本实用新型专利技术提出了一种触摸屏传感器测试治具，包括治具框架、上模模组、下模模组和吸真空装置，治具框架上设有放置平台、放置平台一侧的治具框架上设有下模模组，下模模组上端设有上模模组，上模模组和下模模组相配合，放置平台下端固定安装有吸真空装置，下模模组一侧的治具框架上设有测试板。本实用新型专利技术所提出的触摸屏传感器测试治具，通过吸真空装置，在测试过程中将待测触摸屏吸附于测试位置，防止产品在测试过程人为触碰导致位偏，同时，通过上模模组和下模模组的配合，准确定位、降低误测率，提高了测试速度，减少公司人力成本和原材料成本，而且，保证了产品测试的精度，避免了品质上的隐患。
【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种测试治具，具体涉及一种触摸屏传感器测试治具。
技术介绍
随着人们生活水平的不断提高，电子产品在人们的生活、工作中越来越常见。而在消费性电子产品中，所需用到触摸屏（Touch Panel)电子产品极为广泛，市场需求量日益见长，品质要求随着消费市场高端化越来越高。其传感器（sensor)为产品所必须的，在组装前需要进行NG品与Pass品筛选。市场现有方式为传统探针测试，而触摸屏（Touch Panel)排线测试点极小，需用微针测试。现市场传统探针测试做法满足不了其精度导致其测试不稳定和误测，且容易伤害传感器（sensor)产品至报废，增加公司成本，而且存在品质的隐串■/Ql、Ο因此，针对上述问题，本技术提出了一种新的技术方案。
技术实现思路
本技术的目的是提供一种测试精度高、准确定位、提高测试速度的触摸屏传感器测试治具。本技术是通过以下技术方案来实现的：—种触摸屏传感器测试治具，包括治具框架、上模模组、下模模组和吸真空装置，所述治具框架上设有放置平台、所述放置平台一侧的治具框架上设有下模模组，所述下模模组上端设有上模模组，所述上模模组和下模模组相配合，所述放置平台下端固定安装有吸真空装置，所述下模模组一侧的治具框架上设有测试板。进一步地，所述放置平台、测试板和吸真空装置相配合。进一步地，所述上模模组为压头模组。进一步地，所述下模模组上设有测试探针。本技术的有益效果是：本技术所提出的触摸屏传感器测试治具，通过吸真空装置，在测试过程中将待测触摸屏吸附于测试位置，防止产品在测试过程人为触碰导致位偏，同时，通过上模模组和下模模组的配合，准确定位、降低误测率，提高了测试速度，减少公司人力成本和原材料成本，而且，保证了产品测试的精度，避免了品质上的隐患。【附图说明】图1为本技术的主视图；图2为本技术的俯视图。其中：1、治具框架，2、上模模组，3、下模模组，4、放置平台，5、吸真空装置，6、测试板。【具体实施方式】下面结合【附图说明】对本技术做进一步地说明。如图1~2所示，一种触摸屏传感器测试治具，包括治具框架1、上模模组2、下模模组3和吸真空装置6，治具框架1上设有放置平台4、放置平台4 一侧的治具框架1上设有下模模组3，下模模组3上端设有上模模组2，上模模组2和下模模组3相配合，放置平台4下端固定安装有吸真空装置5，下模模组3 —侧的治具框架上设有测试板6。放置平台4、测试板6和吸真空装置5相配合，上模模组2为压头模组，下模模组3上设有测试探针。工作原理:第一步:治具接通电源和气；第二步:待测触摸屏放置在触摸屏放置平台；第三步:按下吸真空按钮，真空启动。触摸屏及排线传感器(sensor)被吸附放料及测试平台上，手动将上模向下运动，与下模对位进行测试；第四步:PC电脑根据测试程式开始测试传感器(sensor)值，PC电脑显示测试结果;第六步:测试完毕手动将上模打开，关闭吸真空装置，取出产品。本技术上模模组具有微针及对测试区域进行仿形，下模模组对所测传感器排线进行仿形处理及吸真空吸附传感器(sensor)排线，将传感器排线固定。为提高精度，上下模中采用销钉定位、产品仿形、吸真空，为防止产品在测试过程人为触碰导致位偏，触摸屏放置平台也采用了真空吸附，将触摸屏吸附于测试位置。本技术所提出的触摸屏传感器测试治具，通过吸真空装置，在测试过程中将待测触摸屏吸附于测试位置，防止产品在测试过程人为触碰导致位偏，同时，通过上模模组和下模模组的配合，准确定位、降低误测率，提高了测试速度，减少公司人力成本和原材料成本，而且，保证了产品测试的精度，避免了品质上的隐患。【主权项】1.一种触摸屏传感器测试治具，包括治具框架、上模模组、下模模组和吸真空装置，其特征在于:所述治具框架上设有放置平台、所述放置平台一侧的治具框架上设有下模模组，所述下模模组上端设有上模模组，所述上模模组和下模模组相配合，所述放置平台下端固定安装有吸真空装置，所述下模模组一侧的治具框架上设有测试板。2.根据权利要求1所述一种触摸屏传感器测试治具，其特征在于:所述放置平台、测试板和吸真空装置相配合。3.根据权利要求1所述一种触摸屏传感器测试治具，其特征在于:所述上模模组为压头模组。4.根据权利要求1所述一种触摸屏传感器测试治具，其特征在于:所述下模模组上设有测试探针。【专利摘要】本技术提出了一种触摸屏传感器测试治具，包括治具框架、上模模组、下模模组和吸真空装置，治具框架上设有放置平台、放置平台一侧的治具框架上设有下模模组，下模模组上端设有上模模组，上模模组和下模模组相配合，放置平台下端固定安装有吸真空装置，下模模组一侧的治具框架上设有测试板。本技术所提出的触摸屏传感器测试治具，通过吸真空装置，在测试过程中将待测触摸屏吸附于测试位置，防止产品在测试过程人为触碰导致位偏，同时，通过上模模组和下模模组的配合，准确定位、降低误测率，提高了测试速度，减少公司人力成本和原材料成本，而且，保证了产品测试的精度，避免了品质上的隐患。【IPC分类】G01R1/04【公开号】CN205080163【申请号】CN201520717565【专利技术人】李国瑞 【申请人】昆山瑞鸿诚自动化设备科技有限公司【公开日】2016年3月9日【申请日】2015年9月16日本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种触摸屏传感器测试治具，包括治具框架、上模模组、下模模组和吸真空装置，其特征在于：所述治具框架上设有放置平台、所述放置平台一侧的治具框架上设有下模模组，所述下模模组上端设有上模模组，所述上模模组和下模模组相配合，所述放置平台下端固定安装有吸真空装置，所述下模模组一侧的治具框架上设有测试板。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李国瑞，
申请(专利权)人：昆山瑞鸿诚自动化设备科技有限公司，
类型：新型
国别省市：江苏;32
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