【技术实现步骤摘要】
本技术涉及LED测试领域，具体涉及一种LED性能测试箱。
技术介绍
目前通行的LED可靠性试验方法是:在同型号、同批次的LED产品中，抽取一定数量的样品进行试验，在试验前以及试验过程中测量其性能参数，根据相应的寿命算法推算出该型号、该批次的LED寿命。由于LED的理论寿命长达数万小时，因此需要采用加强应力的强化试验方法来加速整个试验过程。为了提高效率及优化试验结果，通行做法是同时对多个LED样品进行可靠性试验。现有LED可靠性试验系统中通常采样一个托盘，在该托盘上固定多个LED样品，再将整个托盘放置在强化试验箱内，在试验过程中当需要测量LED样品的性能参数时，就将托盘上的LED样品依次拆下，逐个放置于积分球内进行测量，测量完毕后再将LED样品重新安装到托盘上，放回强化试验箱内继续后续试验。其存在的问题是:1、在整个试验过程中，需要反复安装、拆卸LED样品，增加了大量的人力和时间成本；2、并且在安装、拆卸过程中存在造成试验样品性能改变的不稳定因素而影响最终测试结果。
技术实现思路
为了解决现有技术问题，本技术提供了一种结构简单并且性能可靠的LED测试箱。—种LED性能测试...
【技术保护点】
一种LED性能测试箱，包括箱体和取光装置，其特征是：还包括第一电机、第二电机、转轴、光纤和连接件，所述箱体上设有通孔，所述转轴和光纤穿过所述通孔，所述取光装置设置在所述箱体内部，设置在所述箱体外部的所述第一电机驱动所述转轴转动，所述连接件固定在所述转轴处于所述箱体内的一端，所述第二电机固定在所述连接件上，所述第二电机驱动所述取光装置靠近或远离所述转轴，所述光纤的第一端与所述取光装置连接、且第二端在所述箱体外。
【技术特征摘要】
1.一种LED性能测试箱,包括箱体和取光装置,其特征是:还包括第一电机、第二电机、转轴、光纤和连接件，所述箱体上设有通孔，所述转轴和光纤穿过所述通孔，所述取光装置设置在所述箱体内部，设置在所述箱体外部的所述第一电机驱动所述转轴转动，所述连接件固定在所述转轴处于所述箱体内的一端，所述第二电机固定在所述连接件上，所述第二电机驱动所述取光装置靠近或远离所述转轴，所述光纤的第一端与所述取光装置连接、且第二端在所述箱体外。2.按权利要求1所述的LED性能测试箱，其特征是:所述转轴具有轴向的转轴通孔，所述光纤穿过所述转轴通孔。3.按权利要求1所述的LED性能测试箱，其特征是:所述通孔处设有隔离箱体内与箱体外的密封件。4.按权利要求3所述的LED性能测试箱，其特征是:还包括用于反馈所述第一电机转动角度的第一旋转编码器和...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡益民，刘岩，敬刚，张志甜，杨永刚，张超，朱惠忠，刘文斌，李永光，汤皎宁，曹广忠，高文杰，袁文龙，梁荣，陆兆隆，
申请(专利权)人：深圳清华大学研究院，
类型：实用新型
国别省市：
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