本发明专利技术涉及一种触摸屏、触摸检测方法及装置。所述方法包括：对扫描区域进行直轴扫描，当检测到至少一个触摸时，记录被隔断的扫描光线的直轴；根据所述被隔断的扫描光线的直轴缩小所述扫描区域；对缩小后的扫描区域进行轴扫描以获得所述触摸的位置。所述装置相应地包括扫描单元、记录单元及区域缩小单元。本发明专利技术能够降低触摸屏的功耗。
【技术实现步骤摘要】
【专利摘要】本专利技术涉及一种触摸屏、触摸检测方法及装置。所述方法包括：对扫描区域进行直轴扫描，当检测到至少一个触摸时，记录被隔断的扫描光线的直轴；根据所述被隔断的扫描光线的直轴缩小所述扫描区域；对缩小后的扫描区域进行轴扫描以获得所述触摸的位置。所述装置相应地包括扫描单元、记录单元及区域缩小单元。本专利技术能够降低触摸屏的功耗。【专利说明】一种触摸屏、触摸检测方法及装置
本专利技术涉及计算机触控领域，特别涉及一种触摸屏、触摸检测方法及装置。
技术介绍
红外触摸屏属于计算机触摸屏，作为一种人性化的输入设备，红外触摸屏具有广 阔的发展前景。红外触摸屏因安装简易、易于维护、抗爆性高、可靠性强等优点而被广泛应 用在各个领域。 红外触摸屏的基本结构，是在一个适合安装的显示表面四周边缘按照一定的顺序 安装若干对红外发射和红外接收元件。这些发射和接收元件按照一一对应的方式组成发射 接收对，沿着显示表面的边缘构成一个互相垂直的发射接收阵列，在微型计算机系统的控 制下按照一定的顺序分别接通每一对发射和接收元件，检测每对发射和接收元件之间的红 外线是否被隔断，以此来判定是否有触摸事件发生。 现有技术中，一种检测触摸屏上触摸点的方法包括：启动红外触摸屏，按照顺序依 次选择接通每对红外发射和接收元件，扫描整个触摸区域；分别记录每一次红外线被隔断 时所接通的发射和接收对元件的内部坐标值；根据所记录的上述内部坐标值，将纵横坐标 值组合以得到触摸点的坐标值并储存；对整个触摸区域进行至少一次的重新扫描以剔除虚 假触摸点；将所得到的真实触摸点的坐标值转换为安装所述触摸屏的计算机系统所能接受 的数据，并通过所述触摸屏的接口传输到所述计算机系统之中。触摸屏的微处理器实际在 一个扫描周期内对整个触摸区域实际是进行至少两次扫描的，包括至少一次直轴扫描和至 少一次离轴扫描；即使触摸区域上没有存在触摸，也是在一个扫描周期内设置多次扫描。 现有技术检测触摸的技术方案至少存在如下缺陷： 在对触摸的一次检测需要进行整个触摸区域范围内的多次扫描，耗费触摸屏的功 耗较高； 在待发生触摸的空闲时间内，触摸屏的微处理器实际也在一个扫描周期进行多次 直轴扫描和离轴扫描，其扫描周期由此是比较长的；扫描周期过长不但会为触摸屏增加不 必要的功耗，还会延长触摸屏响应时间，从而降低设备的使用性能。
技术实现思路
本专利技术技术方案所解决的技术问题是：如何降低触摸屏的功耗。 为了解决上述技术问题，本专利技术技术方案提供了一种触摸检测方法，包括： 对扫描区域进行直轴扫描，当检测到至少一个触摸时，记录被隔断的扫描光线的 直轴； 根据所述被隔断的扫描光线的直轴缩小所述扫描区域； 对缩小后的扫描区域进行轴扫描以获得所述触摸的位置。 可选的，所述被隔断的扫描光线的直轴是通过记录对应触摸的轴向位置获取的。 可选的，所述记录被隔断扫描光线的直轴包括记录对应触摸在轴向上的起始位置 和终止位置、或记录对应触摸在轴向上的起始位置和宽度、或记录对应触摸在轴向上的宽 度和终止位置。 可选的，所述缩小后的扫描区域包括由所述被隔断的扫描光线的直轴相交而成的 至少一个封闭区域，每个封闭区域包括至少一个所述直轴扫描检测到的触摸。 可选的，所述缩小后的扫描区域是由所述被隔断的扫描光线的直轴相交形成的最 大四边形区域。 可选的，所述对缩小后的扫描区域进行轴扫描以获得所述触摸的位置包括： 对所述缩小后的扫描区域进行直轴扫描以获取若干待筛选的触摸； 对所述缩小后的扫描区域进行离轴扫描并利用离轴扫描的结果剔除所述待筛选 的触摸中的虚假触摸以确定真实触摸； 输出所述真实触摸的位置。 可选的，所述对缩小后的扫描区域进行轴扫描以获得所述触摸的位置包括： 根据对扫描区域的直轴扫描的结果获取若干待筛选的触摸； 对所述缩小后的扫描区域进行离轴扫描并利用离轴扫描的结果剔除所述待筛选 的触摸中的虚假触摸以确定真实触摸； 输出所述真实触摸的位置。 为了解决上述技术问题，本专利技术技术方案还提供了一种触摸检测装置，其特征在 于，包括： 扫描单兀，用于对扫描区域进行直轴扫描以检测至少一个触摸； 记录单元，用于当检测到至少一个触摸时，记录被隔断的扫描光线的直轴； 区域缩小单元，用于根据所述被隔断的扫描光线的直轴缩小所述扫描区域； 所述扫描单元还用于对缩小后的扫描区域进行轴扫描以获得所述触摸的位置，所 述扫描单元包括所述第一子扫描单元。 为了解决上述技术问题，本专利技术技术方案还提供了 一种触摸屏，包括午 触摸区域以及微处理器； 所述微处理器包括上述触摸检测装置。 本专利技术技术方案至少有如下有益效果： 本专利技术技术方案在待发生触摸的空闲时间仅对触摸区域进行以一次直轴扫描为 扫描周期的"预"扫描，而非如现有技术一般既进行直轴扫描也进行离轴扫描，待触摸发生 后才对触摸区域重新进行扫描以缩短待发生触摸的空闲时间内触摸屏的扫描周期，可有效 缩短触摸屏在待发生触摸的空闲时间内的扫描周期，也有效减少离轴扫描的时间及区域， 缩短触摸屏响应时间，减少硬件损耗，降低触摸屏的功耗。 本专利技术技术方案在检测到触摸的时间内仅对可能发生触摸的区域进行扫描，即缩 小了扫描区域的范围，这从耗能角度上看，缩小扫描区域必定减少所使用的发射元件和接 收元件的数目，相应进行离轴扫描的区域也大大缩小，据此进一步降低触摸屏的功耗；从扫 描时间角度来看，因扫描区域的缩小使扫描光线覆盖的区域变小，扫描所需时间也降低了， 进一步缩短触摸屏响应时间，提高触摸屏的检测效率；从检测精度角度上看，在选定发射元 件和接收元件的数目的前提下，扫描区域缩小使扫描光线密度增加，能够提高触摸检测的 精确度。 考虑到扫描区域的缩小需与直轴扫描检测到可能存在的触摸位置相关，利用所记 录的被隔断的扫描光线的直轴的信息则能够提高界定所述缩小区域的准确定位。 在可选方案中，缩小后的扫描区域可以是由所述被隔断的扫描光线的直轴相交形 成的最大四边形区域，也可以是由至少一个四边形区域构成(该四边形区域是由所述被隔 断的扫描光线的直轴相交形成的最小四边形区域）：前者算法简单，也能达到很好的低功率 效果；后者则定位更为精确，有利后续的准确性检测。 在对缩小后的扫描区域进行轴扫描的过程中，所选取的接收元件和发射元件的数 目在优选方案中也是大大减少的；具体的，只要选择接通能够覆盖所述缩小后扫描区域的 相对应的接收元件和发射元件就可以了，这使触摸屏的整体功耗又得到了节省；当然，更为 优选的是，只要选择有经过缩小后的扫描区域的相对应的接收元件和发射元件，此时所选 择的元件是能够实现对缩小后的扫描区域进行相应扫描的最小数目的元件，是启动元件的 最小功率。 本专利技术技术方案逻辑简单，易于实现硬件加速；未改变现有触摸屏的其他结构，可 完成多个触摸点的检测扫描，具有应用成本极低、适用性广阔的优点。 【专利附图】【附图说明】 图1为实施例1的触摸检测方法的流程示意图； 图2为实施例1的一种触摸屏的结构示意图； 图3为图2所示触摸屏所处一种使用状态的示意图； 图4为图2本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种触摸检测方法，其特征在于，包括：对扫描区域进行直轴扫描，当检测到至少一个触摸时，记录被隔断的扫描光线的直轴；根据所述被隔断的扫描光线的直轴缩小所述扫描区域；对缩小后的扫描区域进行轴扫描以获得所述触摸的位置。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张宇明，赵雷，徐姣，
申请(专利权)人：上海精研电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31
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