【技术实现步骤摘要】
本专利技术主要应用于集成电路技术制造领域,是一种对永磁弹射掩模台往复扫描运 动轨迹的规划方法。
技术介绍
光刻是集成电路芯片的生产工艺的重要工序,该工序所用的设备称为光刻机。目 前,应用广泛的是步进扫描式光刻机。掩模台系统是步进扫描光刻机的关键子系统之一,其 运动性能决定最终光刻工艺的性能。永磁弹射掩模台是一种面向未来光刻机的需求的一种 新型掩模台结构,其基本概念如图2所示。永磁弹射掩模台在传统掩模台的基础上增加了 永磁弹射结构,永磁弹射结构由两对磁钢组成,分别安装于掩模台的运动台两侧,正如清华 大学学者研究专利技术的"一种掩模台系统",磁钢作为一种驱动装置,相互作用产生永磁弹力, 当掩模台在没有永磁弹力作用范围内运动时,掩模台的驱动力仅由电机提供;当掩模台在 永磁弹力的作用范围运动时,则由永磁弹力和电机出力共同驱动掩模台运动。因此,永磁弹 射掩模台利用驱动分离的方式减少电机能量损耗。 轨迹规划是实现掩模台运动必不可少的环节。轨迹规划的主要任务是计算给定 运动轨迹在每个采样周期的位移、速度、加速度等,为后续的控制提供有效的参考数据。此 外,轨迹规划对 ...
【技术保护点】
一种对永磁弹射掩模台往复扫描运动轨迹的规划方法,所述方法包含如下步骤:1)根据永磁弹射掩模台的往复扫描的运动特性,把掩模台的不存在永磁弹力的运动区间划分为非弹射区,存在永磁弹力的区间划分为弹射区;2)规划非弹射区的运动轨迹:a.利用速度、加速度和位移之间的关系式计算得到运动速度和位移变量的临界条件:vb1=vsetvb2=vset-amax2j]]>d1=12(ta+2tj)(v0+vset)d2=2amaxv0j+amax3j2]]>式中vb1和vb2为速度临界条件,分别表示速度可达到的上限和区分三角形加速度和梯形加速度的临界速度;d1和d2为位移临界条件,分别表示掩模台 ...
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:穆海华,朱煜,陈涵,石淼,杨开明,张鸣,胡金春,尹文生,徐登峰,胡楚雄,
申请(专利权)人:清华大学,
类型:发明
国别省市:北京;11
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。