本实用新型专利技术公开了一种OBU的微波性能测试装置，属于OBU生产测试设备领域。该装置包括信号源(1)、第一频谱仪(2)、以及分别与信号源(1)和第一频谱仪(2)连接的信号控制单元(3)，信号控制单元(3)上设有与待测试OBU连接的端口，还包括功分器(4)和第一合路器(5)，功分器(4)的输入端与信号源(1)的信号输出端连接，第一合路器(5)的输出端与第一频谱仪(2)的信号输入端连接，功分器(4)的输出端和第一合路器(5)的输入端分别与第一辐射天线(6)相连接,第一辐射天线(6)与待测试OBU通过微波辐射连接。采用该装置，能够大大提升OBU的微波性能的测试效率，降低测试成本。
【技术实现步骤摘要】
本技术属于OBU生产测试设备领域，具体涉及一种OBU的微波性能测试装置。
技术介绍
OBU即电子收费系统ETC的车载单元，OBU产品在出厂时都要进行硬件和微波性能的测试，硬件测试比较的简单，主要是测试各功能模块的功能及电流消耗，需要一台PC+电流表(支持通讯功能)即可。而微波性能测试主要测试以下测试项:1、发射频率；2、发射功率；3、调制系数；4 ;唤醒灵敏度；5、接收灵敏度等，测试需要PC+信号源+频谱仪才能完成测试，而信号源、频谱仪设备又都是高价值设备，为满足一定的生产能力，往往需要购买数台该高价值的设备。目前生产测试都是一台PC+信号源+频谱仪对应测试一台0BU，以上测试项基本采用顺序测试，一台设备测试完毕后更换设备进行测试，这样一台设备测试微波性能，测试需要约18秒(发射频率3S+发射功率3S+调制系数3S+唤醒6S+接收3S)的时间，这样一套设备一小时测试200台0BU，如果日产能要达到8K-10K，那么就需要5_7套测试设备，在设备达不到要求数量时，只能通过人员加班来完成任务。
技术实现思路
针对现有技术中存在的缺陷，本技术的目的在于提供一种OBU的微波性能测试装置，通过该装置能够大大提升OBU微波性能的测试效率，降低生产成本。为实现上述目的，本技术采用的技术方案如下:—种OBU的微波性能测试装置，包括信号源、第一频谱仪、以及分别与信号源和第一频谱仪连接的信号控制单元，信号控制单元上设有与待测试OBU连接的端口，还包括功分器和第一合路器，功分器的输入端与信号源的信号输出端连接，第一合路器的输出端与第一频谱仪的信号输入端连接，功分器的输出端和第一合路器的输入端分别与第一福射天线相连接，第一辐射天线与待测试OBU通过微波辐射连接。进一步，如上所述的一种OBU的微波性能测试装置，所述第一合路器的个数为η个，与一个第一合路器连接的第一辐射天线与两个待测试OBU连接；其中，n ^ 10进一步，如上所述的一种OBU的微波性能测试装置，所述信号控制单元上的与待测试OBU连接的端口为串口。进一步，如上所述的一种OBU的微波性能测试装置，所述信号控制单元包括信号控制器和用于显示测试结果的显示器。进一步，如上所述的一种OBU的微波性能测试装置，还包括用于对功分器和第一合路器进行插损校准的插损校准设备。进一步，如上所述的一种OBU的微波性能测试装置，该测试装置还包括第二频谱仪，第二频谱仪与待测试OBU连接，信号控制单元与第二频谱仪连接。进一步，如上所述的一种OBU的微波性能测试装置，所述第二频谱仪与第二辐射天线连接，第二辐射天线与待测试OBU通过微波辐射连接，或者，所述第二频谱仪通过第二合路器与第一福射天线连接。本技术的有益效果在于:本技术所提供的OBU的微波性能测试装置，在进行OBU的微波性能测试时，能够对多个OBU同时进行测试，能够大大提升OBU的微波测试效率，降低测试设备的成本。【附图说明】图1为本技术【具体实施方式】中提供的一种OBU的微波性能测试装置的结构示意图；图2为本技术【具体实施方式】中提供了另一种OBU的微波性能测试装置的结构示意图；图3为本技术【具体实施方式】中待测试OBU的发射频率和发射功率测试的流程图；图4为本技术【具体实施方式】中待测试OBU的调制系数测试的流程图；图5为本技术【具体实施方式】中待测试OBU的唤醒灵敏度及接收灵敏度测试的流程图。【具体实施方式】下面结合说明书附图与【具体实施方式】对本技术做进一步的详细说明。图1示出了本技术【具体实施方式】中一种OBU的微波性能测试装置的结构示意图，有图中可以看出，该测试装置包括信号源1、第一频谱仪2、以及分别与信号源I和第一频谱仪2连接的信号控制单元3，信号控制单元3上设有与待测试0BU9连接的端口，其中，该装置还包括了功分器4和第一合路器5，功分器4的输入端与信号源I的信号输出端连接，第一合路器5的输出端与第一频谱仪2的信号输入端连接，功分器4的输出端和第一合路器5的输入端分别与第一辐射天线6连接，第一辐射天线6通过微波辐射与待测试OBU连接。采用本实施方式中所提供的上述OBU的微波性能测试装置能够实现对OBU的发射频率和发射功率、调制系数、以及唤醒灵敏度和接收灵敏度等测试项的测试。在进行唤醒灵敏度和接收灵敏度的测试时，信号源I发射的微波信号(0BU唤醒信号)通过功分器4后可以同时送达多个被测试的OBU 9，因此，可以同时完成多个被测试OBU的唤醒灵敏度和接收灵敏度的测试。在进行发射功率和发射频率的测试时，本实施方式中，根据不同测试需求，所述第一合路器5的个数可以为η个，其中，η多I。由于OBU只能发送两个信道(频率不同)的信号，因此与一台第一合路器5连接的第一辐射天线只能微波辐射两个待测试0BU，即一台第一合路器5只能连接两个待测试0BU，接收两个待测试OBU发送的载波信号。在需要测试OBU的发射频率和发射功率时，如果需要测试多台，只需要保持同一时刻有两个OBU处于测试模式即可。在进行调试系数测试时，由于该测试需要第一频谱仪2在时域上进行测试，一台频谱仪一次只能测试一个OBU的调制系数。对于图1中所示出的测试装置，该装置中示出的待测试的OBU 9为4个，为了实现对4个OBU的同时测试，该示例中包括两个第一合路器5，一个合路器对应辐射两个待测试0BU，在测试发射频率和发射功率时，信号控制单元3控制同一个第一合路器5所对应的两个待测试OBU所发射的载波信号的频率不同。需要说明的是，图1中所示的装置只是本技术所提供的测试装置的一个实施例，在实际使用中，测试装置的测试能力取决于装置的输出或接收能力以及附加配件的性能指标等。本实施方式中，所述信号控制单元3包括用于对信号进行控制的信号控制器、用于显示测试结果的显示器、以及其它需要的外设单元(如键盘等)。信号控制单元3可以直接采用PC来实现，当然也可以直接采用带有显示屏的信号控制器来实现。信号控制单元3与待测试OBU之间可以通过串口或其他方式连接，具体的方式取决于待测试OBU的测试端口的类型。此外，为了保证被测试OBU设备测试数据的一致性及准确性，需要对功分器4和第一合路器5的每一路进行插损校准，因此，本实施方式中所提供的测试装置还包括用于对功分器4和第一合路器5进行插损校准的插损校准设备。由于OBU的调制系数的测试需要分时进行测试，因此，在进行发射频率和发射功率测试的同时，是不能同时进行调制系数的测试的。为了进一步提升测试效率，本实施方式中，该测试装置还包括第二频谱仪7，第二频谱仪7与待测试OBU连接，信号控制单元3与第二频谱仪7连接。第二频谱仪7与待测试OBU连接时，可以是通过第二辐射天线8与与待测试OBU连接，即第二频谱仪7与第二辐射天线8连接，第二辐射天线8与待测试OBU微波辐射连接(如图2所示)，或者，所述第二频谱仪7通过第二合路器与第一辐射天线6连接。通过增加第二频谱仪7，可以在其它测试项进行的同时通过第二频谱仪7进行调制系数的测试。由于调制系数是在时域进行的，第二频谱仪7在同一时刻也只能进行一个OBU设备的调制系数的测试，因此，在实际测试OBU的调制系数中，信号控制单元3需要控制同一时刻只有一个待测试O本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种OBU的微波性能测试装置，包括信号源(1)、第一频谱仪(2)、以及分别与信号源(1)和第一频谱仪(2)连接的信号控制单元(3)，信号控制单元(3)上设有与待测试OBU连接的端口，其特征在于：还包括功分器(4)和第一合路器(5)，功分器(4)的输入端与信号源(1)的信号输出端连接，第一合路器(5)的输出端与第一频谱仪(2)的信号输入端连接，功分器(4)的输出端和第一合路器(5)的输入端分别与第一辐射天线(6)相连接,第一辐射天线(6)与待测试OBU通过微波辐射连接。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：李振华，
申请(专利权)人：北京握奇智能科技有限公司，
类型：新型
国别省市：北京;11
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