校准方法及其校准系统、打印设备技术方案

本发明专利技术公开了一种墨滴体积的校准方法及其校准系统、打印设备，所述墨滴体积的校准方法根据墨滴的质量和密度计算墨滴的第一体积，根据所述第一体积校准光学测量方法的预设的测量参数，所述光学测量方法通过拟合处理墨滴图像的方式计算墨滴的体积，根据校准之后的测量参数获取墨滴的第二体积。本发明专利技术提供的技术方案通过称重测量方法与光学测量方法相互结合，根据称重测量方法的结果校准光学测量方法的测量参数，从而提高了墨滴体积的测量精度。另外，针对不同的墨滴，本实施例提供不同的光学拟合参数，从而能够达到精准测量墨滴体积的目的。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种墨滴体积的校准方法及其校准系统、打印设备。
技术介绍
喷墨打印技术是通过打印喷头将墨滴打印到像素之中，使用喷墨打印技术制作OLED显示产品具有材料利用率高、制作时间短等优点。因此，采用喷墨打印技术制作OLED显示产品被越来越多的厂家重视，成为各个厂家的开发重点。但是，喷墨打印技术对打印的位置精度和墨滴的体积精度要求比较高，如果打印的位置精度不够，墨滴无法进入像素之中，如果墨滴的体积精度不够，就会出现显示不均匀的情况。因此，能够精确的测量墨滴体积对于能否制作出优秀的产品至关重要。现有的喷墨打印设备采用光学测量方法对墨滴体积进行测量，这种光学测量方法可以精确到单个墨滴，而且测试时间短。但是，由于这种测量方法是光学拍照形成图像，再通过对图像拟合处理，最后计算墨滴体积。因此，误差也比较大。图1为现有技术中光学测量方法的墨滴示意图，图2为图1所示墨滴示意图的A部分结构放大图。参见图1和图2，A部分为墨滴104的边缘轮廓，B部分为墨滴104的中心位置，上述光学测量方法产生的误差有两种，一种是光学镜头的分辨能力造成的误差，一种是对中心位置偷光部分的估算造成的误差。同时，上述光学测量方法存在不易找到优选的测量参数的问题，也会造成误差。另外，不同品种的墨滴对光的折射也不一样，同样也会产生误差。
技术实现思路
为解决上述问题，本专利技术提供一种墨滴体积的校准方法及其校准系统、打印设备，用于解决现有技术采用光学测量方法测量墨滴体积形成误差，从而导致测量精确低的问题。为此，本专利技术提供一种墨滴体积的校准方法，包括：根据墨滴的质量和密度计算墨滴的第一体积；根据所述第一体积校准光学测量方法的预设的测量参数，所述光学测量方法通过拟合处理墨滴图像的方式计算墨滴的体积；根据校准之后的测量参数获取墨滴的第二体积。可选的，所述根据墨滴的质量和密度计算墨滴的第一体积的步骤之前包括：获取多个墨滴的总质量；获取多个墨滴的总数量；获取墨滴的密度。可选的，所述根据墨滴的质量和密度计算墨滴的第一体积的步骤包括：根据多个墨滴的总质量和密度计算多个墨滴的总体积；根据多个墨滴的总体积和总数量计算墨滴的第一体积。可选的，所述获取多个墨滴的总质量的步骤包括：容纳滴出的多个墨滴；测量多个墨滴的总质量。可选的，所述获取多个墨滴的总数量的步骤包括：记录墨滴开始滴出的开始时间；记录墨滴结束滴出的结束时间；根据时间差与预设的滴出频率计算多个墨滴的总数量，所述时间差为所述开始时间与所述结束时间之间的差值，所述滴出频率为单位时间之内滴出墨滴的数量。可选的，所述测量参数包括墨滴边缘处理数据和墨滴中心处理数据。可选的，所述根据校准之后的测量参数获取墨滴的第二体积的步骤包括：根据校准之后的墨滴边缘处理数据和墨滴中心处理数据获取墨滴的半径值；根据所述半径值计算墨滴的第二体积。可选的，所述根据校准之后的墨滴边缘处理数据和墨滴中心处理数据获取墨滴的半径值的步骤包括：根据校准之后的墨滴边缘处理数据获取墨滴的边缘轮廓；根据校准之后的墨滴中心处理数据获取墨滴的中心点；根据所述边缘轮廓和所述中心点获取墨滴的半径值。可选的，所述墨滴体积的校准方法用于喷墨打印。本专利技术还提供一种墨滴体积的校准系统，包括：第一计算单元，用于根据墨滴的质量和密度计算墨滴的第一体积；第一校准单元，用于根据所述第一体积校准光学测量方法的预设的测量参数，所述光学测量方法通过拟合处理墨滴图像的方式计算墨滴的体积；第一获取单元，用于根据校准之后的测量参数获取墨滴的第二体积。可选的，还包括：第二获取单元，用于获取多个墨滴的总质量；第三获取单元，用于获取多个墨滴的总数量；第四获取单元，用于获取墨滴的密度。可选的，所述第一计算单元包括：第一计算模块，用于根据多个墨滴的总质量和密度计算多个墨滴的总体积；第二计算模块，用于根据多个墨滴的总体积和总数量计算墨滴的第一体积。可选的，所述第二获取单元包括：第一容纳模块，用于容纳滴出的多个墨滴；第一测量模块，用于测量多个墨滴的总质量。可选的，所述第三获取单元包括：第一记录模块，用于记录墨滴开始滴出的开始时间；第二记录模块，用于记录墨滴结束滴出的结束时间；第三计算模块，用于根据时间差与预设的滴出频率计算多个墨滴的总数量，所述时间差为所述开始时间与所述结束时间之间的差值，所述滴出频率为单位时间之内滴出墨滴的数量。可选的，所述测量参数包括墨滴边缘处理数据和墨滴中心处理数据。可选的，所述第一获取单元包括：第一获取模块，用于根据校准之后的墨滴边缘处理数据和墨滴中心处理数据获取墨滴的半径值；第四计算模块，用于根据所述半径值计算墨滴的第二体积。可选的，所述第一获取模块包括：第一获取子模块，用于根据校准之后的墨滴边缘处理数据获取墨滴的边缘轮廓；第二获取子模块，用于根据校准之后的墨滴中心处理数据获取墨滴的中心点；第三获取子模块，用于根据所述边缘轮廓和所述中心点获取墨滴的半径值。本专利技术还提供一种打印设备，包括上述任一所述的墨滴体积的校准系统。本专利技术具有下述有益效果：本专利技术提供的墨滴体积的校准方法及其校准系统、打印设备之中，所述墨滴体积的校准方法根据墨滴的质量和密度计算墨滴的第一体积，根据所述第一体积校准光学测量方法的预设的测量参数，所述光学测量方法通过拟合处理墨滴图像的方式计算墨滴的体积，根据校准之后的测量参数获取墨滴的第二体积。本专利技术提供的技术方案通过称重测量方法与光学测量方法相互结合，根据称重测量方法的结果校准光学测量方法的测量参数，从而提高了墨滴体积的测量精度。另外，针对不同的墨滴，本专利技术提供不同的光学拟合参数，从而能够达到精准测量墨滴体积的目的。附图说明图1为现有技术中光学测量方法的墨滴示意图；图2为图1所示墨滴示意图的A部分结构放大图；图3为本专利技术实施例一提供的一种墨滴体积的校准方法的流程图；图4为本专利技术实施例二提供的一种墨滴体积的校准系统的结构示意图；图5为实施例二提供的储存器和称重器的立体图；图6为图5所示储存器的俯视图；图7为图5所示储存器和称重器的正视图。具体实施方式为使本领域本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种墨滴体积的校准方法，其特征在于，包括：根据墨滴的质量和密度计算墨滴的第一体积；根据所述第一体积校准光学测量方法的预设的测量参数，所述光学测量方法通过拟合处理墨滴图像的方式计算墨滴的体积；根据校准之后的测量参数获取墨滴的第二体积。

【技术特征摘要】
1.一种墨滴体积的校准方法，其特征在于，包括：
根据墨滴的质量和密度计算墨滴的第一体积；
根据所述第一体积校准光学测量方法的预设的测量参数，所述
光学测量方法通过拟合处理墨滴图像的方式计算墨滴的体积；
根据校准之后的测量参数获取墨滴的第二体积。
2.根据权利要求1所述的墨滴体积的校准方法，其特征在于，
所述根据墨滴的质量和密度计算墨滴的第一体积的步骤之前包括：
获取多个墨滴的总质量；
获取多个墨滴的总数量；
获取墨滴的密度。
3.根据权利要求2所述的墨滴体积的校准方法，其特征在于，
所述根据墨滴的质量和密度计算墨滴的第一体积的步骤包括：
根据多个墨滴的总质量和密度计算多个墨滴的总体积；
根据多个墨滴的总体积和总数量计算墨滴的第一体积。
4.根据权利要求2所述的墨滴体积的校准方法，其特征在于，
所述获取多个墨滴的总质量的步骤包括：
容纳滴出的多个墨滴；
测量多个墨滴的总质量。
5.根据权利要求2所述的墨滴体积的校准方法，其特征在于，
所述获取多个墨滴的总数量的步骤包括：
记录墨滴开始滴出的开始时间；
记录墨滴结束滴出的结束时间；
根据时间差与预设的滴出频率计算多个墨滴的总数量，所述时
间差为所述开始时间与所述结束时间之间的差值，所述滴出频率为

\t单位时间之内滴出墨滴的数量。
6.根据权利要求1所述的墨滴体积的校准方法，其特征在于，
所述测量参数包括墨滴边缘处理数据和墨滴中心处理数据。
7.根据权利要求6所述的墨滴体积的校准方法，其特征在于，
所述根据校准之后的测量参数获取墨滴的第二体积的步骤包括：
根据校准之后的墨滴边缘处理数据和墨滴中心处理数据获取墨
滴的半径值；
根据所述半径值计算墨滴的第二体积。
8.根据权利要求7所述的墨滴体积的校准方法，其特征在于，
所述根据校准之后的墨滴边缘处理数据和墨滴中心处理数据获取墨
滴的半径值的步骤包括：
根据校准之后的墨滴边缘处理数据获取墨滴的边缘轮廓；
根据校准之后的墨滴中心处理数据获取墨滴的中心点；
根据所述边缘轮廓和所述中心点获取墨滴的半径值。
9.根据权利要求1所述的墨滴体积的校准方法，其特征在于，
所述墨滴体积的校准方法用于喷墨打印。
10.一种墨滴体积的校准系统，其特征在于，包括：
第一计算单元，用于根据墨滴的质量和密度计算墨滴...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵德江，王浩，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11