除电装置及除电方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种除电装置及除电方法，其目的在于通过缩小安装空间来消除带电的同轴线缆的静电。本发明专利技术的除电装置利用固定机构(6)，隔着支承部件(3)以夹持适配器(13)的盖形螺母(13a)的方式将第1基础部件(2A)和第2基础部件(2B)安装于适配器(13)，以进行固定，其中，支承部件(3)与设置在测定单元(11)的接口的同轴连接器(12)连接的适配器(13)的高度相匹配。具有柔韧性的棒状的除电接点(4)与适配器(13)平行地竖立设置于第2基础部件(2B)。将同轴线缆(15)的同轴连接器(15a)连接到适配器(13)之前，使除电接点(4)与同轴连接器(15a)的中心导体和外导体接触，以消除同轴线缆(15)所带的静电。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种，其在利用测量仪等电子设备来对被测定物(DUT:Device Under Test)进行各种测定时，防止由连接测量仪与被测定物之间的同轴线缆所带的静电引起的测量仪的破损。
技术介绍
众所周知，有如下作为电子设备的测量仪，S卩例如具有根据SDH (SynchronousDigital Hierarchy)，PDH(ples1chronous digital hierarchy)，OTN(Optical TransportNetwork)，Ethernet (注册商标)等有线系统的各种通信规格以特定的信号方式进行被测定物的各种测定的功能的测量仪。这种测量仪作为1台装置而具备多个测定硬件和多个测定应用程序，每个测定应用程序按照一定的顺序控制规定的测定硬件，由此进行被测定物的测定，并将其测定结果提供给用户。作为1台装置而具备这种多个测定硬件和多个测定应用程序的测量仪，例如已知有下述专利文献1公开的装置。专利文献1所公开的测量仪构成为，以在存储有各种测定内容的多个测定应用程序的通用单元与蓄电单元之间夹持作为测定硬件的测定单元的方式分别接线连接，根据测定内容，自由增设或拆卸，重组测定单元。并且，作为与上述专利文献1所公开的测量仪类似的测量仪，已知有如下结构的测量仪，即能够根据被测定物的测定内容，在正面装设操作板的筐体的一侧面适当组合多种测定单元，以可装卸更换的方式安装。并且，根据上述结构的测量仪，1个测定应用程序不仅控制1个测定硬件，1个测定应用程序可以联动地控制多个测定硬件，或者能够在1台测定装置上同时并行启动以执行多个测定应用程序，能够以各种方式测定所希望的被测定物。而利用上述测量仪测定被测定物时，测量仪与被测定物之间经由同轴线缆连接，而尤其处理静电较弱的高频的信号的测量仪中，可能会因同轴线缆所带的静电而导致测量仪破损。因此，在将同轴线缆连接于测量仪的接口之前，需要消除同轴线缆所带的静电。因此，作为防止同轴线缆所带的静电导致测量仪破损的以往的除电装置，已知有例如下述专利文献2所公开的装置。专利文献2所公开的除电装置以使同轴线缆的中心导体与具备同轴连接器的设备接地的目的构成为包括:设备上结合第1端部的导电性支柱；及导电性铰链，该导电性铰链以旋转方式安装于导电性支柱的第2端部且具备与中心导体接触的隆起的目标区域。该专利文献2所公开的除电装置中，导电性铰链位于第1停止位置时，防止同轴线缆到达同轴连接器，而位于第2停止位置时，位于同轴连接器的周围，且能够使同轴线缆到达同轴连接器。即专利文献2所公开的除电装置中，导电性铰链具备与同轴连接器的中心导体接触的隆起的目标区域，通过使该导电性铰链旋转的转动动作，以消除同轴线缆所带的静电。专利文献1:日本专利公开2010 - 025863号公报专利文献2:日本专利公开2001 - 023792号公报而作为使用于上述测量仪的同轴连接器，根据所传输的信号的频率多种多样。具体而言，有SMA连接器、K连接器、V连接器、W连接器等同轴连接器。这种同轴连接器，所传输的信号的频率越高，中心导体的外径越小(依次为SMA连接器一K连接器一V连接器一W连接器)，且价格也越高。尤其，使用高价且中心导体的外径小的V连接器或W连接器，以同轴线缆连接测量仪和被测定物时，在安装工作中，只要对同轴连接器的中心导体施加额外的力量就会导致中心导体破损，进行安装时需要格外注意。并且，区分使用这种多种同轴连接器，将上述专利文献2所公开的以往除电装置用于专利文献1等公开的测量仪时，在成为除电对象的测定单元上安装除电装置。而当组合多个测定单元进行测定时，多个测定单元以上下重叠或左右重叠的状态构成。因此，各测定单元的接口位置相靠近，当已在测定单元的接口连接有同轴线缆时，物理上难以确保用于安装除电装置的足够的空间。而专利文献2所公开的除电装置与设备的底盘呈一体结构，因此无法简单地安装到已有的测定单元上。并且，对应高频信号的测定，而将高速接口设置于测定单元的测量仪中，例如包含混合1C等半导体元件的电路基板以容纳于金属箱体的状态配置于接口的正后方，而配线连接，测量仪的接口与被测定物之间通过同轴线缆连接。这种测量仪中，若测量仪与被测定物之间存在GND电位差，则可能因该GND电位差而产生过电流，所产生的过电流流入到配置于同轴连接器的正后方的混合1C等半导体元件中而致使破损。然而，在将上述专利文献2所公开的除电装置用于专利文献1等测量仪的结构中，虽然能够消除同轴线缆所带的静电，但除电之后同轴线缆的中心导体比盖形螺母先行接触，而与测量仪的接口连接，因此在测量仪与被测定物之间产生GND电位差，因该GND电位差产生的过电流可能致使混合1C破损。
技术实现思路
因此，本专利技术鉴于上述问题而完成，其目的在于提供一种能够通过缩小对于测量仪的安装空间来进行除电的，并提供能够防止因测量仪与被测定物之间的GND电位差产生的过电流而致使电路组件的破损的。为达到上述目的，本专利技术的技术方案1所述的除电装置1，其消除将测量仪的接口与被测定物之间连接的同轴线缆15所带的静电，其中，具备:基础部件2，其安装于所述测量仪的所述接口附近，与所述同轴线缆的同轴连接器15a的中心导体和外导体接触，而竖立设置有具有用于消除所述静电的柔韧性的棒状的除电接点4。技术方案2所述的除电装置为技术方案1的除电装置，其安装于2个所述接口的附近，其中，所述基础部件由隔着规定间隔被大致平行地保持的第1基础部件2A和第2基础部件2B构成，所述第1基础部件上形成有和与所述2个接口的所述同轴连接器连接的2个适配器13A、13B的外形相对应的2个插通孔8，所述第2基础部件上形成有与所述2个适配器的外形相对应的2个插通孔9，所述除电接点相对于所述第2基础部件的表面位于插通于所述2个适配器的2个所述插通孔之间，并且与其接近而以竖立设置方式固定。技术方案3所述的除电装置为技术方案1的除电装置，其安装于2个所述接口的附近，其中，所述基础部件由第3基础部件2C和第4基础部件2D构成，所述第3基础部件形成两端部分具有沿着2个所述适配器的下侧的外形的曲率的圆弧状的曲面部，且连接所述曲面部之间的平坦面的中央部的近前侧边缘部分折弯成直角而形成折弯平坦部，所述第4基础部件形成两端部分具有沿着2个所述适配器13的上侧的外形的曲率的圆弧状的曲面部，且连接所述曲面部之间的中央部分形成平坦部，所述除电接点相对于所述第3基础部件的所述折弯平坦部位于通过所述第3基础部件和所述第4基础部件夹持的所述适配器之间，并且与其接近而以竖立设置方式固定。技术方案4所述的除电装置为技术方案1至3中任一项的除电装置，其中，在所述适配器连接所述同轴线缆的所述同轴连接器时，比该同轴连接器的中心导体先行与所述同轴连接器的外导体即盖形螺母接触，以使将所述测量仪的接地与所述被测定物的接地设为相同电位的接地弹簧5夹装于所述适配器的方式设置于所述基础部件。技术方案5所述的除电装置为技术方案1至3中任一项的除电装置，其中，在距所述测量仪的多个所述接口的距离为等距离的位置配置所述除电接点。技术方案6所述的除电装置为技术方案4的的除电装置，其中，在距所述测量仪的多个所述接口的距离为等距离的位置配置所述除电接点。技术方案7所述的除电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种除电装置(1)，其消除将测量仪的接口与被测定物之间连接的同轴线缆(15)所带的静电，其特征在于，具备：基础部件(2)，其安装于所述测量仪的所述接口附近，与所述同轴线缆的同轴连接器(15a)的中心导体和外导体接触，而竖立设置有具有用于消除所述静电的柔韧性的棒状的除电接点(4)。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：早川聪，
申请(专利权)人：安立股份有限公司，
类型：发明
国别省市：日本;JP