一种电缆绝缘层厚度的检测方法技术

技术编号:13069311 阅读:74 留言:0更新日期:2016-03-24 04:40
本发明专利技术公开了一种电缆绝缘层厚度的检测方法,首先将电缆的绝缘层切割开,然后将绝缘层的两端分别进行固定,最后将两台红外线测距仪分别相对绝缘层的两端面放置,两台红外线测距仪的距离为定值L,然后启动两台红外线测距仪,一台红外线测距仪测量的距离值为S1,另一台红外线测距仪测量的距离值为S2,绝缘层的厚度D=L- S1-S2。发明专利技术采用红外线测距仪进行测量,测量数值准确,精度高;本发明专利技术可对绝缘层的多个位置进行厚度测量,测量值进行对比,当测量值在设定值的范围内,即产品合格,如果某一测定值超过设定范围值,即电缆厚度不合格。

【技术实现步骤摘要】
【专利说明】
本专利技术涉及电缆加工领域,具体是。
技术介绍
电缆主要是由内导体、设置于内导体外的绝缘层和包裹于绝缘层外的绝缘层组成,绝缘层的厚度决定了电缆的电气指标。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供,采用红外线测距原理进行多点测量,测量值准确,精度高。本专利技术的技术方案为: ,首先将电缆的绝缘层切割开,然后将绝缘层的两端分别进行固定,最后将两台红外线测距仪分别相对绝缘层的两端面放置,两台红外线测距仪的距离为定值L,然后启动两台红外线测距仪,一台红外线测距仪测量的距离值为S1,另一台红外线测距仪测量的距离值为S2,绝缘层的厚度D=L- S1- S2。所述的电缆绝缘层的两端分别夹至于两板夹之间,即绝缘层两端部的两端面分别与对应的板夹贴合夹紧。所述的两台红外线测距仪的高度一致,且两台红外线测距仪的连线与绝缘层为垂直关系。本专利技术的优点: 本专利技术采用红外线测距仪进行测量,测量数值准确,精度高;本专利技术可对绝缘层的多个位置进行厚度测量,测量值进行对比,当测量值在设定值的范围内,即产品合格,如果某一测定值超过设定范围值,即电缆绝缘层厚度不合格。【具体实施方式】,首先将电缆的绝缘层切割开,然后将绝缘层的两端分别进行固定,最后将两台红外线测距仪分别相对绝缘层的两端面放置,两台红外线测距仪的高度一致,且两台红外线测距仪的连线与绝缘层为垂直关系,两台红外线测距仪的距离为定值L,然后启动两台红外线测距仪,一台红外线测距仪测量的距离值为S1,另一台红外线测距仪测量的距离值为S2,绝缘层的厚度D=L- S1- S2。其中,电缆绝缘层的两端分别夹至于两板夹之间,即绝缘层两端部的两端面分别与对应的板夹贴合夹紧。【主权项】1.,其特征在于:首先将电缆的绝缘层切割开,然后将绝缘层的两端分别进行固定,最后将两台红外线测距仪分别相对绝缘层的两端面放置,两台红外线测距仪的距离为定值L,然后启动两台红外线测距仪,一台红外线测距仪测量的距离值为S1,另一台红外线测距仪测量的距离值为S2,绝缘层的厚度D=L- S1- S2。2.根据权利要求1所述的,其特征在于:所述的电缆绝缘层的两端分别夹至于两板夹之间,即绝缘层两端部的两端面分别与对应的板夹贴合夹紧。3.根据权利要求1所述的,其特征在于:所述的两台红外线测距仪的高度一致,且两台红外线测距仪的连线与绝缘层为垂直关系。【专利摘要】本专利技术公开了,首先将电缆的绝缘层切割开,然后将绝缘层的两端分别进行固定,最后将两台红外线测距仪分别相对绝缘层的两端面放置,两台红外线测距仪的距离为定值L,然后启动两台红外线测距仪,一台红外线测距仪测量的距离值为S1,另一台红外线测距仪测量的距离值为S2,绝缘层的厚度D=L-?S1-S2。专利技术采用红外线测距仪进行测量,测量数值准确,精度高;本专利技术可对绝缘层的多个位置进行厚度测量,测量值进行对比,当测量值在设定值的范围内,即产品合格,如果某一测定值超过设定范围值,即电缆厚度不合格。【IPC分类】G01B11/06【公开号】CN105423929【申请号】CN201511007227【专利技术人】黄伟, 朱勇, 叶军猛, 汪剑锋 【申请人】合肥星辰电线电缆股份有限公司【公开日】2016年3月23日【申请日】2015年12月30日本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电缆绝缘层厚度的检测方法,其特征在于:首先将电缆的绝缘层切割开,然后将绝缘层的两端分别进行固定,最后将两台红外线测距仪分别相对绝缘层的两端面放置,两台红外线测距仪的距离为定值L,然后启动两台红外线测距仪,一台红外线测距仪测量的距离值为S1,另一台红外线测距仪测量的距离值为S2,绝缘层的厚度D=L‑ S1‑ S2。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:黄伟朱勇叶军猛汪剑锋
申请(专利权)人:合肥星辰电线电缆股份有限公司
类型:发明
国别省市:安徽;34

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