用于校正显示不均匀性的显示装置制造方法及图纸

可以提供一种用于校正显示不均匀性的显示装置，所述显示装置包括：面板，包括多个像素；以及不均匀性校正单元，被配置成以多个阶段来对不同的像素执行内插，以校正像素的不均匀性。此外，可以提供一种显示装置，所述显示装置包括：面板，包括多个像素；以及不均匀性校正单元，被配置成执行第一内插和第二内插，第一内插用于执行第一内插，第二内插利用与所述多个像素中的像素对应的指标信息执行第二内插。

【技术实现步骤摘要】

专利技术构思的一些示例实施例涉及显示装置，更具体地讲，涉及能够校正瑕斑(mura)缺陷并且计算减少和/或数据存储容量较小的显示装置。
技术介绍
近来，已经开发了各种类型的平板显示器(例如，液晶显示器(IXD)、等离子体显示面板(PDP)、电致发光显示面板等)来取代传统的阴极射线管(CRT)。在制造显示装置的任何工艺中出现错误的情况下，在执行显示装置的最终点灯测试的同时会观察到可见的不均匀区。这些错误会导致诸如坏像素、不均匀的灰阶、瑕斑现象等的问题。
技术实现思路
专利技术构思的一些示例实施例提供了一种能够有效地校正瑕斑缺陷同时减少期望的校正数据的量的显示装置。专利技术构思的示例实施例不限于本公开，并且基于下面的描述，其他实施例对于本领域普通技术人员而言可以变得明了。根据专利技术构思的示例实施例，一种显示装置包括:面板，包括多个像素；以及不均匀性校正单元，被配置成以多个阶段来对所述多个像素中的不同的像素执行内插，以校正像素的不均匀性。在一些示例实施例中，不均匀性校正单元可以被配置成对具有查找数据的像素执行第一内插以提供第一内插数据，并利用第一内插数据对不具有查找数据的像素执行第二内插。在一些示例实施例中，不均匀性校正单元可以包括:查找表，被配置成从面板接收像素地址和像素亮度，并输出查找数据；第一内插块，被配置成通过利用查找数据执行第一内插来产生第一内插数据；以及第二内插块，被配置成利用第一内插数据执行第二内插。在一些示例实施例中，查找表可以被配置成对于所述多个像素中的一些像素输出查找数据。在一些示例实施例中，第二内插块可以被配置成利用第一内插数据对坏像素执行第二内插，坏像素是所述多个像素中的不满足关于至少一种显示特性的设定标准的像素。在一些示例实施例中，第一内插块可以被配置成利用最邻近内插方法、双线性内插方法、中插法和强制内插方法中的至少一种来执行第一内插。在一些示例实施例中，第二内插块可以被配置成利用最邻近内插方法、双线性内插方法、中插法和强制内插方法中的至少一种来执行第二内插。根据专利技术构思的示例实施例，一种显示装置包括:面板，包括多个像素；以及不均匀性校正单元，被配置成:对所述多个像素中的第一像素执行第一内插，并利用指标信息和第一内插进行内插所得的数据对所述多个像素中的没有通过第一内插进行内插的第二像素执行第二内插，指标信息是表明基于关于至少一种显示特性的设定标准，所述多个像素中的像素是好像素还是坏像素的信息。在一些示例实施例中，不均匀性校正单元可以被配置成对所述多个像素中的具有查找数据的第一像素执行第一内插，并利用指标信息对所述多个像素中的不具有查找数据的第二像素执行第二内插。在一些示例实施例中，不均匀性校正单元可以包括:查找表，被配置成接收像素地址和像素亮度，并输出查找数据；第一内插块，被配置成通过利用查找数据执行第一内插来产生第一内插数据；第二内插块，被配置成利用第一内插数据和指标信息来执行第二内插；指标单元，被配置成提供指标信息；以及加法器，被配置成对第二内插块的结果和像素亮度进行计算，并将计算出的值输出为最终预期的值。在一些示例实施例中，查找表可以被配置成对分配了查找数据的选定数量的像素输出查找数据，所述选定数量小于所述多个像素的总数。在一些示例实施例中，第二内插块可以被配置成基于指标信息和第一内插数据对所述多个像素中的坏像素执行第二内插，坏像素是所述多个像素中的不满足关于至少一种显示特性的设定标准的像素。在一些示例实施例中，指标信息在像素为坏像素时可以为“ 1 ”，在像素为好像素时可以为“0”。在一些示例实施例中，第一内插块可以被配置成利用最邻近内插方法、双线性内插方法、中插法和强制内插方法中的至少一种来执行第一内插。在一些示例实施例中，第二内插块可以被配置成利用最邻近内插方法、双线性内插方法、中插法和强制内插方法中的至少一种来执行第二内插。根据专利技术构思的示例实施例，一种显示装置包括包含多个像素的面板以及用于校正显示不均匀性的不均匀性校正单元，不均匀性校正单元包括:查找表单元，被配置成将查找数据分配给所述多个像素中的选定数量的像素，所述选定数量小于所述多个像素的总数；第一内插单元，被配置成基于从查找表单元接收的查找数据来执行第一内插并产生第一内插数据；以及第二内插单元，被配置成基于第一内插数据执行第二内插并产生校正显示特性值。在一些示例实施例中，第二内插单元可以被配置成基于第一内插数据和指标信息对所述多个像素中的坏像素执行第二内插，指标信息表明所述多个像素中的不满足关于至少一种显示特性的设定标准的像素为坏像素。在一些示例实施例中，第二内插单元可以被配置成利用指标信息对所述多个像素中的不具有查找数据的像素执行第二内插，指标信息表明基于关于至少一种显示特性的设定标准，面板中的所述多个像素是好像素还是坏像素。在一些示例实施例中，第一内插单元可以被配置成对所述多个像素中的具有查找数据的像素执行第一内插。在一些示例实施例中，第二内插单元可以被配置成选择性地对像素中的不被包括在所述选定数量的像素中并且未被第一内插单元进行内插的像素执行第二内插。【附图说明】通过专利技术构思的一些示例实施例的更具体的描述，专利技术构思的上述和其他特征与优点将明显，如附图中说明的。在整个不同的附图中，同样的附图标记表示同样的元件。附图不必是按比例绘制的，相反重点在于示出专利技术构思的原理。在附图中:图1是示出传统的显示装置的示意性框图；图2是示出在面板上造成的瑕斑缺陷的示例的视图；图3是示出根据在图2中示出的瑕斑缺陷的亮度不均匀性的示例的曲线图；图4是示出根据专利技术构思的示例实施例的用于对不均匀性进行校正的显示装置的框图；图5是包括在图4的显示装置中的瑕斑校正单元的示意性框图；图6是示出根据专利技术构思的示例实施例的是否存在面板的查找数据的视图；图7是示出与包括在面板中的多个像素中的各像素对应的像素指标信息的示例的视图；图8是示出根据专利技术构思的示例实施例的用于校正显示不均匀性的显示装置的操作流程的流程图；图9是示出包括如图4中示出的用于校正显示不均匀性的显示装置的计算机系统的示例的框图；图10是示出包括如图4中示出的用于对不均匀性进行校正的显示装置的计算机系统的示例的框图；以及图11是示出包括如图4中示出的用于校正显示不均匀性的显示装置的计算机系统的另一示例的框图。【具体实施方式】在下文中，将参照附图详细描述专利技术构思的一些示例实施例。在对专利技术构思的示例实施例的详细描述中，将省略对与专利技术构思的主旨无关的公知的构造的详细描述。在该说明书中公开的具体结构的或功能的描述仅出于描述专利技术构思的示例实施例的目的。专利技术构思的示例实施例可以在形式上具有各种修改，并且不限于这里公开的示例实施例。尽管专利技术构思的示例实施例可以允许各种修改和替代形式，但是这里公开的一些示例实施例在附图中通过示例的方式示出了，并且在这里将详细地进行描述。然而，应该理解的是，不意图将专利技术构思的示例实施例限制为公开的具体形式。相反，示例实施例将覆盖落在专利技术构思的精神和范围内的所有修改、等同物和替换物。将理解的是，尽管这里可以使用术语“第一”、“第二”等来描述各个元件，当前第1页1 2 3 4 5 本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种显示装置，所述显示装置包括：面板，包括多个像素；以及不均匀性校正单元，被配置成以多个阶段来对所述多个像素中的不同的像素执行内插。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：詹劲峰，
申请(专利权)人：三星电子株式会社，
类型：发明
国别省市：韩国;KR