本发明专利技术涉及在触摸屏按压测试中检测不良的方法和装置。所述在触摸屏按压测试中检测不良的方法包括：S1，在按压测试时，采集触摸屏的每个按压处被按压后，该按压处所在检测区域的图像；S2，在所采集的图像中识别异常点的数量；S3，将所述异常点的数量与按压测试所允许存在的异常点数量进行比较，并在所述异常点的数量超出允许存在的异常点数量时，将所述触摸屏判定为不良。上述检测不良的方法可以准确且及时地检测触摸屏在按压测试过程中是否存在不良。
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及显示
，具体地，涉及一种在触摸屏按压测试中检测不良的方法和装置。
技术介绍
触摸屏一般包括显示屏和触摸组件；其中，所述显示屏用于实现显示功能，其一般为薄膜晶体管液晶显示器(Thin Film Transistor Liquid Crystal Display，以下简称为TFT IXD);所述触摸组件用于实现触摸功能。在所述触摸屏制备完成之后，需要对触摸屏进行按压测试，以检测显示屏和触摸组件的抗压性能和耐久性。所述按压测试包括点击、划线以及软压等；所述点击是指在开机状态下，使用压头(直径为5_或其他)以一定力(如2.5N)在触摸屏上的多个点按压一定次数(如每个点按压10万次)，而后检测触摸屏的外观及功能是否正常；所述划线是指在开机状态下，使用压头(直径为5_或其他)以一定力(如2.5N)在触摸屏上的多个点划线一定次数(如在每个点划线20万次)，而后检测触摸屏的外观及功能是否正常；所述软压是指在开机状态下，触摸屏正面朝下，并维持与压头垂直的状态，以一定力挤压触摸屏一定次数(如以300N的力挤压2000次)，而后检测触摸屏的外观、功能及装配是否正常。在对触摸屏进行大量次数的点击、划线或软压后，所述显示屏的隔垫物的表面容易发生破损，隔垫物的表面上会脱落一定的颗粒物，所述颗粒会掉落在液晶层中，会使光线在该位置处的透射异常，从而产生亮点，即所谓Zara不良。因此，在按压测试完成后，需要检测触摸屏是否满足合格标准，具体地，若所述亮点的数量小于预定值则判定所述触摸屏合格，若所述亮点的数量超出预定值则判定所述触摸屏不合格。现有技术中，一般在按压测试完成后，由工作人员目视检测显示屏是否存在Zara不良；这样的检测方式存在以下两个技术问题:首先，不同工作人员目视检测的标准不同，从而容易造成误检、漏检以及过捡等，这使其检测的准确性较差。其次，在按压测试完成后再进行检测，使得检测的即时性较差，即无法即时获得在多少次按压后所述亮点的数量超出预定值；实际中，对于不同用途的触摸屏，判定合格的标准是不同的，在所述触摸屏不符合某高标准的触摸屏的情况下，上述检测方式无法判断所述触摸屏是否满足另一低标准的要求。
技术实现思路
本专利技术旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提出了一种在触摸屏按压测试中检测不良的方法和装置，其可以及时和准确地检测触摸屏是否在按压测试过程中发生不良。为实现本专利技术的目的而提供一种在触摸屏按压测试中检测不良的方法，其包括:SI，在按压测试时，采集触摸屏的每个按压处被按压后，该按压处所在检测区域的图像；S2，在所采集的图像中识别异常点的数量；S3，将所述异常点的数量与按压测试所允许存在的异常点数量进行比较，并在所述异常点的数量超出允许存在的异常点数量时，将所述触摸屏判定为不良。其中，根据所述异常点的数量超出按压测试所允许存在的异常点数量的值，判断所述触摸屏不良的级别。其中，所述步骤S2中，还在所采集的图像中识别每个异常点的尺寸，并根据尺寸的不同，将异常点分为多个级别；所述步骤S3中，将每个级别的异常点的数量与按压测试所允许存在的该级别的异常点数量进行比较，并在任意级别的所述异常点的数量超出允许存在的异常点数量时，将所述触摸屏判定为不良。其中，根据各级别异常点的数量超出按压测试所允许存在的该级别异常点数量的值，综合判断所述触摸屏不良的级别。其中，在判定所述触摸屏为不良后报警。其中，在判定所述触摸屏为不良后报警，并提示所述判断出的不良级别。其中，在步骤SI中，在每次按压所述按压处后，采集所述按压处所在检测区域的图像。其中，步骤S2中，通过将步骤SI中所采集的图像与标准图像进行比对，来识别步骤SI中所采集的图像中的异常点的数量；所述标准图像为不包括异常点的按压处所在检测区域的图像。其中，在判定所述触摸屏不良后，记录所述按压处被按压的次数。作为另一个技术方案，本专利技术还提供一种在触摸屏按压测试中检测不良的装置，其包括:图像采集模块，所述图像采集模块用于在按压测试时，采集触摸屏的每个按压处被按压后，该按压处所在检测区域的图像；图像识别模块，所述图像识别模块用于在所述图像采集模块所采集的图像中识别异常点的数量；不良判断模块，所述不良判断模块用于将所述异常点的数量与按压测试所允许存在的异常点数量进行比较，并在所述异常点的数量超出允许存在的异常点数量时，将所述触摸屏判定为不良。其中，所述不良判断模块还根据所述异常点的数量超出按压测试所允许存在的异常点数量的值，判断所述触摸屏不良的级别。其中，所述图像识别模块还在所采集的图像中识别每个异常点的尺寸，并根据尺寸的不同，将异常点分为多个级别；所述不良判断模块将每个级别的异常点的数量与按压测试所允许存在的该级别的异常点数量进行比较，并在任意级别的所述异常点的数量超出允许存在的异常点数量时，将所述触摸屏判定为不良。其中，所述不良判断模块还根据各级别异常点的数量超出按压测试所允许存在的该级别异常点数量的值，综合判断所述触摸屏不良的级别。其中，还包括报警模块，所述报警模块用于在所述不良判断模块判定所述触摸屏为不良后报警。其中，还包括报警模块，所述报警模块用于在所述不良判断模块判定所述触摸屏为不良后报警，并提示所述判断出的不良级别。其中，所述图像采集模块在每次按压所述按压处后，采集所述按压处所在检测区域的图像。其中，所述图像识别模块将图像采集模块所采集的图像与标准图像进行比对，来识别图像采集模块所采集的图像中的异常点的数量；所述标准图像为不包括异常点的按压处所在检测区域的图像。其中，还包括记录模块，所述记录模块用于在所述不良判断模块判定所述触摸屏不良后，记录所述按压处被按压的次数。本专利技术具有以下有益效果:本专利技术提供的在触摸屏按压测试中检测不良的方法，其通过图像采集、图像识别和不良判断等步骤实现对按压测试中触摸屏是否出现不良的自动检测，避免了人眼目视检测时存在的误差，以及检测标准不一致的问题，从而可以提高检测的准确性，避免误检、漏检及过检等。同时，本专利技术中，在对触摸屏的按压测试过程中检测，可以提高检测的即时性，即:可以及时地确定所述触摸屏被检测为不良时，其被按压的次数，从而可以及时且方便地确定所述触摸屏的抗压性能和耐久性。本专利技术提供的在触摸屏按压测试中检测不良的装置，通过所述图像采集模块采集图像，所述图像识别模块在所采集图像中识别异常点，所述不良判断模块判断所识别异常点的数量与按压测试所允许存在的异常点的数量之间的大小关系，实现自动检测所述触摸屏是否为不良；与现有技术中的人眼目视检测相比，可以避免人眼目视检测时存在的误差，以及检测标准不一致的问题，从而可以提高检测的准确性，避免误检、漏检及过检等。同时，本专利技术中，在对触摸屏的按压测试过程中检测，可以提高检测的即时性，即:可以及时地确定所述触摸屏被检测为不良时，其被按压的次数，从而可以及时且方便地确定所述触摸屏的抗压性能和耐久性。当前第1页1 2 3 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种在触摸屏按压测试中检测不良的方法，其特征在于，包括：S1，在按压测试时，采集触摸屏的每个按压处被按压后，该按压处所在检测区域的图像；S2，在所采集的图像中识别异常点的数量；S3，将所述异常点的数量与按压测试所允许存在的异常点数量进行比较，并在所述异常点的数量超出允许存在的异常点数量时，将所述触摸屏判定为不良。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：杨刚，宋勇，龙君，安喜君，张宏坤，刘滋旺，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，北京京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11
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