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聚合样品激光光谱测量实验系统技术方案

技术编号:12559715 阅读:161 留言:0更新日期:2015-12-22 14:22
本实用新型专利技术涉及一种聚合样品激光光谱测量实验系统,主要包括泵浦光源(1)、半波片(2)、偏振片(3)、分光镜(4)、透镜(7)、能量计(9)、探测器(10)、光谱仪(11)和计算机(12),依照泵浦光发射方向依次设置激光器(1)、半波片(2)、偏振片(3)、分光镜(4)和样品(6)以及激光器(1)、半波片(2)、偏振片(3)、分光镜(4)、透镜(7)和能量计(9),探测器(10)与样品(6)连接。本实用新型专利技术聚合样品激光光谱测量实验系统通过改变可调狭缝的大小,以此来改变样品上泵浦区域的面积,发现随着狭缝大小的改变,受激辐射光光强的大小也随着改变,从而有效验证了随机激光的理论并为相关实验提供了基础。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种用于聚合物样品测试的固化电路,尤其涉及一种聚合样品激光光谱测量实验系统,属于聚合物激光测试领域。
技术介绍
随机激光是目前激光物理领域的研究热点之一。与传统的激光器不同,随机激光无谐振腔,反馈来源于光在无序介质中的多重散射。根据反馈机制的不同,随机激光可以分为非相干反馈和相干反馈随机激光两种类型。关于随机激光的研究,理论方面主要集中于随机激光的形成机制和光学特性;实验方面侧重于实验材料的选取和实验方法的改进。目前传统的方法都存在一系列的缺点,包括:1)阈值抽运光强度依赖于激发面积,激发面种越小,要求阈值越高。当激发面积小于一个临界值时,无论抽运光多强,都不能产生随机激光;2)各个向都能观察到激光辐射,并且谱线结构随观察角度变化;3)发光区域分布不均匀,当抽运光照射到随机介质上时,形成许多发光区域,在介质的三维空间内随机分布。这种结构随着入射光强度和介质的构造而变化;4)随机激光器的纵模可以是一个,几个和多个,并且随抽运功率而增加。这纵模的频率和频率间距是随机变化的,它们随着抽运光的位置和强度发生变化。并且当抽运区域增大到一定大小时,光谱图上的受激辐射尖峰不是分本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种聚合样品激光光谱测量实验系统,其特征在于:所述聚合样品激光光谱测量实验系统主要包括泵浦光源(1)、半波片(2)、偏振片(3)、分光镜(4)、透镜(7)、能量计(9)、探测器(10)、光谱仪(11)和计算机(12),依照泵浦光发射方向依次设置激光器(1)、半波片(2)、偏振片(3)、分光镜(4)和样品(6)以及激光器(1)、半波片(2)、偏振片(3)、分光镜(4)、透镜(7)和能量计(9),探测器(10)与样品(6)连接。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:黄舒然
申请(专利权)人:黄舒然
类型:新型
国别省市:福建;35

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