射频遥控器自动测试系统技术方案

本发明专利技术涉及遥控器技术。本发明专利技术是要解决目前没有射频遥控器自动测试系统的问题，提供了一种射频遥控器自动测试系统，其技术方案可概括为：射频遥控器自动测试系统，包括上位机测试处理模块、测试硬件模块、测试工装冶具模块、条码扫描模块、射频功率测量模块及屏蔽装置，所述测试硬件模块、条码扫描模块、射频功率测量模块分别与上位机测试处理模块连接，测试工装冶具模块分别与测试硬件模块及射频功率测量模块连接。本发明专利技术的有益效果是，方便射频遥控器测试，适用于射频遥控器测试系统。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及遥控器技术，特别涉及射频遥控器的自动测试技术。
技术介绍
随着射频遥控器的广泛应用，传统遥控器厂家生产的射频遥控器也越来越多，相比于传统红外遥控器，射频遥控器的测试项目和参数要复杂很多，特别是射频性能相关的测试。射频遥控器所对应的射频参数包括发射频率、频偏及接收灵敏度，额外加上射频遥控器按键键值、射频对码、高低电压及工作电流的检测就愈加复杂。射频遥控器生产过程中的测试问题就凸显出来。目前对其的测试基本按照分项目分工位单独检测，每个工位负责对应的参数检测，且主要通过人工来判定其合格性，亦或通过简单的声音提示或者显示模块提示操作者。例如射频参数的检测，基本还是采用将被测试模块与频谱仪连接，采用人工来读取发射功率和频偏数值来判定其合格性。如此检测由于人为疲劳或干扰必然导致判定准确性降低以及效率低下，由于各个项目分工位单独测试，整个被测试PCBA(Printed CircuitBoard+Assembly)的测试数据存在可追溯性差等众多弊病。
技术实现思路
本专利技术的目的是要解决目前没有射频遥控器自动测试系统的问题，提供了一种射频遥控器自动测试系统。本专利技术解决其技术问题，采用的技术方案是，射频遥控器自动测试系统，其特征在于，包括上位机测试处理模块、测试硬件模块、测试工装冶具模块、条码扫描模块、射频功率测量模块及屏蔽装置，所述测试硬件模块、条码扫描模块、射频功率测量模块分别与上位机测试处理模块连接，测试工装冶具模块分别与测试硬件模块及射频功率测量模块连接，所述上位机测试处理模块用于接收条码扫描模块传输来的条码数据，根据条码数据确定被测射频遥控器PCBA组件，通过拟定的测试项目编写测试软件，根据测试软件顺序执行测试项目，并发送对应的测试指令给测试硬件模块，接收测试硬件模块反馈的测试数据及射频功率测量模块发送的测试数据，对测试数据进行处理及存储；所述测试硬件模块用于根据上位机测试处理模块发送来的测试指令对通过测试工装冶具模块连接的被测射频遥控器PCBA组件进行相应测试，并向上位机测试处理模块反馈测试数据；所述测试工装冶具模块用于将被测射频遥控器PCBA组件测试点引出至测试硬件丰吴块；所述条码扫描模块用于扫描被测射频遥控器PCBA组件上的条码数据，并将其传输给上位机测试处理模块；所述射频功率测量模块用于对被测射频遥控器PCBA组件的射频发射功率进行读取，并将读取的测试数据发送给上位机测试处理模块；所述屏蔽装置用于屏蔽外界射频信号对整个测试的干扰。具体的，所述对测试数据进行处理包括对测试数据进行统计列表并根据预设值对每项测试进行判定，最后判定该被测射频遥控器PCBA组件是否合格。进一步的，所述测试硬件模块包括主控单元、接口扩展单元、电源管理单元及存储单元，所述接口扩展单元、电源管理单元及存储单元分别与主控单元连接，所述主控单元采用与被测射频遥控器相应的主控部分，能够直接通过测试工装冶具模块与被测射频遥控器PCBA组件连接，或通过接口扩展单元及测试工装冶具模块与被测射频遥控器PCBA组件连接；所述电源管理单元用于提供各种所需电压；所述存储单元用于存储各种测试数据及测试指令。再进一步的，所述测试工装冶具模块为具有针床的测试工装冶具模块，所述测试工装冶具模块通过针床与被测射频遥控器PCBA组件测试点连接，并能够固定被测射频遥控器PCBA组件。具体的，所述屏蔽装置为屏蔽箱。再进一步的，所述屏蔽箱分为两层，测试硬件模块置于其中一层，被测试射频遥控器PCBA组件及测试工装冶具模块置于另一层。本专利技术的有益效果是，在本专利技术方案中，通过上述射频遥控器自动测试系统，可以在放置被测射频遥控器PCBA组件后，自动对其进行测试，方便用户，提升了测试的准确性和效率性，且测试结果可追溯。【附图说明】图1为本专利技术射频遥控器自动测试系统的系统框图。图2为本专利技术实施例中测试硬件模块的系统框图。【具体实施方式】下面结合附图及实施例，详细描述本专利技术的技术方案。本专利技术的射频遥控器自动测试系统，包括上位机测试处理模块、测试硬件模块、测试工装冶具模块、条码扫描模块、射频功率测量模块及屏蔽装置，测试硬件模块、条码扫描模块、射频功率测量模块分别与上位机测试处理模块连接，测试工装冶具模块分别与测试硬件模块及射频功率测量模块连接，其中，上位机测试处理模块用于接收条码扫描模块传输来的条码数据，根据条码数据确定被测射频遥控器PCBA组件，通过拟定的测试项目编写测试软件，根据测试软件顺序执行测试项目，并发送对应的测试指令给测试硬件模块，接收测试硬件模块反馈的测试数据及射频功率测量模块发送的测试数据，对测试数据进行处理及存储；测试硬件模块用于根据上位机测试处理模块发送来的测试指令对通过测试工装冶具模块连接的被测射频遥控器PCBA组件进行相应测试，并向上位机测试处理模块反馈测试数据；测试工装冶具模块用于将被测射频遥控器PCBA组件测试点引出至测试硬件模块；条码扫描模块用于扫描被测射频遥控器PCBA组件上的条码数据，并将其传输给上位机测试处理模块；射频功率测量模块用于对被测射频遥控器PCBA组件的射频发射功率进行读取，并将读取的测试数据发送给上位机测试处理模块；屏蔽装置用于屏蔽外界射频信号对整个测试的干扰。实施例本专利技术实施例的射频遥控器自动测试系统，其系统框图参见图1，包括上位机测试处理模块、测试硬件模块、测试工装冶具模块、条码扫描模块、射频功率测量模块及屏蔽装置，测试硬件模块、条码扫描模块、射频功率测量模块分别与上位机测试处理模块连接，测试工装冶具模块分别与测试硬件模块及射频功率测量模块连接，其中，上位机测试处理模块用于接收条码扫描模块传输来的条码数据，根据条码数据确定被测射频遥控器PCBA组件，通过拟定的测试项目编写测试软件，根据测试软件顺序执行测试项目，并发送对应的测试指令给测试硬件模块，接收测试硬件模块反馈的测试数据及射频功率测量模块发送的测试数据，对测试数据进行处理及存储；测试硬件模块用于根据上位机测试处理模块发送来的测试指令对通过测试工装冶具模块连接的被测射频遥控器PCBA组件进行相应测试，并向上位机测试处理模块反馈测试数据；测试工装冶具模块用于将被测射频遥控器PCBA组件测试点引出至测试硬件模块；条码扫描模块用于扫描被测射频遥控器PCBA组件上的条码数据，并将其传输给上位机测试处理模块；射频功率测量模块用于对被测射频遥控器PCBA组件的射频发射功率进行读取，并将读取的测试数据发送给上位机测试处理模块；屏蔽装置用于屏蔽外界射频信号对整个测试的干扰。且，本例中对测试数据进行处理包括对测试数据进行统计列表并根据预设值对每项测试进行判定，最后判定该被测射频遥控器PCBA组件是否合格。本例中测试硬件模块的系统框图参见图2，其包括主控单元、接口扩展单元、电源管理单元及存储单元，所述接口扩展单元、电源管理单元及存储单元分别与主控单元连接，其中，主控单元采用与被测射频遥控器相应的主控部分，能够直接通过测试工装冶具模块与被测射频遥控器PCBA组件连接，或通过接口扩展单元及测试工装冶具模块与被测射频遥控器PCBA组件连接；电源管理单元用于提供各种所需电压；存储单元用于存储各种测试数据及测试指令。而本例中，测试工装冶具模块为具有针床的测试工装冶具模块，测试工本文档来自技高网...

【技术保护点】
射频遥控器自动测试系统，其特征在于，包括上位机测试处理模块、测试硬件模块、测试工装冶具模块、条码扫描模块、射频功率测量模块及屏蔽装置，所述测试硬件模块、条码扫描模块、射频功率测量模块分别与上位机测试处理模块连接，测试工装冶具模块分别与测试硬件模块及射频功率测量模块连接，所述上位机测试处理模块用于接收条码扫描模块传输来的条码数据，根据条码数据确定被测射频遥控器PCBA组件，通过拟定的测试项目编写测试软件，根据测试软件顺序执行测试项目，并发送对应的测试指令给测试硬件模块，接收测试硬件模块反馈的测试数据及射频功率测量模块发送的测试数据，对测试数据进行处理及存储；所述测试硬件模块用于根据上位机测试处理模块发送来的测试指令对通过测试工装冶具模块连接的被测射频遥控器PCBA组件进行相应测试，并向上位机测试处理模块反馈测试数据；所述测试工装冶具模块用于将被测射频遥控器PCBA组件测试点引出至测试硬件模块；所述条码扫描模块用于扫描被测射频遥控器PCBA组件上的条码数据，并将其传输给上位机测试处理模块；所述射频功率测量模块用于对被测射频遥控器PCBA组件的射频发射功率进行读取，并将读取的测试数据发送给上位机测试处理模块；所述屏蔽装置用于屏蔽外界射频信号对整个测试的干扰。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：苏晓山，邓剑，高敬，
申请(专利权)人：四川长虹电子部品有限公司，
类型：发明
国别省市：四川;51