本发明专利技术公开了一种防止电子设备测试中过电流过电压破坏的方法及系统。所述方法包括：在测试治具与电源供应器之间串联过电流过电压保护电路；连接测试治具与待测的电子设备；当通过过电流过电压保护电路的电流增大至电流阈值时，自动切断测试治具与电源供应器之间的通路；以及当输入过电流过电压保护电路的电压增大至电压阈值时，钳位并且输出稳定的输出电压值。本发明专利技术所提供的防止电子设备测试中过电流过电压破坏的方法及系统能够在通过电源供应器到测试治具的电流增大至设定的电流阈值时自动切断电流通路，并且将电源供应器到测试治具的电压限制为稳定的工作电压，以解决测试中过电流、过电压的问题并且防止对电子设备内部零件的破坏。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及电子设备测试领域，尤其涉及一种防止电子设备测试中过电流过电压破坏的方法及系统。
技术介绍
在现有的电子设备(例如，手机、平板电脑等)的测试中，在测试治具与电源供应器之间没有关于过电流过电压保护的装置，因此在实际测试中，极易由于发生意外情况(例如，误操作、短路、电压等)而导致过电流或过电压，从而损坏测试治具连接的待测试设备。图1为根据现有技术的防止电子设备(例如，手机)测试中过电流破坏的系统100的结构示意图。如图1所示，在测试治具102的正极与电源供应器104的正极之间串联一个过电流保护元件106。所述测试治具102与待测设备(图中未示出)相连，以进行设备测试。在设备测试过程中，电源供应器104中的电流通过所述过电流保护元件106而流过测试治具102。当发生意外情况时(例如，不当的操作、突发性断电或短路等)，通过所述过电流保护元件106的电流急速升高而大于或等于设定的电流阈值时，过电流保护元件106的温度就会瞬间上升、阻抗提高，从而自动切断电源供应器104至测试治具102的通路，导致通过所述过电流保护元件106的电流在极短时间(微秒)内降低。在通过所述过电流保护元件106的电流小于设定的电流阈值之后，所述过电流保护元件106就会立即恢复原状而继续导通。然而，图1所示的防止电子设备测试中过电流破坏的系统100只针对过电流对待测电子设备内部零件的破坏，而不能解决过电压的问题。实际上，半导体电路在有浪涌电压的情况下容易损坏，元器件使用数量多，结构复杂，这样降低了电源的效率，并且无效的功耗增加了芯片散热的负担，影响电路的稳定性，同时由于电路中由于元器件使用数量较多，出现故障的概率较高，降低了电路整体的可靠性。因此，需要一种改进的防止电子设备测试中过电流过电压破坏的方法及系统，以彻底解决生产线测试过程中由于过电流、过电压而导致烧坏芯片的问题。
技术实现思路
本专利技术的主要目的在于提供一种改进的防止电子设备测试中过电流过电压破坏的方法及系统，以彻底解决生产线测试过程中由于过电流、过电压而导致烧坏芯片的问题。为实现上述目的，本专利技术提供一种防止电子设备测试中过电流过电压破坏的方法，包括:在测试治具与电源供应器之间串联过电流过电压保护电路；连接所述测试治具与所述待测的电子设备；当通过所述过电流过电压保护电路的电流增大至设定的电流阈值时，自动切断所述测试治具与所述电源供应器之间的通路；以及当输入所述过电流过电压保护电路的电压增大至设定的电压阈值时，钳位并且输出稳定的输出电压值。进一步地，所述过电流过电压保护电路中的过电流保护模块包括自恢复保险丝。进一步地，自动切断所述测试治具与所述电源供应器之间的通路的所述步骤包括:当通过所述过电流过电压保护电路的电流增大至所述电流阈值时，断开所述自恢复保险丝；以及当通过所述过电流过电压保护电路的电流低于所述电流阈值时，恢复所述自恢复保险丝。进一步地，所述过电流过电压保护电路中的过电压保护模块包括钳位二极管和低压差稳压器。进一步地，钳位并且输出稳定的输出电压值的所述步骤包括:当输入所述过电流过电压保护电路的电压增大至设定的电压阈值时，所述钳位二极管和所述低压差稳压器一起工作来输出稳定的输出电压值。本专利技术还提供一种防止电子设备测试中过电流过电压破坏的系统，包括测试治具、电源供应器、以及串联在所述测试治具与所述电源供应器之间的过电流过电压保护电路，其特征在于，所述过电流过电压保护电路配置为:当通过所述过电流过电压保护电路的电流增大至设定的电流阈值时，自动切断所述测试治具与所述电源供应器之间的通路；以及当输入所述过电流过电压保护电路的电压增大至设定的电压阈值时，钳位并且输出稳定的输出电压值。进一步地，所述过电流过电压保护电路中的过电流保护模块包括自恢复保险丝。进一步地，所述过电流过电压保护电路还配置为:当通过所述过电流过电压保护电路的电流增大至所述电流阈值时，断开所述自恢复保险丝；以及当通过所述过电流过电压保护电路的电流低于所述电流阈值时，恢复所述自恢复保险丝。进一步地，所述过电流过电压保护电路中的过电压保护模块包括钳位二极管和低压差稳压器。进一步地，所述过电流过电压保护电路还配置为:当输入所述过电流过电压保护电路的电压增大至设定的电压阈值时，所述钳位二极管和所述低压差稳压器一起工作来输出稳定的输出电压值。本专利技术所提供的防止电子设备测试中过电流过电压破坏的方法及系统能够在通过电源供应器到测试治具的电流增大至设定的电流阈值时自动切断电流通路，并且将电源供应器到测试治具的电压限制为稳定的工作电压，以解决产线测试中过电流、过电压的问题并且防止对电子设备内部零件的破坏。【附图说明】图1为根据现有技术的防止电子设备测试中过电流破坏的系统的结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的一种防止电子设备测试中过电流过电压破坏的系统的结构示意图；图3为图2中的过电流过电压保护电路的结构示意图；图4为图3中的过电流过电压保护电路的输入电压和输出电压的信号波形图；以及图5为本专利技术实施例提供的一种防止电子设备测试中过电流过电压破坏的方法的流程示意图。本专利技术的实现、功能特点及优点将结合实施例，参照附图作进一步说明。【具体实施方式】以下结合说明书附图对本专利技术的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本专利技术，并不用于限定本专利技术，并且在不冲突的情况下，本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。图2为本专利技术实施例提供的一种防止电子设备(例如，手机)测试中过电流过电压破坏的系统200的结构示意图。如图2所示，在测试治具202的正极与电源供应器204的正极之间串联一个过电流过电压保护电路206。结合以下图3来看，过电流过电压保护电路206可包含保险丝302。优选地，保险丝302可选用自恢复保险丝，其使用寿命为2000次。不同于一般的保险丝一旦熔断后就需要更换，自恢复保险丝在过电流情况时会断开，当电流恢复正常时继续导通。在本实施例中，过电流过电压保护电路206中的保险丝302采用自恢复保险丝。然而，在其它实施例中，保险丝302还可采用其它限流元件。所述测试治具202与待测设备(图中未示出)相连，以进行设备测试。过电流过电压保护电路206可用于防止过电流情况。在设备测试过程中，电源供应器204中的电流通过所述过电流过电压保护电路206而流过测试治具202。当发生意外情况时(例如，不当的操作、突发性断电或短路等)，通过所述过电流过电压保护电路206的电流急速升高而大于或等于设定的电流阈值时，过电流过电压保护电路206的温度就会瞬间上升、阻抗提高，从而自动切断电源供应器204至测试治具202的通路，导致通过所述过电流过电压保护电路206的电流在极短时间(微秒)内降低，使其不超过电路可承受的最高电流。在通过所述过电流过电压保护电路206的电流小于设定的电流阈值之后，所述过电流过电压保护电路206中的保险丝302就会立即恢复原状而继续导通。此外，过电流过电压保护电路206还可用于防止过电压情况，再次参考图3来详细描述其工作原理。图3为图2中的过电当前第1页1 2 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种防止电子设备测试中过电流过电压破坏的方法，包括：在测试治具与电源供应器之间串联过电流过电压保护电路；连接所述测试治具与所述待测的电子设备；当通过所述过电流过电压保护电路的电流增大至设定的电流阈值时，自动切断所述测试治具与所述电源供应器之间的通路；以及当输入所述过电流过电压保护电路的电压增大至设定的电压阈值时，钳位并且输出稳定的输出电压值。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：申圣军，
申请(专利权)人：上海斐讯数据通信技术有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31
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