触摸检测装置和带触摸检测功能的显示装置制造方法及图纸

目的在于提供能提高对静电等电磁噪声的耐性的触摸检测装置和带触摸检测功能的显示装置。触摸检测装置和带触摸检测功能的显示装置具备：基板；触摸检测电极，其设于与上述基板平行的面上，具有多根金属配线，多根上述金属配线以设置间隔的方式配置；以及导电层，其具有比上述金属配线高的薄层电阻值，与上述金属配线连接并与上述金属配线重叠。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及能检测外部接近物体的带触摸检测功能的显示装置和触摸检测装置。
技术介绍
近年来，被称为所谓的触摸面板的、能检测外部接近物体的触摸检测装置受到关注。触摸面板在液晶显示装置等显示装置上装配或者一体化的、带触摸检测功能的显示装置中使用。并且，带触摸检测功能的显示装置通过在显示装置中显示各种按钮图像等从而能使触摸面板取代通常的机械式按钮进行信息输入。在下面的专利文献1中，记载了为了实现薄型化、大画面化或高清晰度化而在触摸检测电极中使用金属材料、能实现触摸检测电极的低电阻化并且抑制图案的视认性的带触摸检测功能的显示装置。现有技术文献专利文献专利文献1：特开2014－109904号公报
技术实现思路
专利技术要解决的问题专利文献1所记载的带触摸检测功能的显示装置的触摸检测电极具有窄宽度的金属配线，触摸检测电极的面积小。因此，在来自外部的静电等电磁噪声与触摸检测电极重叠的情况下，触摸检测电极所带的电荷不易向外部流动，触摸检测精度或者显示装置的显示性能有可能降低。本专利技术的目的在于提供能提高对静电等电磁噪声的耐性的触摸检测装置和带触摸检测功能的显示装置。用于解决问题的方案本专利技术的一个方式的触摸检测装置具备：基板；触摸检测电极，其设于与上述基板平行的面上，具有多根金属配线，多根上述金属配线以设置间隔的方式配置；以及导电层，其具有比上述金属配线高的薄层电阻值，与上述金属配线连接并与上述金属配线重叠。本专利技术的一个方式的带触摸检测功能的显示装置具有：上述触摸检测装置；多个像素电极，其在与上述基板平行的面上与上述触摸检测电极相对并按矩阵配置；以及显示功能层，其基于图像信号发挥图像显示功能。附图说明图1是表示第1实施方式的带触摸检测功能的显示装置的构成例的框图。图2是用于说明相互静电电容方式的触摸检测的基本原理的、表示手指没有接触或者接近的状态的说明图。图3是表示图2所示的手指没有接触或者接近的状态的等价电路的例子的说明图。图4是用于说明相互静电电容方式的触摸检测的基本原理的、表示手指接触或者接近的状态的说明图。图5是表示图4所示的手指接触或者接近的状态的等价电路的例子的说明图。图6是表示驱动信号和触摸检测信号的波形的一例的图。图7是表示安装有第1实施方式的带触摸检测功能的显示装置的模块的一例的、表示驱动电极的一例的平面图。图8是表示安装有第1实施方式的带触摸检测功能的显示装置的模块的一例的、表示触摸检测电极的一例的平面图。图9是表示带触摸检测功能的显示装置的概略截面结构的截面图。图10是表示第1实施方式的带触摸检测功能的显示部的像素排列的电路图。图11是用于说明第1实施方式的触摸检测电极的排列与彩色滤光片的颜色区域的关系的示意图。图12是表示第1实施方式的带触摸检测功能的显示部的驱动电极和触摸检测电极的一构成例的立体图。图13是表示1帧期间的显示动作期间和触摸检测动作期间的配置的一例的示意图。图14是用于说明第1实施方式的导电层和触摸检测电极的制造方法的工序图。图15是表示本实施方式的实施例的带触摸检测功能的显示装置的触摸检测电极的示意平面图。图16是表示触摸检测电极相对于导电层的配置面积率与触摸检测动作的关系的表。图17是表示第2实施方式的带触摸检测功能的显示装置的一例的示意平面图。图18是表示第2实施方式的带触摸检测功能的显示装置的概略截面结构的截面图。图19是表示第3实施方式的带触摸检测功能的显示装置的一例的示意平面图。图20是将第3实施方式的带触摸检测功能的显示装置的触摸检测电极局部地放大后表示的示意平面图。图21是表示第3实施方式的带触摸检测功能的显示装置的概略截面结构的截面图。图22是用于说明自静电电容方式的触摸检测的基本原理的、表示手指没有接触或者接近的状态的说明图。图23是用于说明自静电电容方式的触摸检测的基本原理的、表示手指接触或者接近的状态的说明图。图24是表示驱动信号和触摸检测信号的波形的一例的图。图25是表示第4实施方式的带触摸检测功能的显示装置的一例的示意平面图。图26是将第4实施方式的带触摸检测功能的显示装置的触摸检测电极放大后表示的示意平面图。图27是图26的用B－B线切断后从箭头方向观看时的示意截面图。图28是表示第4实施方式的带触摸检测功能的显示装置的概略截面结构的截面图。具体实施方式一边参照附图，一边详细地说明用于实施本专利技术的方式(实施方式)。本专利技术不限于以下的实施方式所记载的内容。另外，在以下所记载的构成要素中包含本领域技术人员能容易地设想的、实质上相同的内容。而且，以下所记载的构成要素能适当地进行组合。此外，公开终究仅为一例，本领域技术人员关于保护专利技术的宗旨的适当变更而能容易地想到的内容当然包含在本专利技术的范围中。另外，为了进一步明确说明，附图与实际的方式相比，有时示意性地表示各部的宽度、厚度、形状等，但其终究是一例，不对本专利技术的解释进行限定。另外，在本说明书和各图中，关于已出的图对与前述内容同样的要素标注同一附图标记，有时适当地省略详细的说明。(第1实施方式)图1是表示第1实施方式的带触摸检测功能的显示装置的构成例的框图。如图1所示，带触摸检测功能的显示装置1具备：带触摸检测功能的显示部10、控制部11、栅极驱动器12、源极驱动器13、驱动电极驱动器14以及触摸检测部40。带触摸检测功能的显示装置1的带触摸检测功能的显示部10是内置触摸检测功能的显示装置。带触摸检测功能的显示部10是将作为显示元件使用液晶显示元件的显示面板20和检测触摸输入的触摸检测装置即触摸面板30实现了一体化的装置。此外，带触摸检测功能的显示部10也可以是在显示面板20上装配了触摸面板30的、所谓的单元上(on-cell)类型的装置。此外，显示面板20例如也可以是有机EL显示面板。显示面板20如后所述是根据从栅极驱动器12供应的扫描信号Vscan以每次1水平线的方式依次扫描而进行显示的元件。控制部11是进行控制使得基于从外部供应的视频信号Vdisp对栅极驱动器12、源极驱动器13、驱动电极驱动器14和触摸检测部40分别供应控制信号而使它们相互同步地动作的电路。栅极驱动器12具有基于从控制部11供应的控制信号依次选择作为带触摸检测功能的显示部10的显示驱动的对象的1水平线的功能。源极驱动器13是基于从控制部11供应的控制信号对带触摸检测功能的显示部10的、后述的各子像素SPix供应像素信号Vpix的电路。驱动电极驱动器14是基于从控制部11供应的控制信号对带触摸检测功能的显示部10的、后述的驱动电极COML供应驱动信号Vcom的电路。触摸面板30基于静电电容型触摸检测的基本原理动作，通过相互静电电容方式进行触摸检测动作，检测外部的导体相对于显示区域的接触或者接近。触摸检测部40是基于从控制部11供应的控制信号和从触摸面板30供应的触摸检测信号Vdet1来检测对触摸面板30的触摸的有无的电路。另外，触摸检测部40在有触摸的情况下求出进行触摸输入的坐标等。该触摸检测部40具备：触摸检测信号放大部42、A/D转换部43、信号处理部44、坐标抽取部45以及检测定时控制部46。如上所述，触摸面板30基于静电电容型触摸检测的基本原理动作。在此，参照图2～图6说明本实施方式的带触摸检测功能的显示装置1的基于相互静电本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种触摸检测装置，其特征在于，具备：基板；触摸检测电极，设于与所述基板平行的面上，具有多根金属配线，多根所述金属配线以设置间隔的方式配置；以及导电层，具有比所述金属配线高的薄层电阻值，与所述金属配线连接并与所述金属配线重叠。

【技术特征摘要】
2015.07.09 JP 2015-1379571.一种触摸检测装置，其特征在于，具备：基板；触摸检测电极，设于与所述基板平行的面上，具有多根金属配线，多根所述金属配线以设置间隔的方式配置；以及导电层，具有比所述金属配线高的薄层电阻值，与所述金属配线连接并与所述金属配线重叠。2.根据权利要求1所述的触摸检测装置，其中所述导电层设于所述基板的上方，所述金属配线设于所述导电层上。3.根据权利要求1所述的触摸检测装置，其中所述金属配线设于所述基板的上方，所述导电层设于所述金属配线上。4.根据权利要求1所述的触摸检测装置，其中所述导电层的薄层电阻值是109Ω/□以上、1013Ω/□以下。5.根据权利要求2所述的触摸检测装置，其中所述导电层在用于显示图像的显示区域中具有与所述金属配线重叠的第1部分和不与所述金属配线重叠的第2部分。6.根据权利要求5所述的触摸检测装置，其中所述导电层的所述第1部分与所述第2部分相比在相对于所述基板的表面垂直的方向上的厚度较厚。7.根据权利要求1所述的触摸检测装置，其中所述导电层设于用于显示图像的显示区域的整个面。8.根据权利要求1所述的触摸检测装置，其中相对于用于显示图像的显示区域中的所述导电层的俯视时的面积，所述金属配线的面积所占的面积率是10％以下。9.根据权利要求1所述的触摸检测装置，其中所述导电层包括多晶结构。10.根据权利要求9所述的触摸检测装置，其中所述金属配线通过蚀刻金属层而形成图案，针对所述金属层的蚀刻液，所述导电层的蚀刻率小于所述金属层的蚀刻率。11.根据权利要求1所述的触摸检测装...

【专利技术属性】
技术研发人员：仓泽隼人，石崎刚司，
申请(专利权)人：株式会社日本显示器，
类型：发明
国别省市：日本;JP